专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]巨观及微观检测设备及检测方法-CN202111029175.1在审
  • 蔡振扬;陈维懋;谢洹圳 - 旺矽科技股份有限公司
  • 2021-09-03 - 2022-03-25 - G01N21/01
  • 本发明涉及一种巨观及微观检测设备,包含有一巨观检查站,以及分别设于巨观检查站二侧的一待测物存放站及一微观检测站,巨观检查站包含有一机壳、一机械手臂及一视觉辨识系统,机械手臂包含有一用于承载一待测物且能翻转的末端执行器并以末端执行器能进入待测物存放站及微观检测站的方式设于机壳内,视觉辨识系统包含有能朝末端执行器拍摄地设于机壳内的至少一影像捕获设备,用于撷取待测物的影像。本发明更提供使用所述检测设备的检测方法。本发明的检测设备及检测方法可避免人力检查所造成的问题,且结构简洁、节省空间,并可产生高检测效率。
  • 微观检测设备方法
  • [发明专利]光学检测系统-CN201810667121.X有效
  • 蔡振扬;陈维懋;谢洹圳;黄全伟 - 旺矽科技股份有限公司
  • 2018-06-26 - 2021-11-19 - G01N21/95
  • 本发明提供一种光学检测系统,包含第一光学检测设备与第二光学检测设备。第一光学检测设备包含中空结构、摄像装置与环型光源。中空结构具有第一端与第二端,第一端具有摄像透光区。中空结构包含管体与腔体。腔体设置在管体的一侧,第一端位于腔体远离管体的一侧,第二端位于管体远离腔体的一侧。摄像装置位于第二端,摄像透光区的中心与摄像装置的镜头中心定义中心轴线,腔体与管体沿中心轴线设置。环型光源围绕中心轴线设置于腔体内,且位于第一端与第二端之间,并向摄像透光区射出第一光线。第二光学检测设备对应中心轴线,设置于待测物的上表面,能让使用者从晶粒的正面及背面查看个别的晶粒是否出现损伤或缺陷,从而判断个别的晶粒是否合格。
  • 光学检测系统
  • [发明专利]晶粒标示方法及晶粒标示设备-CN201510236307.6有效
  • 蔡振扬;廖惇材;周明澔;杨上毅;陈维懋 - 旺矽科技股份有限公司
  • 2015-05-11 - 2017-12-26 - B07C5/00
  • 本发明提供一种晶粒标示方法及晶粒标示设备,适于标示在分选载体上的多个晶粒的位置。晶粒标示方法包括下列步骤。通过重叠于分选载体下方的显示装置的像素阵列显示出晶粒地图。晶粒地图包括背景及多个标示区域,这些标示区域对应于这些晶粒的预设位置分布在背景上,且各标示区域经由显示装置的像素阵列的多个像素显示并环绕对应的晶粒。对应被判定受损的晶粒的标示区域的垂直宽度大于或等于显示装置的像素阵列的像素的垂直宽度的三倍,且对应晶粒的标示区域的水平宽度大于或等于显示装置的像素阵列的像素的水平宽度的三倍。从而可通过标示区域来标示出分选载体上的被判定受损的晶粒。
  • 晶粒标示方法设备

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