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[发明专利]测试数字电路的方法、装置和产品-CN201610237561.2有效
发明人： D·雅凯;D·菲安 -专利权人：意法半导体（格勒诺布尔2）公司
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明的各个实施例涉及测试数字电路的方法、装置和产品。一种数字电路包括：将数据加载到该数字电路中以及将数据从该数字电路卸载的扫描链，耦合到该扫描链并当指示该数字电路的预测试状态的数据经由该扫描链从该数字电路卸载时基于该数据生成第一数字签名的校验电路装置。当测试完成时，该数据经由该扫描链再存储到该数字电路。当该数据加载到该数字电路中时，该校验电路装置生成第二数字签名。将该第一数字签名与该第二数字签名进行比较，以验证该过程的完整性。可以当卸载该数据时，将特定数据模式加载到该扫描链中。可以监视该扫描链的输出，以检测该模式，以及可以基于何时检测到该模式，生成错误信号。
测试数字电路方法装置产品

[发明专利]用于管理逻辑部件的测试模式的操作的方法-CN201580033930.X在审
发明人： J-M·达维奥;P·罗彻;D·菲安 -专利权人：意法半导体（格勒诺布尔2）公司;意法半导体（克洛尔2）公司
申请日： 2015-05-28 - 公布日： 2017-03-01 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本公开实施例涉及用于管理逻辑部件的测试模式的操作的方法。设备(5)包括集成电路，集成电路包括N个触发器(1‑4)的集合，该N个触发器经由它们的测试输入(ti)和它们对应的测试输出(tq)串联耦合以形成N个触发器(1‑4)的链。设备(5)包括控制电路(7)，被配置为在触发器(1‑4)的正常操作模式之后将N个触发器(1‑4)置于测试模式，其中链的第一触发器(1)的测试输入(ti)用于接收测试位的第一序列；存储器(6)，被配置为存储由链中的最后一个触发器(4)的测试输出(tq)传送的N个值的序列，控制电路被配置为向链的第一触发器(1)的测试输入(ti)传送N个存储值的序列，以恢复N个触发器在置于测试模式之前的状态。
用于管理逻辑部件测试模式操作方法