专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]反射率测定装置-CN200610006486.5有效
  • 松本茂树;野泽繁典;小川义正 - 优志旺电机株式会社
  • 2006-02-06 - 2006-08-30 - G01N21/55
  • 一种反射率测定装置,即使被载置于微芯片上的被测定部位(试纸)被透明构件所覆盖,而被测定部位上的检体量是μl量级的微量的情况下,仍可获得良好的检出灵敏度。该反射率测定装置,具备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部(7、8)与受光部(9),在微芯片(1)的被测定部位(4)上照射来自光放出部(7、8)的光,以受光部(9)来接受来自被测定部位(4)的反射光,以测定被测定部位(4)的反射率,其特征为,是将微芯片(1)的被测定部位(4)以透明构件(6)覆盖的构造,即,光放出部(7、8)配置在被测定部位(4)的正上方,来自光放出部(7、8)的照射区域被收敛在被测定部位(4)内,在包含光放出部(7、8)的发光中心点而垂直于微芯片(1)的假想面上,对于被测定部位(4)的照射区域的端部上的法线,令反射光所形成的角度为θ(°),令被测定部位正上方所配置的光放出部(7、8)所放射出来的光的扩张角为α(°),令透明构件(6)的折射率为n时,受光部(9)配置在满足(1/2)α≤θ≤sin-1 (1/n)的关系的角度范围θ内。
  • 反射率测定装置
  • [发明专利]微芯片检查装置及其构成部件-CN200510125124.3无效
  • 野泽繁典;松本茂树 - 优志旺电机株式会社
  • 2005-11-18 - 2006-05-24 - G01N21/27
  • 本发明的目的在于提供一种即使使用放电灯作为光源时,也可得到高测定精度的微芯片检查装置、以及用于该微芯片检查装置的微芯片及芯片架。一种微芯片检查装置,具备具有吸光光度测定部的微芯片,透过微芯片的吸光光度测定部的由光源放射的光在透射光受光部被接受,其特征在于,设有:孔径部,沿所述微芯片的吸光光度测定部的光轴方向直线状地延伸,并通过使从其一端射入的由光源放射的光从另一端射出而将其导入所述微芯片的该吸光光度测定部;入射光分割反射镜,配置于从孔径部的一端至吸光光度测定部的光路上,且使射入的光的一部分透射,使另一部分反射;以及反射光受光部,用于接受来自该反射镜的反射光。
  • 芯片检查装置及其构成部件
  • [发明专利]微片-CN200510106813.X无效
  • 松本茂树;野泽繁典 - 优志旺电机株式会社
  • 2005-09-22 - 2006-03-29 - G01N21/31
  • 本发明目的在于提供一种微片,没有对检测部的光入射面等带来不良影响的担心,从而可以对吸光度进行正确的测定。一种微片,由板构件构成,包括导入检体的检体导入部、与该检体反应的试剂、混合该试剂和所述检体而生成测定液的混合部、和用于填充该测定液的检测部,其特征在于,所述检测部在长度方向的至少一方的端部形成具有光入射面或者光出射面的凹处。
  • 微片
  • [发明专利]吸光度测定单元-CN200510106812.5无效
  • 松本茂树;野泽繁典 - 优志旺电机株式会社
  • 2005-09-22 - 2006-03-29 - G01N21/31
  • 本发明提供一种微片用的吸光度测定单元,即使将放电灯用作测定用光源而进行微片的吸光度测定,测定误差也很小。一种吸光度测定单元,是一种使用微片的吸光度测定单元,由微片和装入该微片的片架构成,其中,该微片由相互贴合的两张板部件构成,在贴合面具有空洞部,该空洞部连通地构成分析液导入部、试剂蓄积部、试剂混合部、和沿该板部件的一端面直线状地配置的吸光度测定部,其中,在片架上形成毛细管部,该毛细管部,其光轴与该吸光度测定部一致,具有比该吸光度测定部的垂直于光轴的剖面径小的开口径,用于导入光。
  • 光度测定单元

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