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[实用新型]一种针对导电纤维材料电阻率测试的探针模块-CN202320826105.7有效
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲;吴国栋;贺建芸 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-04-12 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N27/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种针对导电纤维材料电阻率测试的探针模块，上端压盖的压盖弹簧孔为四个且均布设置在压盖主体的底面上，压力弹簧的一端抵在压盖弹簧孔的顶部，另一端与导电片接触；探针架模块的单探针架的外壁为与内螺纹孔的内螺纹结构相匹配且螺接固定的外螺纹结构，单探针架内设有弹簧探针，压力传感器和导电片相接触且均套设在弹簧探针的上部，弹簧探针的顶端与压力弹簧接触，底端与导电纤维材料样品接触。采用内螺纹孔与单探针架的螺接配合，弹簧探针的压力可以进行较大范围调控且实时反馈。探针模块的结构简单，使用时操作更加方便，流程更加简洁。同时在测试方法上增加欧姆接触的测试，是决定能不能对半导体材料进行测试的决定条件。
一种针对导电纤维材料电阻率测试探针模块

[实用新型]一种压力接触式薄膜材料样品加载装置-CN202320856420.4有效
发明人：李硕;吴国栋;任玲玲;李旭;金森林 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种压力接触式薄膜材料样品加载装置，样品腔开口设置在样品腔的前侧壁上，激光入射孔和样品腔下方孔同轴设置在样品腔的顶壁和底壁上；套管的顶部设有套管开孔，热电偶的探头和偶丝从套管开孔中穿出并露出于套管外部，套管的顶部从样品腔下方孔垂直进入样品腔内，并与薄膜材料样品的基底背面压力接触，激光从激光入射孔入射到薄膜材料样品的表面。本申请保证热电偶与样品的压力保持固定一致且可调节，从而确保了温度测量的重复性，解决现有光功率分析法相变温度测量装置中热电偶与薄膜样品接触不稳和压力不固定等问题。且热电偶与样品表面非直接接触，避免了样品对探头的污染，进一步确保了温度测量的准确性。
一种压力接触薄膜材料样品加载装置

[发明专利]一种针对导电纤维材料电阻率测试的探针模块-CN202310397262.5在审
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲;吴国栋;贺建芸 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-04-12 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01N27/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种针对导电纤维材料电阻率测试的探针模块，上端压盖的压盖弹簧孔为四个且均布设置在压盖主体的底面上，压力弹簧的一端抵在压盖弹簧孔的顶部，另一端与导电片接触；探针架模块的单探针架的外壁为与内螺纹孔的内螺纹结构相匹配且螺接固定的外螺纹结构，单探针架内设有弹簧探针，压力传感器和导电片相接触且均套设在弹簧探针的上部，弹簧探针的顶端与压力弹簧接触，底端与导电纤维材料样品接触。采用内螺纹孔与单探针架的螺接配合，弹簧探针的压力可以进行较大范围调控且实时反馈。探针模块的结构简单，使用时操作更加方便，流程更加简洁。同时在测试方法上增加欧姆接触的测试，是决定能不能对半导体材料进行测试的决定条件。
一种针对导电纤维材料电阻率测试探针模块

[发明专利]一种压力接触式薄膜材料样品加载装置及其测试方法-CN202310409810.1在审
发明人：李硕;吴国栋;任玲玲;李旭;金森林 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明涉及一种压力接触式薄膜材料样品加载装置及其测试方法，样品腔开口设置在样品腔的前侧壁上，激光入射孔和样品腔下方孔同轴设置在样品腔的顶壁和底壁上；套管的顶部设有套管开孔，热电偶的探头和偶丝从套管开孔中穿出并露出于套管外部，套管的顶部从样品腔下方管垂直进入样品腔内，并与薄膜材料样品的基底背面压力接触，激光从激光入射孔入射到薄膜材料样品的表面。本申请保证热电偶与样品的压力保持固定一致且可调节，从而确保了温度测量的重复性，解决现有光功率分析法相变温度测量装置中热电偶与薄膜样品接触不稳和压力不固定等问题。且热电偶与样品表面非直接接触，避免了样品对探头的污染，进一步确保了温度测量的准确性。
一种压力接触薄膜材料样品加载装置及其测试方法

[实用新型]一种具有压力显示的弹簧探针模块-CN202223042487.9有效
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种具有压力显示的弹簧探针模块，压力显示模块的压力传感器设置在压力模块的下表面，压力传感器通过压力传感器导线与压力显示屏电连接；弹簧探针模块上表面的压力模块对应框内设有与压力传感器相对应的弹簧探针通孔；样品底座上设有样品放置框，样品放置框的角上设有探针放置框，探针放置框与弹簧探针通孔相对应，弹簧探针的顶端与压力传感器接触，弹簧探针的底端穿过弹簧探针通孔与探针放置框相对应。利用压力模块可以对弹簧探针模块上的弹簧探针施加压力，同时压力显示模块可以实时反馈弹簧探针施加到低中掺杂半导体材料样品的石墨烯电极上的压力，实现利用本实用新型对低中掺杂半导体材料样品使用范德堡法做到无损探测。
一种具有压力显示弹簧探针模块

