专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种红外偏振图像质量评价方法和采集系统-CN202210769701.6有效
  • 刘建东;夏寅辉;魏冉峰;王霞;高山 - 北京东宇宏达科技有限公司
  • 2022-07-01 - 2023-07-28 - G06V10/98
  • 本发明涉及一种红外偏振图像质量评价方法和采集系统,所述方法包括:对红外强度图像进行分析以得到红外偏振图像,并基于所述红外偏振图像建立灰度图像库,通过主观评价指标分别对所述灰度图像库中的所有所述红外偏振图像进行评价并获得主观评价数据,并建立主观评价模型;通过客观评价指标分别对所述灰度图像库中的所有所述红外偏振图像进行评价并获得客观评价数据,基于所述主观评价数据和所述客观评价数据建立关联模型,所述关联模型具有所述主观评价指标和所述客观评价指标之间的映射关系;本发明可以有效的将主观评价和客观评价的数据结合,对图像的质量作出快速的评价并且更方便的显示出个评价指标的数值。
  • 一种红外偏振图像质量评价方法采集系统
  • [发明专利]一种背景杂波干扰下热成像性能的测试系统-CN202210468200.4有效
  • 夏寅辉;刘建东;王霞;高山;魏冉峰 - 北京东宇宏达科技有限公司
  • 2022-04-29 - 2023-07-28 - G01J5/90
  • 本申请提出一种背景杂波干扰下热成像性能的测试系统,包括:背景杂波生成组件、靶标生成组件、准直组件、热像仪和测控组件;背景杂波生成组件将第一路红外光与背景杂波调制第一图像;通过靶标生成组件反射所述第一图像得到背景辐射;将所述第二路红外光通过靶板透射产生目标辐射,一起出射;通过所述准直组件的调制获得平行辐射;所述热像仪将所述平行辐射显示为杂波下的靶标图案;测控组件根据所述第二温差和所述靶标图案确定最小可分辨温差的值,在所述最小可分辨温差的值等于或低于设定的阈值时,所述热像仪热成像性能性能为优。本申请能够提升复杂背景下热成像仪的性能和应用能力,建立背景杂波干扰下热成像仪性能测试方法和标准。
  • 一种背景干扰成像性能测试系统
  • [发明专利]一种红外图像质量综合评价系统和方法-CN202210689804.1有效
  • 高山;刘建东;魏冉峰;王霞;夏寅辉 - 北京东宇宏达科技有限公司
  • 2022-06-17 - 2023-04-07 - G06T7/00
  • 本申请提出一种红外图像质量的综合评价系统,包括:噪声叠加模块,用于在红外图像中叠加噪声,获得噪声图像;图像增强模块,用于对噪声图像滤波去噪,增强对比度,获得校正图像;非匀性评价模块,用于采用非绝对衡量指标和/或绝对衡量指标对所述噪声图像和校正图像进行评价,获得非均匀性评价得分;增强效果评价模块,用于采用基本评价指标和无参考评价指标进行对所述校正图像进行评价,获得增强效果得分;凸显程度评价模块,用于采用目标全局凸显程度值和目标局部凸显程度值对所述校正图像进行评价,获得凸显程度评得分。本申请实现了不同处理任务下对红外图像进行系统评价的目的,该方法评价效果良好。
  • 一种红外图像质量综合评价系统方法

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