专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]开孔定位装置、及开孔定位方法-CN201310240030.5有效
  • 阿须贺拓 - 精工精密有限公司
  • 2013-06-17 - 2014-01-15 - B26D7/00
  • 本发明的开孔定位装置包括:摄像部(161),对包含附加在印刷电路板上的标记的图像进行拍摄;判定部(162),在对于图像的亮度值使用微分滤波器而获得的微分值超过指定阈值的情况下,将获得微分值的图像的位置判定为标记的边缘位置;存储部(163),分别存储表示边缘位置的座标;设定部(164),以边缘位置为中心,设定包含指定的像素数的区域;比较部(165),将所设定的区域的中心亮度值与平均亮度值进行比较;着色部(166),在中心亮度值小于平均亮度值的情况下,将该区域的中心位置的色彩附上第1色彩,在中心亮度值为平均亮度值以上的情况下,将该区域的中心位置的色彩附上第2色彩,且将未设定的区域的色彩附上第2色彩;及决定部(167),将附上第1色彩的区域决定为开设导孔的预定位置。
  • 定位装置方法
  • [发明专利]X射线位置测量装置、该装置的位置测量方法、以及该装置的位置测量用程序-CN201110318863.X有效
  • 樫村恒夫;阿须贺拓 - 精工精密有限公司
  • 2011-10-19 - 2012-07-11 - G01B15/00
  • 本发明提供一种能够在不增加成本的前提下实现高精度位置测量的X射线位置测量装置。X射线位置测量装置10包括使X射线发射器10a与X射线照相机10b向在测量对象上进行位置测量的位置移动的第1移动单元;用于在进行位置测量的位置,对图像显示部中的基准位置与第2X射线投影图像的位置之间的位置偏移量进行测量,同时将位置偏移量作为对应于该测量位置的补正量,存储在存储部的第1测量存储单元;用于使X射线发射器10a和X射线照相机10b向进行位置测量的位置移动的第2移动单元;以及用于在进行位置测量的位置,根据所述补正量使X射线发射器10a的发射中心与X射线照相机10b的光轴一致,同时进行测量对象的位置测量的第1位置测量单元。
  • 射线位置测量装置测量方法以及程序

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