[发明专利]一种涂装设备用喷枪-CN202310047654.9在审
发明人：余建中;金森林 -专利权人：德清中俊涂装设备有限公司
申请日： 2023-01-31 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： B05C1/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种涂装设备用喷枪，涉及涂装设备技术领域，包括底座，所述底座的底端固定安装有支撑腿，所述底座中部的前后两端固定安装有顶座，所述顶座的顶端固定安装有涂料箱，所述涂料箱的底端固定安装有喷枪，所述喷枪的底端固定安装有喷射结构。本发明提供一种涂装设备用喷枪，通过将需要涂装的物品输送到顶座的正下方，接着通过启动喷枪将涂料箱内的涂料抽到喷射结构内，然后通过喷射结构将涂料输送到喷射管内，再通过喷射管将涂料输送到喷射头处，之后通过喷射头将涂料喷射到滚筒上，从而实现了具有均匀涂装的装置，进而通过涂料箱、喷枪、喷射结构、连接杆、活动轴、滚筒、喷射管和喷射头的设置，有效的提高了装置的实用性。
一种装设备用喷枪

[发明专利]一种涂装设备用清灰装置-CN202310047679.9在审
发明人：余建中;金森林 -专利权人：德清中俊涂装设备有限公司
申请日： 2023-01-31 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： B05B16/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种涂装设备用清灰装置，涉及涂装辅助装置技术领域，包括涂装箱，所述涂装箱的前端活动安装有密封门一，所述密封门一的前端固定安装有握把一，所述涂装箱的顶端固定安装有涂料箱，所述涂料箱的顶端固定安装有进料口。本发明提供一种涂装设备用清灰装置，通过人工手握握把一将密封门一从涂装箱的前端打开，接着通过人工将工件放置在放置架上，从而实现了具有烘干箱和涂装箱一体的装置，进而通过密封门一、握把一、涂料箱、进料口、喷枪、输送管道一、喷射头、放置架、连接板、烘干箱、密封门二、握把二、热风机、输送管道二、出风口、滑槽、隔板和把手的设置，有效的减少了人工的劳动强度。
一种装设备用装置

[发明专利]一种具有压力显示的弹簧探针模块-CN202211433052.9在审
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-11-16 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有压力显示的弹簧探针模块，压力显示模块的压力传感器设置在压力模块的下表面，压力传感器通过压力传感器导线与压力显示屏电连接；弹簧探针模块上表面的压力模块对应框内设有与压力传感器相对应的弹簧探针通孔；样品底座上设有样品放置框，样品放置框的角上设有探针放置框，探针放置框与弹簧探针通孔相对应，弹簧探针的顶端与压力传感器接触，弹簧探针的底端穿过弹簧探针通孔与探针放置框相对应。利用压力模块可以对弹簧探针模块上的弹簧探针施加压力，同时压力显示模块可以实时反馈弹簧探针施加到低中掺杂半导体材料样品的石墨烯电极上的压力，实现利用本发明对低中掺杂半导体材料样品使用范德堡法做到无损探测。
一种具有压力显示弹簧探针模块

[实用新型]管件移印与激光打标组合工作设备-CN202222676992.2有效
发明人：金桂兰;金森林 -专利权人：上海珑浒机械有限公司
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： B23K26/362 文献下载
摘要：本申请公开了管件移印与激光打标组合工作设备，用以将至少一管件的表面进行移印和激光打标，管件移印与激光打标组合工作设备包括安装在一主机台上的一回转固定装置、至少一移印装置和至少一激光打标装置，回转固定装置可至少固定三个管件，回转固定装置可将三个管件的位置进行轮转，以使三个管件可依次进行移印、激光打标和拆装，管件的移印、激光打标以及装卸工作可同步进行，互不干扰，管件加工的效率大大提高，操作人员可在一个工位上完成对管件的移印、激光打标和拆装，更加方便，管件的移印和激光打标工作都由机械手操作完成，设备整体的自动化程度较高。
管件移印激光组合工作设备

[实用新型]一种用于测量石墨烯薄膜材料电阻率的探针装置-CN202221070128.1有效
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-05-07 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型的一种用于测量石墨烯薄膜材料电阻率的探针装置，探针套筒的套筒限位部设置在套筒腔体的底端，探针弹簧套设在套筒腔体内；探针针轴的针轴卡接部设置在针轴本体的上部，针轴本体的上部套设在套筒腔体内且所述针轴卡接部卡设在套筒限位部之上，针轴端部设置在针轴本体的底端且与石墨烯薄膜材料接触。探针顶端封盖设置在套筒腔体的顶端，探针弹簧的一端与探针顶端封盖相抵，探针弹簧的另一端与探针针轴的顶端平面相抵。针对不同膜厚的石墨烯薄膜材料设计不同的探针端部，精度高，测量结果稳定。使用探针装置测量石墨烯薄膜材料的电阻率，可大大减小对石墨烯薄膜材料表面的破坏，可实现在不同测试原理或不同仪器上多次使用同材料进行测量。
一种用于测量石墨薄膜材料电阻率探针装置

