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[发明专利]用于通过多参数地检测散射光和消光信号确定颗粒特征的方法和装置-CN202180016710.1在审
发明人： D.勒奇;H.利希滕费尔德;M.胡塞尔斯;H.沃莱克;E.沃利克;M.霍尔克;M.沃尔夫;U.默滕斯 -专利权人：罗姆有限责任公司
申请日： 2021-01-04 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于借助颗粒光度学确定分散在气体和液体中的纳米和微米量级的尺寸范围的颗粒的特征参量、其数量分布和浓度的方法和装置。按照本发明这通过以下方式实现，即在光度计中针对不同数量的张角或者接收角实现散射光测量并且由所确定的散射光强度通过分析算法评估颗粒特征。在几十的尺寸范围中的颗粒特性的确定可以在不需要更换或者调整样本测量腔室的几何形状的情况下实现。按照本发明的装置包括至少一个用于产生至少一个激光束(3)的激光器(1)、至少一个用于使激光束(3)成型并且构造焦点几何形状(6)的光学输入模块(2)、有利地具有流体动力学聚焦的连续流测量单元(5)，在所述连续流测量单元中通过激光束(3)产生前向散射光束(6)和侧向散射光束(7)，处于前向散射光束(6)中的光学输出模块(8)和处于侧向散射光束(7)中的光学输出模块(9)、半透的镜子(10)、摄像机(12)、光电倍增器(11a、11b)，其中，借助光电倍增器(11a、11b)针对不同数量的张角或者接收角执行散射光测量并且由前向散射光束(6)的和侧向散射光束(7)的所确定的散射光强度通过分析算法确定颗粒特征。
用于通过参数检测散射光和信号确定颗粒特征方法装置

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