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[发明专利]微粒测定装置-CN201110199688.7有效
发明人：外石满;濑尾胜弘;高崎浩司;山田晋司;福本敦 -专利权人：索尼公司
申请日： 2011-07-15 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明公开了一种微粒测定装置。该微粒测定装置包括滤光器，该滤光器被分成多个区域且设置在光路上，在该光路上从用光照射的微粒发出的光被引导至光检测器。在该微粒测定装置中，该滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，该第一区域通过波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光；以及第二区域，至少设置在该第一区域周围且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。
微粒测定装置

[发明专利]光照射设备和控制方法-CN201010138376.0无效
发明人：山川明郎;冈本好喜;田中健二;德山一龙;高崎浩司 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-03-22 - 公布日： 2010-12-15 - 主分类号： G11B7/125 文献下载
摘要：本发明涉及光照射设备和控制方法。该光照射设备包括：聚焦伺服控制单元，其包括光源、空间光调制单元以及光照射单元，所述聚焦伺服控制单元用于聚焦伺服控制，使得经由所述物镜的光的理想聚焦位置被设定使得理想聚焦位置和所述全息图记录介质表面之间的距离小于从所述表面到所述记录层的下层侧面的距离，并且经由所述物镜的光的聚焦位置恒定地处于理想聚焦位置；物镜/中继镜距离调整单元，用于调整所述物镜和靠近物镜的中继镜之间的距离；光接收单元，用于接收记号光；以及恒定距离控制单元，用于基于记号光的理想位置和记号光的实际光接收位置之间的误差，控制物镜/中继镜距离调整单元。
照射设备控制方法

[发明专利]全息设备,倾斜检测方法和倾斜校正方法-CN201010164259.1无效
发明人：山川明郎;冈本好喜;田中健二;德山一龙;高崎浩司 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-04-09 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： G11B7/0065 文献下载
摘要：本发明提供全息设备、倾斜检测方法和倾斜校正方法。所述全息设备包括：向具有借助信号光和参照光之间的干涉条纹执行信息记录的记录层的全息记录介质照射光的光源；通过对来自光源的光进行空间光调制产生信号光和/或参照光并在来自光源的光的入射面内的预定位置产生标记光的空间光调制单元；把经过空间光调制单元的空间光调制的光经物镜照射到全息记录介质的光照射单元；通过全息记录介质接收经物镜照射的光的受光单元；倾斜检测单元，用于根据受光单元中的标记光的理想受光位置和受光单元的标记光的实际受光位置之间的误差的检测结果获得倾斜误差信号(表示作为经物镜照射到全息记录介质的信息记录面的入射角的倾斜角相对于理想角度的误差)。
全息设备倾斜检测方法校正

[发明专利]再现装置和再现方法-CN200910170760.6无效
发明人：田中健二;高崎浩司;德山一龙;福本敦;森秀则;冈本好喜 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2009-09-09 - 公布日： 2010-03-17 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明提供一种再现装置和再现方法，该再现装置包括发光单元和光衰减单元，发光单元发射参考光和相干光到全息图记录介质上，该相干光产生为具有均匀的光强度和均匀的相位，数据由信号光和参考光的干涉图案记录在全息图记录介质上，光衰减单元衰减相干光的光强度。
再现装置方法