专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于云平台的芯片多端协同设计方法及系统-CN202210160536.4有效
  • 侯宁;王新刚;石磊;卢亚鹏;陈英;陈婧薇;陈嘉浩;边策 - 河南城建学院
  • 2022-02-22 - 2023-03-21 - G06F30/392
  • 本发明提供了一种基于云平台的芯片多端协同设计方法及系统,其中,基于云平台的芯片多端协同设计方法包括:为每个芯片设计端分配设计任务,每个芯片设计端分别根据设计任务对模块进行布局,将布局结果定时上传至云平台;云平台基于每次接收到的所有芯片设计端的布局结果求解最优布局结果,并根据每个芯片设计端的布局结果与最优布局结果计算设计任务的重布局代价指数和每个芯片设计端的设计能力指数,在进行下一次设计任务分配时将重布局代价指数高的设计任务分配给设计能力指数高的芯片设计端。本发明可以减少复杂芯片的设计周期,减少设计错误,提高芯片的设计效率,降低芯片设计对技术能力和工作经验的依赖程度。
  • 基于平台芯片多端协同设计方法系统
  • [发明专利]城墙状孔缝多级耦合平面引向多应用叠层天线-CN201410583991.0有效
  • 周建华;叶啸海;陈楠;游佰强;李杰;徐伟明;陈婧薇 - 厦门大学
  • 2014-10-27 - 2015-01-28 - H01Q1/38
  • 城墙状孔缝多级耦合平面引向多应用叠层天线,涉及一种微带天线。设有上下层基板,在上下层基板上表面分别敷有金属层形成正方形贴片;上层正方形贴片采用角部对称三角形切角结构,在上层正方形贴片上设有贴片几何中心对称的城墙状缝隙对,形成城墙状缝隙阵列,在带有电磁耦合的城墙状缝隙之间设有耦合腔,在两组正交的城墙阵列衔接处,设有4个45度角位置的调控耦合腔;下层正方形贴片采用角部对称三角形切角结构,在下层正方形贴片的四边中部各设有一个矩形凹槽形成类分形结构,在下层正方形贴片的四边外围设有贴片中心对称的引向臂;下层基板下表面敷有良导体层作为接地板,在下层基板下表面上设有3个馈电接头。
  • 城墙状孔缝多级耦合平面引向应用天线
  • [发明专利]CSRR阵列叠层耦合北斗双频微带天线-CN201310019915.2有效
  • 游佰强;李立之;周涛;周建华;周志微;梁冰洋;肖振宁;陈婧薇 - 厦门大学
  • 2013-01-18 - 2013-05-08 - H01Q1/38
  • CSRR阵列叠层耦合北斗双频微带天线,涉及一种微带天线。设上下层介质基板,两基板叠加,上层介质基板上表面和下层介质基板上下表面均敷有良导体;在上层介质基板上表面雕刻有开槽上正方形贴片,开槽上正方形贴片采用互补金属开口谐振环,互补金属开口谐振环由两个一对开口方向相反的正方形环嵌套组成,两环中心位置重合,且距离上正方形贴片的两边距离相等;两环在一边的中点处有开口。在上正方形贴片中心处以一条对角线为轴开长方形缝隙;在上正方形贴片四边的中点向内开长方形缝隙,轴为中点连线;在下层介质基板上表面雕刻带开槽和切角的下正方形贴片,在下正方形贴片四边的中点设有向内的长方形缝隙,轴为中点连线,并有一对角被切角。
  • csrr阵列耦合北斗双频微带天线
  • [发明专利]微波介质涂层电控检测装置及其检测方法-CN201210073256.6有效
  • 周建华;李彦龙;霍丽霞;游佰强;李海雄;陈婧薇 - 厦门大学
  • 2012-03-19 - 2012-07-18 - G01R27/26
  • 微波介质涂层电控检测装置及其检测方法,涉及一种微波涂层介电特性的检测。检测装置设有矩形波导、平行耦合微带电极、直流稳压电源、矢量网络分析仪、计算机和短路板;矩形波导前端与矢量网络分析仪的端口连接,平行耦合微带电极设在矩形波导的中间,矩形波导的后端连接短路板,直流稳压电源的输出端与平行耦合微带电极连接,矢量网络分析仪通过电缆与计算机的输入端口连接。将微带电极加载在待测样品上,放入波导端面中由短路板夹持进行测试,微带电极相连;在微带电极之间加载电压,观察散射参数变化;测试已知空气层和聚四氟乙烯涂层,计算出介电常数,将已知涂层电磁参数与测试结果对比,确定本测试系统的可靠性、测试误差和测试精度。
  • 微波介质涂层检测装置及其方法

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