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[发明专利]一种OLED色斑检测与修复一体化系统、方法-CN201810349109.4有效
发明人：冯晓帆;郑增强;刘钊;马尔威;吴红君;刘荣华;沈亚非 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2018-04-18 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明属于面板检测技术领域，公开了一种OLED色斑检测与修复一体化系统、方法，其系统包括计算单元、光学测量单元和驱动单元；驱动单元作用于面板以驱动其点亮不同灰阶的白色画面；光学测量单元用于在驱动单元的触发下拍摄面板在白色画面下的像素亮度测量图片以及色度测量图片；计算单元用于根据该亮度测量图片、色度测量图片获取各像素的亮度和色度并据此确定色斑种类和等级；并根据各个灰阶的亮度和色度计算出R/G/B各通道的补偿数据并转换为面板的驱动芯片可接收的格式发送到面板的存储器中；在demura使能状态寄存器控制下调用存储器中的补偿数据对待修复面板进行色斑修复；本发明将测试时间减少了2/3，极大提升了色斑检测补偿工作效率并使白色画面的亮度均匀性补偿得更好。
一种 oled 检测修复一体化系统方法

[发明专利]一种基于显示面板的快速自动对焦方法-CN201910015537.8有效
发明人：余梦露;花华妹;马尔威;郑增强 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2019-01-08 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G03B13/36 文献下载
摘要：本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，公开了一种基于显示面板的快速自动对焦方法，采集显示面板对焦画面图像，在全焦段范围内采用二分法进行调焦，通过大步长调焦法确定图像清晰的对焦范围，再通过小步长调焦法在对焦范围内确定清晰对焦位置；在清晰对焦位置处采集清晰对焦位置对应的图像，进行对焦清晰度判断，若满足预设阈值要求则输出图像，否则进行自动对焦微调后再次采集图像进行对焦清晰度判，直至满足预设阈值要求，输出图像；本发明提供的自动对焦方法，粗对焦计算清晰对焦位置，根据该对焦位置处图像的清晰度进行微调，进一步提高了对焦精度，防止出现误对焦，并且可提高缺陷检测的精度，缩短检测时长。
一种基于显示面板快速自动对焦方法

[发明专利]一种用于OLED亚像素定位的棋盘格图、生成方法及定位方法-CN201910071414.6有效
发明人：吴红君;冯晓帆;郑增强;马尔威;唐斐;马煜华 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2019-01-25 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种用于OLED亚像素定位的棋盘格图、生成方法及定位方法，针对传统棋盘格的无法满足在OLED进行亚像素定位需求，以在G画面棋盘格图的每个黑白单元格中加入PSF点的棋盘格图作为测试用图；采用该测试用图点亮OLED屏幕，采集OLED屏幕显示的棋盘格画面并根据该棋盘格画面采用两级定位来确定亚像素G的位置；根据亚像素G的位置推导出亚像素R、B位置，由此，利用一次对OLED屏幕的采集实现对OLED屏幕的R、G、B亚像素定位；本发明提供的对OLED屏幕进行亚像素定位的方法，提高了找点的准确性；而且克服了镜头的畸变、串扰等对定位的影响，降低了对工业相机镜头成像质量的要求，并对实际工业环境的影响具有抗干扰性。
一种用于 oled 像素定位棋盘生成方法

[发明专利]一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法-CN201910330272.0有效
发明人：冯晓帆;刘璐宁;郑增强;张胜森;马尔威;吴红君;袁捷宇;刘荣华 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2019-04-23 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G06T7/90 文献下载
摘要：本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。
一种 demura 设备像素亮度提取精度评判方法噪声检测

[发明专利]基于目标光谱的相机标定方法-CN201910063329.5有效
发明人： 马尔威;吴琦;郑增强 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2019-01-23 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于目标光谱的相机标定方法，包括：选择一个矫正光源，确定光学系统的相机和镜头；2)将光学系统的镜头调节至虚焦状态；3)在确保镜头焦平面与矫正光源平行的条件下，挪移矫正光源向光学系统靠近，直至虚焦状态下矫正光源能完整覆盖取向视场为止；4)调整相机的曝光时间，使得中心亮度不超过相机饱和度80％，边缘亮度不低于相机饱和度30％；5)获取的该图像，存储为暗角图片，得到暗场曲面矫正模型；6)在目标光源下，将拍摄的图片与暗场曲面矫正模型做矩阵运算，对获取的图像的每一个点按照暗场曲面矫正模型相对中心均值的衰减进行逆向还原，得到标定后的图片。该方法能弥补发光面板本身性质造成的光源端亮度获取不均问题。
基于目标光谱相机标定方法

[发明专利]去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及系统-CN201910492585.6有效
发明人：冯晓帆;刘璐宁;郑增强;张胜森;马尔威;吴红君;袁捷宇;刘荣华 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2019-06-06 - 公布日： 2020-08-18 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明属于显示面板检测修复技术领域，公开了一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及系统；去除图像摩尔纹的方法采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器滤除显示面板所显示的灰阶画面中的光谱峰值，从而达到去除图像摩尔纹的目的；修正了噪声光谱信号的维纳滤波器是将灰阶画面中摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号叠加到维纳滤波器的噪声中；显示面板子像素点度测量方法则利用上述方法先去除图像摩尔纹之后再来提取子像素点亮度；测量系统包括信号发生器、图像采集装置及处理单元；由采集装置获取显示面板所呈现的画面图像，处理单元基于获取的画面图像先采用本发明的方法去除摩尔纹再计算子像素点的亮度，实现子像素点亮度的精确测量。
去除图像摩尔显示板子像素亮度测量 mura 缺陷修复方法系统

[发明专利]一种用于评估DeMura设备亮度测量精度的方法-CN201810608731.2有效
发明人：冯晓帆;郑增强;刘钊;马尔威;吴红君;刘荣华;沈亚非 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司
申请日： 2018-06-13 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种评估DeMura设备亮度测量精度的方法，通过在原灰阶图像上添加随机数生成加噪图像，并将通过DeMura设备显示的加噪图像得到与添加的随机数对应的测量值，根据这个测量值与原始添加的随机数之间的相关性来评估Demura设备亮度测量精度，衡量Demura设备亮度提取性能，本发明提供的这种方法评估DeMura设备亮度数据测量精度的方法相比于采用SNR、或者采用CrossTalk测试方法来衡量DeMura设备亮度测量精度的现有技术，可以获得测试值与实际值的偏差，提供了定量可测的、更能反映Demura设备实际性能的判定方法。
一种用于评估 demura 设备亮度测量精度方法

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