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专利名称

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申请人
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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]同步衬底传输及电性探测-CN202180081295.8在审
发明人：阮尼登;K·阮;K·吉滕德拉;I·蔡;余伯幹 -专利权人： 飞腾动力公司
申请日： 2021-12-23 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： B65G7/06 文献下载
摘要：一种用于检验例如平整经图案化介质等玻璃衬底的系统包含气动工作台，所述气动工作台固持所述玻璃衬底。所述气动工作台包含作为空气轴承发射气体的小卡盘。相机安置于所述气动工作台上方且在跨越所述玻璃衬底的顶表面的宽度的方向上移动。组合件包含经配置以在所述相机下方传输的夹持器及探测棒。所述夹持器经配置以夹持所述玻璃衬底的与所述顶表面相对的底表面。所述探测棒通过多个探测接针将驱动信号递送到所述玻璃衬底。
同步衬底传输探测

[发明专利]测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统-CN201410528708.4有效
发明人：李昶熙;李满濬;金成镇;李钟浩;迈克尔·肖恩·卡萨迪;尼科莱·莫基夫;肯特·阮;丹尼尔·托特 -专利权人： 飞腾动力公司
申请日： 2014-10-09 - 公布日： 2019-05-10 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本申请案涉及一种测试扁平面板显示器的方法及一种经配置以测试扁平面板显示器的系统。本发明揭示一种测试扁平面板显示器的方法，所述扁平面板显示器包含像素阵列及经配置以将信号提供到所述像素的外围电路。所述方法包含：将至少一个测试信号施加到所述外围电路；获取所述外围电路的一或多个电压图像；及基于所述所获取电压图像而检测所述外围电路中的缺陷。
测试扁平面板显示器方法配置系统

[发明专利]应用电子束诱发等离子体探针以进行检验、测试、除错及表面修改-CN201480054629.2在审
发明人：内达尔·沙利;丹尼尔·托特;安利奎·史特林;罗南·洛温格;斯里蓝·奎许那瓦米;艾利·葛雷瑟 -专利权人：奥宝科技有限公司;飞腾动力公司
申请日： 2014-10-02 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： G01R31/308 文献下载
摘要：本发明揭示一种电子束诱发等离子体，其用于与所关注装置建立非机械、电接触。此等离子体源可称为大气等离子体源且可经配置以提供具有极细直径及可控特性的等离子体柱。所述等离子体柱横穿在所述等离子体源之间的大气空间进入所述大气及所述所关注装置，且以可从所述装置收集特性电信号的方式充当到所述所关注装置的电路径。另外，通过控制流入所述等离子体柱的气体，探针可用于表面修改、蚀刻及沉积。
应用电子束诱发等离子体探针进行检验测试除错表面修改

[实用新型]用于对受测试电子装置进行电气检查的设备-CN201320120733.X有效
发明人：托马斯·H·贝利;劳埃德·琼斯 -专利权人： 飞腾动力公司
申请日： 2013-03-15 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种非远心电压成像光学系统。揭示一种用于对受测试电子装置进行电气检查的设备，其中照射光在到达调制器之前不通过成像透镜。所述系统不需要且不采用常规的电压成像光学系统的偏振控制组件来消除光噪声。所描述的光学系统的此特征大体上降低了整个检查设备的质量、成本和复杂性。另外，用于所描述的系统中的非远心透镜的质量、成本和复杂性远远低于常规检查系统中的非远心透镜。所述系统并入有：检查头，其包含电光调制器；偏置电压源，其产生施加到所述电光调制器的偏置电压模式；光源，其用于产生用于照射所述电光调制器的光脉冲；非远心透镜和相机，其用于获取所述被照射的电光调制器的图像。
用于测试电子装置进行电气检查设备

[发明专利]非远心电压成像光学系统(NTVIOS)-CN201310084659.5在审
发明人：托马斯·H·贝利;劳埃德·琼斯 -专利权人： 飞腾动力公司
申请日： 2013-03-15 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本申请案涉及一种非远心电压成像光学系统。揭示一种用于对受测试电子装置进行电气检查的设备，其中照射光在到达调制器之前不通过成像透镜。所述系统不需要且不采用常规的电压成像光学系统的偏振控制组件来消除光噪声。所描述的光学系统的此特征大体上降低了整个检查设备的质量、成本和复杂性。另外，用于所描述的系统中的非远心透镜的质量、成本和复杂性远远低于常规检查系统中的非远心透镜。所述系统并入有：检查头，其包含电光调制器；偏置电压源，其产生施加到所述电光调制器的偏置电压模式；光源，其用于产生用于照射所述电光调制器的光脉冲；非远心透镜和相机，其用于获取所述被照射的电光调制器的图像。
非远心电压成像光学系统 ntvios

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