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[发明专利]电路基板及方法-CN200380106794.X有效
发明人： K·普哈卡;I·本森 -专利权人： 金色力量有限公司
申请日： 2003-10-27 - 公布日： 2006-02-01 - 主分类号： H01L31/00 文献下载
摘要：本发明的实施例涉及用于辐射检测器的半导体电路基板，所述辐射检测器包括具有多个配置成可响应入射辐射而产生电荷的检测器单元的检测器基板，每个所述检测器单元包括至少一个检测器单元接点，它用于将来自所述检测器单元的电荷连接到所述半导体电路基板。更具体地说，在本发明的实施例中，所述半导体电路基板包括：多个单元电路接点，每个单元电路接点配置成可接收来自对应的检测器单元接点的电荷，与所述多个单元电路接点相关联的单元电路；一条或多条导电通路，配置成可传递送往和/或来自所述单元电路的控制、读出和电源信号中的至少一个信号；以及一条或多条延伸通过所述半导体电路基板的信号通路，所述一条或多条信号通路电连接到所述导电通路，以为所述单元电路提供外部信号接口。在本发明的实施例中，提供了用于将信号通过半导体基板送到半导体电路基板表面的电接点上。半导体电路基板表面的电接点然后被直接连接到装配板的相应电接点上。
路基方法

[发明专利]半导体基板上触点的形成-CN200380106563.9有效
发明人： K·普哈卡;I·本森 -专利权人： 金色力量有限公司
申请日： 2003-10-23 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： H01L31/00 文献下载
摘要：本发明涉及制造在半导体基板上有一个或多个导电触点的辐射检测器的方法，其中包括一些步骤：在所述半导体基板的第一表面上形成第一导电层；在形成第二导电层，从而形成导电材料的多个邻接层，所述多个邻接层中包含所述第一导电层；有选择地将所述多个邻接层的一些部分除去以形成所述导电触点，所述导电触点在半导体基板上界定一个或多个辐射检测单元。
半导体基板上触点形成