[发明专利]梯度磁场测量方法和MRI装置无效

专利信息
申请号: 00128751.6 申请日: 2000-09-15
公开(公告)号: CN1289053A 公开(公告)日: 2001-03-28
发明(设计)人: 宫本昭荣;押尾晃一 申请(专利权)人: 通用电器横河医疗系统株式会社
主分类号: G01R33/022 分类号: G01R33/022;G01R33/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 陈霁,张志醒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 为了精确地测量梯度磁场,施加预编码脉冲PK,在施加具有要测量的梯度波形的编码脉冲Ge的同时从FID信号中采集数据S(k,1)-S(k,T),以不同的幅值的预编码脉冲Pk重复上述步骤K次;从所采集的数据中得到具有以相位编码差ΔΦ作为角度的数据D(1,1)-D(1,T-1),D(2,1)-D(2,T-1),…,D(K,1)-D(K,T-1);将具有编码脉冲Ge的相应幅值的数据相加得到加法数据d(1)-d(T-1);从加法数据中得到梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG(T-1);累计梯度磁场差值得到梯度磁场G(1)-G(T-1)。
搜索关键词: 梯度 磁场 测量方法 mri 装置
【主权项】:
1.一种梯度磁场测量方法,包括如下步骤:当T是从一个FID信号中进行数据采集的次数并且K是等于或大于2的自然数时,施加激励RF脉冲,施加预编码脉冲Pk,在施加具有要测量的梯度波形的编码脉冲Ge的同时从FID信号中采集数据S(k,1)-S(k,T),以不同的幅值的所说的预编码脉冲Pk重复这些步骤K次;从所说的所采集的数据S(1,1)-S(1,T),S(2,1)-S(2,T),…,S(K,1)-S(K,T)中获得具有以相位编码差Δφ作为角度的数据D(1,1)-D(1,T-1),D(2,1)-D(2,T-1),…,D(K,1)-D(K,T-1);将具有所说的编码脉冲Ge的相应幅值的数据相加得到加法数据d(1)-d(T-1);从所说的加法数据d(1)-d(T-1)中得到梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG(T-1);累计所说的梯度磁场差值ΔG(1)-ΔG(T-1)得到梯度磁场G(1)-G(T-1)。
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