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- [发明专利]用于暗场；相衬和衰减干涉成像系统的探测器-CN202080069640.1在审
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T·克勒;H·K·维乔雷克;G·福格特米尔
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皇家飞利浦有限公司
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2020-09-16
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2022-05-10
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A61B6/00
- 本发明涉及一种用于暗场和/或相衬干涉成像系统的探测器(10)。探测器包括多个像素(50)、多个第一探测器阵列(20)、多个第二探测器阵列(30)和处理单元(40)。多个像素以二维图案被布置。每个像素包括第一探测器阵列和第二探测器阵列。每个第一探测器阵列包括多个指状物(22)。每个第二探测器阵列包括多个指状物(32)。针对每个像素，第一探测器阵列的指状物与第二探测器阵列的指状物交替交错。针对每个像素，与入射X射线光子的相互作用可以导致在该像素的第一探测器阵列的至少一个指状物中的电荷生成，并且可以导致在该像素的第二探测器阵列的至少一个指状物中的电荷生成。针对每个像素，第一探测器阵列被配置为探测与第一探测器阵列的多个指状物相关联的累积电荷，并且第二探测器阵列被配置为探测与第二探测器阵列的多个指状物相关联的累积电荷。针对每个像素，处理单元被配置为基于具有最高累积电荷的探测器阵列将X射线相互作用事件分配给第一探测器阵列或第二探测器阵列。
- 用于暗场衰减干涉成像系统探测器
- [发明专利]具有对介入设备的三维定位的对象的X射线成像-CN201680066911.1有效
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D·谢弗;M·格拉斯;T·克勒
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皇家飞利浦有限公司
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2016-09-29
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2022-04-26
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A61B6/12
- 本发明涉及导管(12)在被布置在X射线成像装置的对象接收空间(14)处的感兴趣对象(22)内的深度定位的X射线装置(10)和方法(64)。所述X射线成像装置包括X射线源(16)和X射线探测器(20)。由相位光栅形成的至少一个干涉仪(24)被布置在X射线源与X射线探测器之间。X射线探测器被配置为探测X射线辐射，所述X射线辐射已经受相位光栅和感兴趣对象以及导管影响，所述导管也可以被布置在对象接收空间和/或感兴趣对象处。X射线探测器被配置为提供探测器信号s。探测器信号的信号分量涉及相衬探测器信号分量，所述相衬探测器信号分量可以基于探测器信号来计算并且可以表示可见性损失。已经发现，探测器信号的相应可见性损失信号分量取决于导管与相位光栅之间的距离。因此，针对导管的深度信息可以基于探测器信号的可见性损失信号分量来计算。相应地，导管在对象接收空间处的三维位置可以被计算。应注意，导管可以仅仅是可以被布置在对象接收空间处的介入设备的一个范例。效果是，介入设备(特别是导管)的三维跟踪可以根据X射线探测器信号来实现。
- 具有介入设备三维定位对象射线成像
- [发明专利]用于X射线暗场、相衬和衰减图像采集的系统和方法-CN202080059753.3在审
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T·克勒
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皇家飞利浦有限公司
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2020-08-21
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2022-04-08
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A61B6/00
- 本发明涉及一种用于X射线暗场、相衬和衰减图像采集的系统(1010)，所述系统包括：X射线源(1020)；干涉仪装置(1030)；X射线探测器(1040)；控制单元(1050)；至少一个振动换能器(1080)；处理单元(1090)；以及输出单元(1060)。轴线被定义为从所述X射线源的中心延伸到所述X射线探测器的中心。检查区域位于所述X射线源与所述X射线探测器之间，其中，所述轴线延伸通过所述检查区域，并且其中，所述检查区域被配置为使得能够定位要检查的对象。所述干涉仪装置位于所述X射线源与所述X射线探测器之间，并且其中，所述干涉仪装置包括第一光栅(1032)和第二光栅(1034)。针对第一操作模式：所述控制单元被配置为控制至少一个横向移动换能器(1070)，以在垂直于所述轴线的横向位置方向上移动所述第一光栅或移动所述第二光栅。