[发明专利]智能卡和识别设备等的测试系统

摘要

一种用于测试智能卡芯片的自动测试系统。该系统包括同步电路系统，它允许在一个激励与模型产生器同步之后，在随机次数上产生响应信号。所述的系统具有同步电路系统中的多个路径，其允许来自在测若干设备的响应彼此同步以便平行的支持测试。该系统很好地适用于测试智能卡芯片，因为这样的芯片通常在随机的次数上响应于激励。其他包括的配置也用于测试智能卡芯片。这些配置包括用于产生调制的RF载波信号的电路和能检测在RF载波上强加的调制的信号处理电路系统，从而允许测试智能卡芯片而不对测试接入的设备进行修改。

主权项

1.一种自动测试系统，它具有一个模型产生器，用于产生应用于在测设备的激励模型，和一个期望的模型，它表示来自在测设备的期望的响应，其特征在于，所述自动测试系统包括同步电路系统，该同步电路系统具有：a)至少一个输入(401)，从在测设备(114A...114D)接收一个数据流值；b)比较器(418)，耦合到至少一个输入，当从在测设备的数据流值中检测到一个开始条件时具有一个输出(402)指示；c)缓冲电路(424)，从在测设备接收数据流值，和提供输出数据流值，它复制来自在测设备的部分数据流值，所选择的部分根据来自比较器的开始条件的指示，相对于来自在测设备的数据流值延迟一个确定的量；d)其中缓冲电路的输出流被耦合到模型产生器，用于确定在测设备是否产生期望的响应。