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[发明专利]随管芯级可追溯性的过程变化-CN201910793092.6在审
发明人： J·L·A·勒顿斯;W·多贝拉里;B·A·N·德里尔斯尼德;T·范沃索 -专利权人：半导体元件工业有限责任公司
申请日： 2019-08-27 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明题为“随管芯级可追溯性的过程变化”。本发明提供了用于唯一地标识集成电路的设备、系统和方法。对于至少一个实施方案，一种用于从多个集成电路中标记出给定集成电路的方法包括以下操作：将多个标识符设备制造到多个集成电路的每个集成电路上；测试多个标识符设备中的每个标识符设备以获得针对每个标识符设备的测试结果；将针对制造到每个给定集成电路上的每个标识符设备获得的每个测试结果相关联在一起以形成该给定集成电路的模拟标识符；以及将针对多个集成电路中的每个集成电路的每个模拟标识符存储在数据库中。对于至少一个实施方案，提供了一种用于标识先前根据本公开标记的集成电路的方法。还描述了使用本公开的实施方案标记的商业制品。
管芯追溯过程变化

[实用新型]集成电路-CN201621057095.1有效
发明人： R·范霍尔恩;W·多贝拉里;V·B·伊森;A·B·G·科耶特;G·吉伦 -专利权人：半导体元件工业有限责任公司
申请日： 2016-09-14 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： H01L27/02 文献下载
摘要：本公开涉及集成电路。集成电路的实现方式可以包括每个都具有阳极和阴极的一个或多个二极管，所述一个或多个二极管中的每个二极管可以与电压域耦接。一个或多个测试管脚可以与一个或多个二极管耦接。所述测试管脚可以被配置为耦接到测试器。所述一个或多个二极管可以位于一个或多个内部模拟节点上，从而检测一个或多个模拟故障的存在。所述一个或多个二极管可以配置为在所述集成电路的常规操作期间保持非激活。根据本公开的实施例，可以提供改进的集成电路，以测试集成电路中的模拟故障。
集成电路