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[发明专利]一种原位谱学表征系统-CN202110164327.2有效
发明人：崔义;丁丁;李浩;龚忠苗 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01N23/2273 文献下载
摘要：本发明公开了一种原位谱学表征系统，包括第一样品处理室、样品分析室和可移动的样品承载台，第一样品处理室和样品分析室之间设置有第一管道，样品承载台通过第一管道在第一样品处理室和样品分析室之间进行样品传送；其中，第一样品处理室包括第一抽真空装置，能够使样品在真空环境下进行传送。本发明解决了将处理后的样品转入XPS样品分析室时，空气中水汽和氧气会干扰分析结果的问题。
一种原位表征系统

[发明专利]一种转移真空样品托及真空互联系统-CN202010633584.1在审
发明人：陈志敏;丁孙安;龚忠苗;陆晓鸣;魏伟;王利;凌小伦 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2020-07-02 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种转移真空样品托，包括第二托体组件和热电偶，第二托体组件上开设有容纳槽和设于容纳槽两相对侧的一对第二插槽，两个第二插槽的延伸方向相同并与容纳槽连通，热电偶固定在第二托体组件上并位于容纳槽的第一端；热电偶延伸至容纳槽下方，用于在小样品托的宽度方向的两侧自容纳槽的第二端插入第二插槽时，与小样品托接触。本发明还公开了一种真空互联系统。本发明的转移真空样品托具有供小样品托插入并固定的功能，可同时应用于近常压扫描隧道显微镜和低温扫描隧道显微镜中，并且可在小样品托插入转移真空样品托后使得热电偶与小样品托自动接触，从而实现样品温度的检测，实现了两种不同扫描隧道显微镜之间样品的传递和真空互联。
一种转移真空样品联系

[发明专利]一种紧凑型超高温加热台及高温加热设备-CN202110990364.9在审
发明人：李浩;丁丁;魏伟;龚忠苗 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2021-08-26 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： C30B33/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种紧凑型超高温加热台及设备，该超高温加热台包括安装法兰、两根支撑杆和样品台，每根支撑杆的一端连接样品台，另一端固定在安装法兰上；样品台内置加热源，以对样品台上的样品加热；每根支撑杆的内部中空而形成冷却液通道，样品台内开设有同时连通两个冷却液通道的空腔，两根支撑杆的伸出安装法兰的端部分别为冷却液的进口和出口。本发明的支撑杆兼做水冷管，利用其将样品台固定在安装法兰上的同时，还提供冷却液的传输通道，使得超高温的样品台可以安装在尺寸更小的法兰基座上，有利于提高结构的紧凑性。与此同时，本发明还采用电子束反射聚焦结构，提高了加热效率，实现达到2000K高温指标的同时满足CF35等小尺寸法兰安装的要求。
一种紧凑型超高温加热高温设备

[发明专利]真空互联样品转移组件-CN202010541358.0在审
发明人：陈志敏;丁孙安;陆晓鸣;龚忠苗;丁丁;陈肖;张亚宾 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2020-06-12 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： G01N35/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种真空互联样品转移组件，包括基座、卡座、抵持组件以及将卡座和抵持组件固定在基座上的固定板组件；卡座呈U形，包括一对间隔设置的导向臂，每个导向臂开设有沿其长度延伸且贯穿其自由端端面的导向孔；抵持组件包括两个分别位于一对导向臂外侧的弹性的抵持部，抵持部弹性抵接在导向臂外侧且接触导向孔边沿；固定板组件上开设有供转移样品的压杆压紧的转移孔。由于样品托可以沿着本发明的导向臂上开设的导向孔滑入，并受到导向臂外侧的弹性的抵持部的抵接，实现了样品托在多个方向上的限位，可以避免发生晃动，使得真空互联样品转移组件可以兼容两寸样品托，从而实现了不同设备间的样品传输。
真空样品转移组件

[发明专利]一种对接传样装置及光学系统-CN202110956472.4在审
发明人： 龚忠苗;李浩;陈志敏;刘宏伟;崔义 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01Q60/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种对接传样装置，用以与真空型扫描近场光学显微镜对接并进行传样，该装置包括：转接腔体，与所述真空型扫描近场光学显微镜的真空腔连通，并可与所述真空腔一同被抽至真空；真空转移仓，与所述转接腔体相匹配，用于将样品从另一真空环境或气氛保护下转移至所述转接腔体内，并在样品转移至所述转接腔体后与所述转接腔体密封连接；传样杆，与所述转接腔体连接，所述传样杆的前端设置有用于抓取样品的抓取头，所述抓取头用于伸入所述转接腔体内，并在所述真空转移仓打开后抓取样品，并将样品转移至所述真空腔内的样品台上。本发明具有结构简单、操作方便、通用性强、成本低的优点。
一种对接装置光学系统

[发明专利]近常压XPS系统的检测与维护方法-CN201910056860.X有效
发明人：崔义;王睿;龚忠苗;赵常保 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2019-01-22 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G01N23/2273 文献下载
摘要：本发明提供一种近常压XPS系统的检测与维护方法，所述检测与维护方法包括步骤：将反应腔体中的粉末样品对准近常压XPS系统的信息采集口，对粉末样品进行检测；待检测完成后，调节反应腔中的气压和/或采集腔中的气压，使得采集腔中的气压大于反应腔中的气压，以将信息采集口和采集腔中的粉末吸附至反应腔中，采集腔与信息采集口连通。本发明提出的近常压XPS系统的检测与维护方法在对粉末样品进行检测完后，通过调节所述反应腔中的气压和/或采集腔中的气压，使得所述采集腔中的气压大于所述反应腔中的气压，利用所述采集腔与所述反应腔之间的气压差来将所述信息采集口和所述采集腔中的粉末样品吸附至所述反应腔中，简化了清除过程，提升了清除效率。
常压 xps 系统检测维护方法