[发明专利]一种用于测量石墨烯薄膜材料电阻率的探针组模块-CN202210489201.7在审
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-05-07 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于测量石墨烯薄膜材料电阻率的探针组模块，探针装置台和样品台之间通过螺栓固定连接；通过螺栓固定连接装置台上部和装置台下部，装置台上部和装置台下部对应设有正方形顶点分布的四个探针留置孔，弹簧探针固定设置在探针留置孔内；样品台主体上设有正方形的样品放置框，样品放置框的顶点上设有圆角形的探针放置框，探针放置框与探针留置孔的位置相对应。本发明改变了现有技术对石墨烯薄膜材料的表面破坏现状且不可再次使用的问题，可实现在不同测试原理或不同仪器上测试，对材料电学性质对比确定准确值。本发明使用操作简单，流程简洁，将样品制作为符合范德堡法测试的要求后将探针装置台和样品台上下结构相连即可保证稳定连接。
一种用于测量石墨薄膜材料电阻率探针模块

[发明专利]一种用于测量石墨烯薄膜材料电阻率的探针装置-CN202210489246.4在审
发明人： 金森林;曹俊伟;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-05-07 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于测量石墨烯薄膜材料电阻率的探针装置，探针套筒的套筒限位部设置在套筒腔体的底端，探针弹簧套设在套筒腔体内；探针针轴的针轴卡接部设置在针轴本体的上部，针轴本体的上部套设在套筒腔体内且所述针轴卡接部卡设在套筒限位部之上，针轴端部设置在针轴本体的底端且与石墨烯薄膜材料接触。探针顶端封盖设置在套筒腔体的顶端，探针弹簧的一端与探针顶端封盖相抵，探针弹簧的另一端与探针针轴的顶端平面相抵。针对不同膜厚的石墨烯薄膜材料设计不同的探针端部，精度高，测量结果稳定。使用探针装置测量石墨烯薄膜材料的电阻率，可大大减小对石墨烯薄膜材料表面的破坏，可实现在不同测试原理或不同仪器上多次使用同材料进行测量。
一种用于测量石墨薄膜材料电阻率探针装置

[发明专利]一种高质量压电薄膜退火降温方法和制备方法-CN202110702230.2在审
发明人：张素伟;任玲玲;姚雅萱;金森林;李硕 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2021-06-21 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： H01L41/33 文献下载
摘要：本发明实施例涉及压电材料技术领域，具体涉及一种高质量压电薄膜退火降温方法和制备方法。所述退火降温方法为在压电薄膜退火后包括第一段降温过程和第二段降温过程；所述第一段降温过程为在退火炉内以降温速率为0.5‑1℃/s降温至第一温度；所述第二段降温过程为在退火炉内以2‑3℃/s的降温速率从第一温度降温至第二温度。本发明通过控制退火后降温段数的降温速率、降温温度以及降温时长，使压电薄膜与衬底间由于热膨胀系数不同导致薄膜内部产生的应力得到缓慢释放，减少薄膜内部的裂纹，提升薄膜质量，进而降低漏电流，从而提升其电学性能。
一种质量压电薄膜退火降温方法制备

[实用新型]一种薄膜材料相变温度的测量装置-CN202021907952.9有效
发明人： 金森林;李硕;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： G01N25/12 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种薄膜材料相变温度的测量装置，包括：光学组件；真空腔，所述真空腔的顶部开设有入光孔，所述入光孔与所述光学组件的入射光线相对设置；高温炉，所述高温炉设置于所述真空腔内，所述高温炉的底部和侧向均安装有电阻加热片，所述电阻加热片通过导线与电源连接；样品室，所述样品室设置于所述高温炉内，所述样品室通过导热结构与所述电阻加热片导热连接，且样品放置于所述样品室内，热电偶内嵌于所述样品室中，并通过探头与所述样品相接触。其提高了薄膜材料相变温度的测量准确性。
一种薄膜材料相变温度测量装置

[发明专利]一种薄膜材料相变温度的测量装置-CN202010918872.1在审
发明人： 金森林;李硕;任玲玲 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G01N25/12 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种薄膜材料相变温度的测量装置，包括：光学组件；真空腔，所述真空腔的顶部开设有入光孔，所述入光孔与所述光学组件的入射光线相对设置；高温炉，所述高温炉设置于所述真空腔内，所述高温炉的底部和侧向均安装有电阻加热片，所述电阻加热片通过导线与电源连接；样品室，所述样品室设置于所述高温炉内，所述样品室通过导热结构与所述电阻加热片导热连接，且样品放置于所述样品室内，热电偶内嵌于所述样品室中，并通过探头与所述样品相接触。其提高了薄膜材料相变温度的测量准确性。
一种薄膜材料相变温度测量装置

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