“长泽广也”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果6个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]Zeta电位测定用夹具组-CN202310352731.1在审
发明人： 长泽广也;笹一志;滨尾保;村上典彦 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：本公开提供一种能以简便的作业实施试样的更换或镀敷处理的Zeta电位测定用夹具组。本公开为具有框体和固定于框体的测定用夹具的Zeta电位测定用夹具组。框体具有：第一和第二保持壁，对置配置；底壁，连结第一和第二保持壁的下端，具有阳极板和阴极板；以及臂状的第一锁定部。测定用夹具具有：下段块，在底部具有阳极板和阴极板所在的阳极孔部和阴极孔部，配置于底壁上；盒，具有供试样配置的凹部和盒连通孔，配置于下段块上；中段块，在俯视时具有包围凹部的框状的形状，配置于盒上；上部构件，配置于中段块上，并且封闭凹部的上表面；以及第二锁定部，将上部构件向底壁侧按压。第一锁定部将中段块向底壁侧按压，使框体、下段块、盒、中段块一体化。
zeta 电位测定夹具

[发明专利]光学测定系统-CN202211310530.7在审
发明人：福谷义树;牟田口绫夏;长泽广也;村上典彦;西田幸次;古谷勉;小岛广之;古贺毅 -专利权人：大塚电子株式会社;国立大学法人京都大学
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生光束；起偏器，其配置在光源与试样之间，用于对光束的偏振方向进行限制；检测器，其观测光束照射到试样而产生的散射光；以及检偏器，其配置在试样与检测器之间。检偏器对入射到检偏器的包含检偏器与光束的光轴交叉的交叉位置在内的光轴中心区域的光施加比入射到检偏器的除光轴中心区域以外的区域的光大的衰减。
光学测定系统

[发明专利]光散射测定装置以及测定用夹具-CN202111360763.3在审
发明人：泉谷悠介;若山育央;长泽广也 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2021-11-17 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光散射测定装置以及测定用夹具，能实施前向测定或者侧向测定和后向测定双方，且具有单个受光器，由此小型且低成本。一种光散射测定装置，具有：光源；单个受光器；试样保持部，具有试样池、框体以及光学元件，其中，该框体具有配置试样池的保持空间、形成为用于前向测定或者侧向测定中的至少任意一方的测定的第一光路的入射部的第一开口以及形成为用于后向测定的第二光路的入射部的第二开口，该光学元件具有与空腔的侧面成一定的角度的第一面；以及移动机构，使测定用夹具在铅垂方向移动。光学元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在铅垂方向分离。移动机构在进行前向测定或者侧向测定的情况下，使第一开口移动至第一光路的入射部的位置，在进行后向测定的情况下，使第二开口移动至第二光路的入射部的位置。
散射测定装置以及夹具

[发明专利]电动电位测定用夹具-CN202110405748.X在审
发明人： 长泽广也;若山育央 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：本发明提供一种电动电位测定用夹具，其不需要专用工具就能以简便的作业将试样配置于盒。用于电泳迁移率测定装置的电动电位测定用夹具具有：框体，具有相互对置配置并且在分别对应的位置具有开口的第一和第二保持壁以及将第一与第二保持壁的各下端连结的底壁；中间块，在第一与第二保持壁之间构成保持试样的保持空间的一部分，在配置于开口的侧方的盒的上方或下方邻接配置；以及盒按压件，在第一与第二保持壁之间配置于比中间块靠上方，将盒和中间块向底壁侧按压，第一和第二保持壁中的至少一方具有用于从侧方支承中间块的第一槽或与第一突起中的一方，该第一突起弹性地嵌合于该第一槽，中间块具有第一槽或第一突起中的另一方。
电动电位测定夹具

[外观设计]试样分析机-CN202030299032.2有效
发明人：尾鼻纱耶香;武川透;长泽广也;若山育央;铃木穂 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2020-06-12 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： 24-01 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：试样分析机。2.本外观设计产品的用途：用于对试样进行分析。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
试样分析

[外观设计]试样分析机-CN201830108471.3有效
发明人： 长泽广也;若山育央;龟川和义 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2018-03-22 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： 24-01 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：试样分析机。2．本外观设计产品的用途：用于对试样进行分析。3．本外观设计的设计要点：在于本产品的整体形状。4．最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
外观设计试样分析整体形状分析图片