专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学交换器-CN201810377288.2有效
  • 陈朝荣;黄玉年;吴坤宪;李国玮 - 广达电脑股份有限公司
  • 2018-04-25 - 2020-07-14 - G02B6/42
  • 本发明公开了一种用于光学交换器的收发器支架和散热器组件。收发器支架具有开放的前端以及相对的后端,其中开放的前端用以接收光学收发器。前端散热器安装在收发器支架上,其包括热界面材料以接触光学收发器的接触表面。印刷电路板具有连接器电子电路以接收光学收发器上的连接器。后端散热器具有一个面向收发器支架后端的斜面。前端散热器中的凸轮结构使收发器与前端散热器接触。金属箔层覆盖在热界面材料上。
  • 光学交换
  • [发明专利]锗硅工艺中颗粒缺陷的检测方法-CN201911106619.X在审
  • 陈守钧;吴坤宪;周思敏 - 上海华力集成电路制造有限公司
  • 2019-11-13 - 2020-02-28 - H01L21/66
  • 本申请公开了一种锗硅工艺中颗粒缺陷的检测方法,属于半导体制造技术,该方法包括:提供一硅衬底,所述硅衬底上制作有带有侧墙的栅极结构;在所述栅极结构两侧的区域制作沟槽;在沟槽内生成锗硅外延层;通过薄膜淀积工艺生长间隙层,所述间隙层在所述锗硅外延层的上方;检测颗粒缺陷,所述颗粒缺陷由生成所述锗硅外延层的工艺造成;解决了在锗硅当站因机台检验极限的限制,极微小颗粒缺陷的检出率不高的问题;达到了提高颗粒缺陷的检出率,降低了检验失效率和成本损失的效果。
  • 工艺颗粒缺陷检测方法
  • [实用新型]投币式望远镜-CN98205810.1无效
  • 吴坤宪 - 吴坤宪
  • 1998-06-05 - 1999-08-25 - G07F17/02
  • 一种投币式望远镜,主要包含座体、承接座及望远镜箱所构成,于座体顶端的接合面一角落设有固定轴,其余周缘旁则分别设有凸缘、凸柱及栓孔,而对应于上述承接座的承接面设有一轴孔,上述固定轴穿设入轴孔,凸缘、凸柱嵌入卡固一具有定位孔的定位部以及一具有嵌槽的止挡部,承接座内对应于栓孔处则设有防盗锁,其对应于承接座表面具有钥匙孔,其锁栓可穿固于栓孔内。本实用新型结构合理简单,使用方便,防盗性能好。
  • 投币式望远镜

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