所述控制单元被配置为控制所述X射线探测器以在所述第一光栅和/或所述第二光栅正在移动时采集图像数据。在所述X射线探测器的曝光时间期间，所述第一光栅和/或所述第二光栅已经移动了小于所述第一光栅和/或所述第二光栅的周期的距离。所述控制单元被配置为控制所述第一光栅和/或所述第二光栅的移动，使得在所述第一光栅和/或所述第二光栅正在移动时采集所述图像数据。所述输出单元被配置为输出以下各项中的一项或多项：暗场图像数据、相衬图像数据和衰减图像数据；针对第二操作模式：所述控制单元被配置为控制所述X射线探测器以在所述第一光栅和/或所述第二光栅在所述X射线探测器的曝光时间期间正在移动时采集多个图像数据中的每个图像数据。所述控制单元被配置为控制所述至少一个振动换能器以使所述第一光栅和/或所述第二光栅振动。振动的幅度大于或等于所述第一光栅和/或所述第二光栅的所述周期。所述处理单元被配置为生成衰减图像数据和/或校准数据，包括对所述多个图像数据中的至少一些图像数据的时间低通滤波版本的确定。所述输出单元被配置为输出所述衰减图像数据和/或所述校准数据。
- 用于射线暗场衰减图像采集系统方法
- [发明专利]用于X射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统-CN202080059728.5在审
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M·P·维尔梅茨;T·克勒;R·普罗克绍;F·J·普法伊费尔
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皇家飞利浦有限公司
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2020-08-17
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2022-04-01
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A61B6/00
- 本发明涉及一种用于X射线暗场、相位对比和衰减图像采集的系统(10)。所述系统包括X射线源(20)、干涉仪装置(30)、X射线探测器(40)、控制单元(50)和输出单元(60)。定义从X射线源的中心延伸到X射线探测器的中心的轴；检查区域被定位于X射线源与X射线探测器之间。所述轴延伸穿过检查区域，并且检查区域被配置为使得能够定位要被检查的对象。干涉仪装置被定位于X射线源与X射线探测器之间。所述干涉仪装置包括第一光栅(32)和第二光栅(34)。针对第一操作模式：所述控制单元被配置为控制至少一个横向移动的换能器(70)以在垂直于轴的横向位置方向上移动第一光栅或移动第二光栅。所述控制单元被配置为控制所述X射线探测器以在所述第一光栅和/或所述第二光栅移动时采集图像数据。在所述X射线探测器的曝光时间期间，所述第一光栅和/或所述第二光栅已经移动了小于所述第一光栅和/或所述第二光栅的周期的距离。所述控制单元被配置为控制所述第一光栅和/或所述第二光栅的移动，使得在所述第一光栅和/或所述第二光栅正在移动时采集图像数据。针对所述第一操作模式，所述输出单元被配置为输出以下中的一项或多项：暗场图像数据、相位对比图像数据和衰减图像数据。
- 用于射线暗场相位对比衰减图像采集系统
- [发明专利]用于X射线暗场、相衬和衰减断层合成图像采集的系统-CN202080019259.4在审
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T·克勒;A·亚罗申科;B·J·布伦德尔
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皇家飞利浦有限公司
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2020-02-27
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2021-10-22
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A61B6/00
- 本发明涉及一种用于X射线暗场、相衬和衰减断层合成图像采集的系统(10)。所述系统包括X射线源(20)、干涉仪装置(30)、X射线探测器(40)、控制单元(50)以及输出单元。第一轴线被限定为从所述X射线源的中心延伸到所述X射线探测器的中心。检查区域被定位在所述X射线源与所述X射线之间。所述第一轴线延伸穿过所述检查区域，并且所述检查区域被配置为实现要被检查的对象的位置。所述干涉仪装置被定位在所述X射线源与所述X射线探测器之间。所述干涉仪装置包括第一光栅(32)和第二光栅(34)。第二轴线被限定为垂直于关于所述第一光栅的中心和/或所述第二光栅的中心限定的平面。所述控制单元被配置为控制所述X射线源的移动和/或所述X射线探测器的移动以提供多个图像采集状态，其中，所述X射线源和所述X射线探测器被配置为能操作用于采集图像数据。针对所述多个图像采集状态中的每个图像采集状态，所述第一轴线以不同的角度延伸穿过所述检查区域。所述控制单元被配置为控制所述第一光栅在垂直于所述第二轴线的侧向位置方向上的移动或所述第二光栅在垂直于所述第二轴线的侧向位置方向上的移动。针对所述采集状态中的每个采集状态，所述第一光栅或所述第二光栅在多个侧向位置中的不同的侧向位置处。所述输出单元被配置为输出以下各项中的一项或多项：暗场图像数据、相衬图像数据，以及衰减图像数据。
- 用于射线暗场衰减断层合成图像采集系统
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