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- [发明专利]用于表征具有集成天线阵列的待测设备的紧凑型系统-CN201710499798.2有效
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G·D·凡维吉伦
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是德科技股份有限公司
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2017-06-27
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2021-10-15
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H04B17/11
- 提供了一种用于表征包括集成天线阵列(115,215,315)的待测设备(DUT)(110,210,310)的系统(100,200,300)。该系统包括具有第一和第二焦平面(121,221；122,222；321,322)的光学子系统(120,220,320)，其中，集成天线阵列基本位于光学子系统的第一焦平面。该系统还包括具有基本上位于光学子系统的第二焦平面的一个或多个阵列元件(131‑139,235‑1–235‑M)的测量阵列(130,230,330)，所述测量阵列配置为接收经由光学子系统从集成天线阵列发射的信号。所述集成天线阵列的远场辐射图案在所述测量阵列处形成，使得能够在所述测量阵列中的所述一个或多个阵列元件的每个阵列元件处实质上同步测量DUT参数。
- 用于表征具有集成天线阵列设备紧凑型系统
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