专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测试嵌入式存储器的存储器硬宏分区优化-CN201280054443.8有效
  • Y·佐里安;K·达宾延;G·托杰延 - 美商新思科技有限公司
  • 2012-09-18 - 2014-07-09 - G01R31/28
  • 一种被设计用于支持多种用于测试的设计(DFT)技术的存储器硬宏,具有与DFT技术和共享逻辑器件或者部件的存储器实例的功能操作关联的信号路径。该存储器硬宏包括形成功能存储器数据路径的功能输入端口和功能输出端口,该功能数据路径包括来自存储器实例的输入锁存器。该存储器硬宏还包括形成扫描数据路径的扫描输入端口和扫描输出端口,该扫描数据路径包括来自数据缓冲器电路阵列的输入锁存器和来自感测放大器阵列的输出锁存器。该存储器硬宏还包括形成BIST数据路径的BIST输入端口和BIST输出端口,该BIST数据路径包括来自数据缓冲器电路阵列的至少一个输入锁存器和来自感测放大器阵列的至少一个输出锁存器。
  • 用于测试嵌入式存储器分区优化

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