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- [发明专利]方法和坐标测量机-CN202310087722.4在审
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M·芬凯尔蒂;J·默克特
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科令志因伯格有限公司
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2023-01-28
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2023-08-01
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G01B5/16
- 本发明涉及一种方法，具有如下方法步骤：在坐标测量机上提供带齿构件，坐标测量机具有用于测量带齿构件的几何特征的第一传感器、用于测量带齿构件的几何特征的第二传感器和运动轴，以实施测量运动以在带齿构件上采集测量值；借助于第一传感器和/或第二传感器对带齿构件的几何特征进行第一测量，如齿距、齿面的齿面线、齿面的轮廓线，实施第一相对测量运动以移动经过第一测量路径，采集一个或多个第一测量值以确定几何特征；借助于第一传感器和/或第二传感器对带齿构件的几何特征进行第二测量，实施第二相对测量运动以移动经过第二测量路径，采集第二测量值以确定几何特征；在考虑由第一测量已知的轴位置的情况下评估第二测量。
- 方法坐标测量
- [发明专利]光学测量方法-CN202010201039.5在审
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M·芬凯尔蒂
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科令志因伯格有限公司
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2020-03-20
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2020-09-29
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G01B11/24
- 一种用于对工件上的至少一个被测对象进行光学测量的方法，包括以下方法步骤:提供待测量的工件(2,42)，其中，工件(2,42)包括循环对称的几何形状(4)，例如齿部或类似形状；指定所述工件(2；42)上至少一个待测量的被测对象；提供具有光学测量系统(8)的测量装置(6)，光学测量系统(8)用于工件(2,42)上的被测对象进行非接触测量，其中光学测量系统具有光学传感器(18)；使用光学测量系统(8)在工件(2,42)上测量至少一个待测量的被测对象；提供待测量工件(2,42)的至少一个几何参数；和基于工件(2,42)上至少一个待测量的被测对象和/或待测量工件(2,42)的至少一个几何参数，确定用于执行光学测量的至少一个测量参数。
- 光学测量方法
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