专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]X射线分析装置-CN200310114363.X无效
  • 驹谷慎太郎;大泽澄大 - 株式会社堀场制作所
  • 2003-11-11 - 2004-06-02 - G01N23/223
  • 本发明提供一种可向试样下方的局部照射1次X射线、对前述局部进行X射线分析的X射线分析装置。这种X射线分析装置,包括:具有可由透射X射线的隔膜关闭的X射线透射窗(4)并在X射线透射窗(4)上方配置有试样(10)的载物台(3);配置于载物台(3)下方的X射线源(2);将从X射线源(2)发生的1次X射线导向X射线透射窗(4)的X射线导管(5);以及配置在载物台(3)下方、并对通过向X射线透射窗(4)上方的试样(10)照射1次X射线所产生的2次X射线进行检测的检测手段(7);从与向X射线透射窗(4)照射的1次X射线的方向同轴的方向、对试样(10)进行摄像的摄像手段(15);以及显示由摄像装置(15)拍摄的图像的显示装置(17),使用该X射线分析装置对试样(10)下方的局部进行X射线分析。
  • 射线分析装置

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