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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]飞行时间质谱仪和在飞行时间质谱仪中分析离子的方法-CN200780050597.9有效
发明人：罗杰·贾尔斯;迈克尔·苏达科夫;赫尔曼·沃尔尼克 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2007-12-07 - 公布日： 2009-12-09 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：公开了一种飞行时间质谱仪(1)，包括：离子源、用于接收由离子源供给的采样离子的分段式线性离子装置(10)和用于分析从分段式存储装置喷出的离子的飞行时间质量分析器。俘获电压被施加至分段式存储装置，以将离子初始俘获在两个或更多个相邻的段构成的组中，且随后将他们俘获在分段式存储装置中的比段构成的组短的区域中。俘获电压对于提供沿装置(10)的长度均匀的俘获场也是有效的。
飞行时间质谱仪分析离子方法

[发明专利]同轴飞行时间质谱仪-CN200780045819.8有效
发明人：罗格·贾尔斯;迈克尔·苏达科夫;赫尔曼·沃尔尼克 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2007-12-07 - 公布日： 2009-11-18 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：公开了一种同轴飞行时间质谱仪，包括纵轴、以及在纵轴的相对的端部处的第一和第二离子镜。离子沿着偏离纵轴的输入轨迹进入质谱仪，并且在所述镜之间经历一次或多次通过之后，沿着偏离纵轴的输出轨迹离开，用于由离子探测器检测。所述输入轨迹和所述输出轨迹以不大于tan(I)的角度偏离所述纵轴，其中D_min是所述离子镜的横向尺寸或其最小横向尺寸，且L为所述离子镜的入口之间的距离。
同轴飞行时间质谱仪

[发明专利]多反射飞行时间质量分析器和包括该质量分析器的飞行时间质谱议-CN200780038242.8有效
发明人： 迈克尔·苏达科夫 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2007-10-12 - 公布日： 2009-09-02 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：本发明提供了一种多反射TOF质量分析器，具有两个平行无栅的离子反射镜，每个离子反射镜具有在漂移方向(Z)上伸长的结构。所述离子反射镜提供了由在与漂移方向(Z)正交的飞行方向(X)上离子的多次反射而形成的折叠的离子路径。所述分析器还具有另外的无栅离子反射镜，用于在所述漂移方向(Z)上反射离子。在操作中，由于离子沿所述折叠的离子路径具有不同的飞行时间而根据质荷比将离子在空间上分离，并且，相对于飞行方向和漂移方向，对具有实质上相同质荷比的离子进行能量聚焦。
反射飞行时间质量分析器包括质谱议

[发明专利]串联离子阱飞行时间质谱仪-CN200580005746.0有效
发明人： 迈克尔·苏达科夫;丁力 -专利权人：岛津欧州研究所
申请日： 2005-02-23 - 公布日： 2007-03-07 - 主分类号： H01J49/40 文献下载
摘要：一种串联线性离子阱和飞行时间质谱仪，其中，离子阱具有与质谱仪的飞行轨道正交的直线中心轴。离子阱包括：一组电极(401、403、402、404)，至少一个所述电极具有用于向质谱仪发射离子的开口；一组DC电压电源(+V、－V、V1、V2)，用于提供离散DC电平，以及一定数目的快速电子开关(409)，用于使DC电源与至少两个所述电极连接/断开；中性气体，填充离子阱；以及数字控制器，提供用于离子捕获、操作离子、冷却的切换过程，并且包括从离子阱向质谱仪发射所有离子的状态。
串联离子飞行时间质谱仪

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