专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]微阵列芯片规模化生产的质检方法及制备方法-CN202110579371.X在审
  • 田克恭;张继颖;张许科 - 洛阳中科生物芯片技术有限公司
  • 2021-05-26 - 2022-11-29 - G01N21/84
  • 本发明涉及微阵列芯片规模化生产的质检方法,包括:步骤1)将纳米膜置于洁净环境下,湿度<20%、温度23℃~25℃条件下一段时间使纳米膜充分平衡;步骤2)配制点样液,现配现用;步骤3)将步骤1)充分平衡后的所述纳米膜置于点样仪内,用所述步骤2)所述点样液逐一点样于所述纳米膜的质检点,每孔内质检点不少于2个,20nl/点;步骤4)将步骤3)点样后的纳米膜装入配套夹具,置于工业相机镜头下,用工业相机逐孔拍照,用软件对各质检点进行直径测定并导出;步骤5)分析所述纳米膜上各质检点的直径数据,计算所述纳米膜上质检点直径的总体标准差、中位数和极差,总体标准差≤5%、中位数460μm~480μm、极差≤30μm为质检合格的纳米膜。
  • 阵列芯片规模化生产质检方法制备

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