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[实用新型]一种半导体烘箱氮气调节装置-CN201520300176.9有效
发明人：彭勇;王明辉;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪 -专利权人：池州华钛半导体有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-11-11 - 主分类号： F26B21/14 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体烘箱氮气调节装置，包括箱体、前门、支架、内胆、进气接口、氮气调节阀、进气管、出气接口、出气管、风机、托盘，工作时，直线电机通过丝杠带动阀芯做直线运动，使得氮气通过氮气调节阀进入内胆与箱体之间的空腔内，由于内胆设置有氮气吹入孔，氮气通过氮气吹入孔进入内胆内部，同时风机工作，使得氮气在内胆内部由下而上经过每个半导体后被排出箱体。该装置结构简单，调节直线电机转动角度可以调剂氮气进气量，从而实现氮气进气量调节，均匀分布在内胆内壁左右两侧的氮气吹入孔使得内胆内氮气均匀分布，有效保护半导体，大大提高成品合格率，提高经济效益。
一种半导体烘箱氮气调节装置

[实用新型]一种用于WB机焊接不良自动标记装置-CN201520300490.7有效
发明人：彭勇;王明辉;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪 -专利权人：池州华钛半导体有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-11-04 - 主分类号： B41J3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于WB机焊接不良自动标记装置，包括工作台、行走组件、记号组件、送料组件，工作时，当WB发现晶圆体焊接不良时，将不良品对应的坐标进行记录，程序根据坐标，转换成第一电机转动角度，第一电机通过同步带驱动带动记号组件移动到对于的横坐标点，同时，程序根据坐标，转换成第三电机转动角度，第三电机通过丝杠驱动送料板移动到对于的纵坐标，移动指定坐标位置后，第二电机动作，第二电机通过凸轮和顶杆，将对应的晶圆体进行标记。该装置结构简单，自动标记不合格品，简化生产流程，降低操作人员劳动强度，提高生产效率和产品合格率。
一种用于 wb 焊接不良自动标记装置

[实用新型]一种半导体检验自动标记装置-CN201520300277.6有效
发明人：彭勇;王明辉;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪 -专利权人：池州华钛半导体有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-11-04 - 主分类号： B25H7/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体检验自动标记装置，包括显微镜、检验平台、底座、移动板、直线电机、丝杠、标记组件，直线电机通过丝杠带动移动板做直线运动，设定直线电机转动角度，使得每操作一下第一按钮或第二按钮，移动板带动显微镜移动的距离等于两个晶圆体之间间距，当操作人员发现有焊线不合格的晶圆体时，按下第三按钮，直线电机带动标记组件移动至焊线不合格的晶圆体正上方，气缸带动标记笔向下移动对晶圆体进行标记，当标记笔触发行程开关后，气缸带动标记笔向上运动，同时直线电机带动移动板返回至初始位置。该装置结构简单，自动对焊线不合格的晶圆体进行标记，操作人员不会发生漏标记或重复标记，大大降低操作人员劳动强度。
一种半导体检验自动标记装置

[实用新型]一种IC放置管自动插塞装置-CN201520300251.1有效
发明人：彭勇;王明辉;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪 -专利权人：池州华钛半导体有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-10-28 - 主分类号： B65B61/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种IC放置管自动插塞装置，包括机架、放置板、放置槽、升降气缸、振动盘、直振、送料轨道、放料板、压力传感器、推料气缸，工作时，将塞头倒入振动盘内，IC放置管依次放入放置槽内，振动盘工作，将塞头依次输送至送料轨道，通过直振的振动，将塞头按顺序依次送至放料板，当压力传感器达到设定值，振动盘和直振停止动作，推料气缸推动放料板向放置槽移动，并将塞头推入IC放置管内，当插塞动作完成后，推料气缸回程，升将气缸推动升降板将插塞完成的IC放置管举升，操作人员将已插塞完成的IC放置管取下即可。该装置结构简单，能大大提高生产效率，大幅度降低操作人员劳动强度。
一种 ic 放置自动装置

[实用新型]一种半导体自动进给检验平台-CN201520300206.6有效
发明人：彭勇;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪;其他发明人请求不公开姓名 -专利权人：池州华钛半导体有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-10-28 - 主分类号： B65G25/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜、纵向进给组件、横向进给组件，进一步的，所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮，所述的第一按钮控制第一伺服电机正转，所述的第二按钮控制第一伺服电机反正，所述的第三按钮控制第二伺服电机正转，所述的第四按钮控制第二伺服电机反转，通过设定按下第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮的顺序进行检验可保证每个半导体都被检验，不会发生漏检和重复检验，降低操作人员劳动强度，提高生产效率。
一种半导体自动进给检验平台

[发明专利]一种半导体自动进给检验平台-CN201510236803.1在审
发明人：彭勇;王明辉;李宏图;赵从寿;陶佩;周根强;石永洪 -专利权人：池州华钛半导体有限公司
申请日： 2015-05-11 - 公布日： 2015-09-23 - 主分类号： B65G25/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体自动进给检验平台，包括底座、显微镜、纵向进给组件、横向进给组件，进一步的，所述的底座上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮，所述的第一按钮控制第一伺服电机正转，所述的第二按钮控制第一伺服电机反正，所述的第三按钮控制第二伺服电机正转，所述的第四按钮控制第二伺服电机反转，通过设定按下第一按钮、第二按钮、第三按钮、第四按钮的顺序进行检验可保证每个半导体都被检验，不会发生漏检和重复检验，降低操作人员劳动强度，提高生产效率。
一种半导体自动进给检验平台