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[发明专利]用于带有扫描通道选择的高级逻辑内建自测试的系统和方法-CN200710136096.4无效
发明人： M·W·赖利;M·F·王 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2007-07-17 - 公布日： 2008-02-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：公开了一种用于带有扫描通道选择的高级逻辑内建自测试的系统和方法。LBIST控制器通过顺序或者交织加载技术将扫描模式加载进设备的扫描通道，以最小化瞬时功率需求。在交织加载期间，LBIST控制器将扫描比特加载进第一扫描链，然后加载进第二扫描链等，直到一个比特被加载进每一个扫描链。接着该LBIST控制器返回以将另一个扫描比特加载进该第一扫描通道，然后是该第二扫描通道等。在顺序加载期间，LBIST控制器将整个扫描模式加载进第一扫描链(每个时钟周期一个比特)。一旦加载该第一扫描模式，LBIST控制器开始根据每个时钟周期每个扫描通道一个比特，将后续的扫描模式加载进相应的扫描链。
用于带有扫描通道选择高级逻辑测试系统方法

[发明专利]处理误差信息和在处理器系统中注入误差的方法和装置-CN200710008235.5无效
发明人： R·C·柯斯特;M·W·赖利;T·戈洛克勒;N·P·切尔斯特罗姆 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2007-01-25 - 公布日： 2007-08-01 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：一种方法和装置被公开，其用于在处理器系统的功能单元中注入误差，以及用于观测发生在那些功能单元中的非注入误差。局部误差处理器层提供在局部级的对于所述各种功能单元的误差注入。全局故障隔离寄存器(FIR)层耦合到所述局部误差处理器层，以协调所述处理器系统的所述多个功能单元中的局部误差的处理。软件调试器应用或系统软件与所述全局FIR层通信，以控制误差处理。
处理误差信息处理器系统注入方法装置

[发明专利]控制异步时钟域以执行同步操作的装置与方法-CN200610093103.2有效
发明人： N·P·切尔斯特罗姆;M·W·赖利 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-06-21 - 公布日： 2007-04-25 - 主分类号： G06F1/12 文献下载
摘要：提供了用于控制异步时钟域执行同步操作的装置和方法。利用该系统和方法，当要在芯片上执行同步操作的时候，芯片功能元件的锁存器受同步时钟控制，从而锁存器被同步控制，即使这跨越了芯片的异步边界。同步操作随后可以被执行，并且芯片的功能元件在同步操作完成之后被返回到由本地时钟以异步方式控制。该同步操作例如可以是上电复位(POR)操作、制造测试序列、调试操作等。
控制异步时钟执行同步操作装置方法

[发明专利]用于多用途eFuse宏的系统和方法-CN200610141841.X有效
发明人： M·W·赖利;T·S·戈登 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-09-30 - 公布日： 2007-04-11 - 主分类号： G11C17/18 文献下载
摘要：一种用于多用途eFuse宏的系统和方法。一种设备，包括多路复用器和选择逻辑电路，其使得eFuse锁存器除了编程电子熔丝以外还可以存储辅助数据。多路复用器和选择逻辑电路耦合到eFuse锁存器的输入和输出，并且由处理单元或者外部测试器来控制。当测试器希望编程或者更新eFuse元件(电子熔丝)时，将多路复用器和选择逻辑电路配置成“eFuse”模式，该模式使得eFuse控制器可以将程序数据和控制数据提供给eFuse锁存器，然后该eFuse锁存器又对eFuse元件进行编程。当该设备需要其它存储时，将多路复用器和选择逻辑电路配置成“辅助数据”模式，该模式使得处理单元可以在eFuse锁存器中存储和检索数据。
用于多用途 efuse 系统方法

[发明专利]用于在集成电路装置上存储阵列冗余数据的装置和方法-CN200610088545.8有效
发明人： M·W·赖利 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2006-06-02 - 公布日： 2006-12-20 - 主分类号： G11C29/24 文献下载
摘要：提供了一种使用单组电熔丝(eFuses)连续地存储由多个测试阶段获得的测试数据的装置和方法。为了在相同eFuses组中编码和存储来自每个后续测试的阵列冗余数据，使用扫描链上的锁存器，保持用于每个eFuse的编程信息。所述锁存器允许在每个测试阶段过程中仅仅编程部分eFuses。而且，在eFuses中编程的数据可以被检测和读出作为扫描链的一部分。因此，可以容易地确定eFuses组的哪些部分已被先前测试阶段编程和在哪里开始将下一组数据编程到eFuses组中。结果，单组eFuses存储来自多个测试阶段的多组数据。
用于集成电路装置存储阵列冗余数据方法