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- [发明专利]一种检测方法及检测系统-CN202210254782.6在审
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陈鲁;王南朔;张晨雨;马砚忠;张嵩
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深圳中科飞测科技股份有限公司
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2022-03-15
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2023-09-22
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G01B11/06
- 本发明提供一种检测方法及检测系统，其中检测方法包括：通过第一检测光获取第一信号光，第一检测光包括第一波长范围及第二波长范围；通过第二检测光获取第二信号光，第二检测光包括第二波长范围且不包含第一波长范围；对第一补偿处理之后的第一检出信息与第二检出信息进行第一差值处理，获取第一波长范围内各波长的第一信号光的光学特征与第二信号光的光学特征的第一差值与波长的对应关系，得到第一波长范围的第一差值检出信息；根据第一差值检出信息获取组合检出信息；根据组合检出信息获取待测物的待测信息。本发明能够消除第二波长范围的检测光对第一波长范围检测光的串扰，进而得到不具有串扰时第二波长范围的检出信息，进而能提高检测精度。
- 一种检测方法系统
- [外观设计]积木-CN202230734334.7有效
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李勋宸;许晓燕;张晨雨
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江汉大学
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2022-11-04
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2023-08-29
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21-01
- 1.本外观设计产品的名称：积木。2.本外观设计产品的用途：用于作为玩具，供人拼接或玩耍。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：组件21立体图。5.组件1后视图与组件1主视图相同，省略组件1后视图；组件1仰视图与组件1俯视图相同，省略组件1仰视图；组件3后视图与组件3主视图相同，省略组件3后视图；组件3仰视图与组件3俯视图相同，省略组件3仰视图；组件3右视图与组件3左视图相同，省略组件3右视图；组件4右视图与组件4左视图相同，省略组件4右视图；组件5后视图与组件5主视图相同，省略组件5后视图；组件5仰视图与组件5俯视图相同，省略组件5仰视图；组件5右视图与组件5左视图相同，省略组件5右视图；组件6后视图与组件6主视图相同，省略组件6后视图；组件6右视图与组件6左视图相同，省略组件6右视图；组件7仰视图与组件7俯视图相同，省略组件7仰视图；组件9后视图与组件9主视图相同，省略组件9后视图；组件9仰视图与组件9俯视图相同，省略组件9仰视图；组件9右视图与组件9左视图相同，省略组件9右视图；组件11后视图组件11主视图相同，省略组件11后视图；组件11仰视图与组件11俯视图相同，省略组件11仰视图；组件11右视图与组件11左视图相同，省略组件11右视图；组件12后视图与组件12主视图相同，省略组件12后视图；件12右视图与组件12左视图相同，省略组件12右视图；组件13后视图与组件13主视图相同，省略组件13后视图；组件15后视图与组件15主视图相同，省略组件15后视图；组件16后视图组件16主视图相同，省略组件16后视图；组件16右视图与组件16左视图相同，省略组件16右视图；组件17后视图组件17主视图相同，省略组件17后视图；组件17右视图与组件17左视图相同，省略组件17右视图。组件21后视图组件21主视图相同，省略组件21后视图；组件21右视图与组件21左视图相同，省略组件21右视图；组件22后视图组件22主视图相同，省略组件22后视图；组件22右视图与组件22左视图相同，省略组件22右视图。
- 积木
- [发明专利]一种基于半导体纳米片的光电传感器-CN202310228988.6在审
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张雷;黄智斌;徐宇航;杨悦;王艺杰;张晨雨;由毅;万浩兰;曹诗婷
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南通大学
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2023-03-10
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2023-06-06
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H01L33/28
- 本发明公开一种基于半导体纳米片的光电传感器，光电传感器采用ZnO溶胶修饰的全无机CdSe/CdS核壳纳米片作为发光介质层。首先，利用胶体化学法制备CdSe/CdS核壳纳米片，然后利用无机ZnO溶胶对核壳纳米片表面改性，得到纳米片溶液；其次，在石英ITO电极基板上滴加纳米片溶液，通过设置不同旋涂转速制备相应厚度的纳米片介质层，然后进行高温退火处理；测量电导率，优化纳米片介质层厚度；然后重复上述步骤（2），来制备最优化纳米片发光介质层；最后利用电子束热蒸发镀膜机在最优纳米片介质层表面镀制银电极，构成完整的纳米片光电传感器。本发明以无机ZnO溶胶进行表面修饰，ZnO溶胶能够改善纳米片周围有机配体不导电特性，从而达到明显的光电传感特性。
- 一种基于半导体纳米光电传感器
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