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[发明专利]存储设备-CN202211539848.2在审
发明人：李庚德;千允洙 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G11C7/04 文献下载
摘要：存储设备包括非易失性存储器，每个非易失性存储器包括内部温度传感器；存储器控制器，被配置为具有为不同温度定义的多个操作命令和外部温度传感器。存储器控制器在第一频率中从外部温度传感器获得外部温度值，在不同于第一频率的第二频率中获得内部温度传感器的内部温度值，当外部温度值和内部温度值之间的差异等于或小于第一阈值时，基于外部温度值确定目标非易失性存储器的温度范围，当差异超过第一阈值时，基于内部温度值确定温度范围，并向目标非易失性存储器提供对应于温度范围的操作命令。
存储设备

[发明专利]非易失性存储器装置、操作控制器和操作存储装置的方法-CN202210361598.1在审
发明人：车相守;李世雄;千允洙 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2022-04-07 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G11C16/26 文献下载
摘要：提供了非易失性存储器装置、操作控制器和操作存储装置的方法。所述操作控制器的方法包括：根据来自主机的读取请求，将第一命令随机地发送到非易失性存储器装置；从非易失性存储器装置接收与第一命令对应的第一读取数据；确定第一读取数据的第一错误位的数量是否大于第一参考值；当第一错误位的数量不大于第一参考值时，确定第一错误位的数量是否大于第二参考值；当第一错误位的数量大于第二参考值时，将目标字线存储在健康缓冲器中；将第二命令周期性地发送到非易失性存储器装置；以及从非易失性存储器装置接收与第二命令对应的第二读取数据。
非易失性存储器装置操作控制器存储方法

[发明专利]存储装置、其操作方法以及电子装置的操作方法-CN202111230654.X在审
发明人：卢海东;全有珍;尹慧智;成宗泽;白埈杰;千允洙 -专利权人：三星电子株式会社;高丽大学校产学协力团
申请日： 2021-10-22 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G11C16/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种包括非易失性存储器装置和存储器控制器的存储装置，并且该存储装置的操作方法包括：在存储器控制器处将第一读取命令和第一偏移信息发送到非易失性存储器装置；在非易失性存储器装置处基于第一读取命令和第一偏移信息来执行第一读取操作；在非易失性存储器装置处将第一读取操作的结果作为第一数据发送到存储器控制器；在存储器控制器处将第二读取命令、读取电压电平和第二偏移信息发送到非易失性存储器装置；在非易失性存储器装置处基于第二读取命令、读取电压电平和第二偏移信息来执行第二读取操作；以及在非易失性存储器装置处将第二读取操作的结果作为第二数据发送到存储器控制器。
存储装置操作方法以及电子

[发明专利]存储器件、包括存储器件的储存设备和操作储存设备的方法-CN202111147320.6在审
发明人：安浩圣;千允洙 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2021-09-28 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：提供了一种操作用于控制包括多个存储单元块在内的存储器件的控制器的方法，该方法包括：基于存储单元块中的每一个的可靠性信息来输出块地址信息；将巡查读取命令提供给存储器件；以及控制存储器件响应于巡查读取命令执行巡查读取操作，其中，块地址信息包括基于可靠性信息的针对存储单元块的巡查读取操作的顺序。
存储器件包括储存设备操作方法

[发明专利]存储装置和控制存储装置的方法-CN202010880062.1在审
发明人：朴相龙;李秀雄;千允洙 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2020-08-27 - 公布日： 2021-04-13 - 主分类号： G11C16/30 文献下载
摘要：提供了一种存储装置和控制存储装置的方法。所述存储装置包括：存储器；以及存储器控制器，将命令发送到存储器。存储器包括：至少一个存储器单元阵列；存储器温度传感器，测量存储器的温度；以及控制逻辑。控制逻辑响应于所述命令而输出忙碌信号，响应于所述命令从存储器温度传感器接收存储器的温度，并且基于接收的存储器的温度来确定是否对存储器单元阵列执行根据所述命令的命令操作。
存储装置控制方法

[发明专利]操作存储设备的方法、存储设备及包括其的存储系统-CN202010439690.6在审
发明人：李庚德;千允洙;李地花 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2020-05-22 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G11C7/04 文献下载
摘要：一种操作包括多个非易失性存储器的存储设备的方法，多个非易失性存储器中的每一个非易失性存储器包括温度传感器，该方法包括：检查是否已经达到多个非易失性存储器的预定温度检查周期；响应于检查结果，使用温度传感器监控多个非易失性存储器中的至少一些非易失性存储器的温度信息；基于监控的温度信息，通过应用温度加速条件来获得多个非易失性存储器的待机时间信息；以及基于监控的温度信息和获得的待机时间信息中的至少一个，改变操作多个非易失性存储器中的每一个非易失性存储器所需的多个驱动参数中的至少一个驱动参数。
操作存储设备方法包括存储系统

[发明专利]非易失性存储器设备及其编程方法-CN202010528328.6在审
发明人：安浩圣;千允洙 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2020-06-11 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G11C5/14 文献下载
摘要：本文提供了非易失性存储器设备及其编程方法。所述非易失性存储器设备包括存储单元阵列，该存储单元阵列包括具有第一字线的多条字线和连接到所述第一字线的多个存储单元。所述多个存储单元包括多个监视单元和多个数据单元，每个数据单元被配置为存储N位数据，N为自然数。所述非易失性存储器设备被配置为对所述多个数据单元执行第一编程，并且在执行所述第一编程之后，对所述一个或多个监视单元执行与所述第一编程不同的检测编程。
非易失性存储器设备及其编程方法