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- [发明专利]量度地层密度及地层光电因素的方法和仪器-CN98104498.0无效
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C·斯托勒;D·C·麦基翁;N·I·威杰西埃凯拉;P·D·赖特;U·达斯古普塔
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施卢默格海外有限公司
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1998-02-19
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1998-09-09
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G01V5/00
- 本发明是使用伽马探测器组合决定地层密度和光电因素的改善方法及工具。在本发明中,准直的探测器在地层内有不同的调查深度。在小的间隙中,一个短距(SS)的探测器,主要是调查泥与泥饼,及地层的浅层。与SS不同,中间间距(MS)的探测器,有更深的调查深度,即使间隙加深,对钻孔和地层仍然敏感。一个长间距(LS)的探测器,主要是地层密度敏感;其密度读数,可用MS与SS探测器的间隙资料,予以改正。
- 量度地层密度光电因素方法仪器
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