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[发明专利]一种紧缩场测量系统-CN202110475633.8有效
发明人：王卫民;陈雨夏;吴永乐 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2021-04-29 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种紧缩场测量系统，涉及雷达信号处理技术领域，馈源与副反射面分别位于主反射面的两侧，且馈源位于副反射面的焦点位置，其中：馈源与副反射面在第一坐标系中的水平距离为第一预设距离，用于发射球面波；副反射面具有锯齿状边缘，与主反射面在第二坐标系中的水平距离为第二预设距离，用于接收球面波，并对球面波进行反射，使得球面波沿着反射后的方向继续传输；主反射面具有锯齿状边缘，用于接收经过副反射面反射的球面波，并对接收到的球面波进行反射，将球面波转化为近似平面波，发射近似平面波。应用本发明实施例提供的系统测量天线，能够减小对天线进行测量时的误差。
一种紧缩测量系统

[发明专利]一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置-CN202110477755.0有效
发明人：王卫民;陈雨夏;吴永乐 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2021-04-29 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种用于紧缩场测试中静区相位恢复的方法及装置，涉及天线测试技术领域，上述方法包括：获取第一垂轴面所在光场的第一幅值和第一光强，并获得第二垂轴面所在光场的第二幅值和第二光强；利用所述第一光强和所述第二光强，获得按照相位随光强的变化关系确定的相位，作为所述第一垂轴面所在光场的初始相位；基于由所述第一幅值和第二幅值确定的幅值约束条件，对待调整复振幅信号的幅值进行迭代调整，直至满足迭代结束条件；将迭代调整后的待调整复振幅信号的相位确定为对所述第一垂轴面所在光场进行相位恢复后的相位。应用本发明实施例提供的方案进行静区中光场的相位恢复，能够提高相位恢复结果的准确度。
一种用于紧缩测试中静区相位恢复方法装置