专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]服务器配置测试方法及计算设备-CN202310184556.X在审
  • 谷飞扬;闵鹏 - 超聚变数字技术有限公司
  • 2023-02-28 - 2023-07-04 - G06F11/22
  • 本申请公开了服务器配置测试方法及计算设备,涉及计算机技术领域,提高了对待测服务器进行测试的效率。方法包括:从待测服务器的至少两条配置基线中确定待测配置基线,配置基线中包含待测服务器支持配置的部件;获取待测配置基线对应的至少一个目标测试用例,目标测试用例是用于对按照待测配置基线部署的待测服务器进行测试的测试用例;对按照待测配置基线部署的待测服务器执行目标测试用例,得到待测配置基线的测试结果,待测配置基线的测试结果用于指示按照待测配置基线部署的待测服务器的测试情况。
  • 服务器配置测试方法计算设备
  • [发明专利]插拔装置和电子器件的插拔方法-CN202211296728.4在审
  • 谷飞扬;王强;叶强 - 超聚变数字技术有限公司
  • 2022-10-21 - 2023-04-04 - H01R43/26
  • 本申请提供一种插拔装置和电子器件的插拔方法,用以简化插拔装置的结构,降低插拔装置的成本。插拔装置包括运动机构和夹持机构。运动机构可沿Z轴方向移动。夹持机构安装于运动机构的一侧。夹持机构包括两个夹持组件和驱动器,沿X轴方向上,两个夹持组件相对设置。驱动器驱动至少一个夹持组件沿X轴方向移动,两个夹持组件夹紧电子器件,运动机构沿Z轴方向移动,且带动夹持机构沿Z轴方向移动,将电子器件插入电子设备的插槽,或,将电子器件自电子设备的插槽拔出。
  • 装置电子器件方法
  • [发明专利]一种License认证方法及计算机设备-CN202211310382.9在审
  • 张梁伟;谷飞扬;王强 - 超聚变数字技术有限公司
  • 2022-10-25 - 2023-03-21 - H04L9/40
  • 本申请公开一种License认证方法及计算机设备,涉及通信技术领域,能够提升License认证的效率和安全性。该方法应用于局域网中的第一节点;第一节点中包含已激活的目标客户端;该方法包括:接收第二节点发送的License认证请求;License认证请求用于请求验证第二节点对目标客户端的使用权限;第二节点为局域网中的节点,且第二节点中包含未激活的目标客户端;在确定第二节点具有目标客户端的使用权限的情况下,向第二节点发送License授权文件;License授权文件用于第二节点激活目标客户端。
  • 一种license认证方法计算机设备
  • [发明专利]测试环境匹配方法、装置、计算设备和存储介质-CN202211515653.4在审
  • 王强;谷飞扬 - 超聚变数字技术有限公司
  • 2022-11-30 - 2023-03-14 - G06F11/22
  • 本申请实施方式涉及计算机技术领域,具体公开了一种测试环境匹配方法、装置、计算设备和存储介质,其中,测试环境匹配方法包括:根据测试用例获取环境配置文件,其中,环境配置文件用于记载测试用例执行时所需的环境要求;对环境配置文件进行解析,得到环境结构Topo文件;根据环境结构Topo文件在环境池中进行匹配,确定测试用例的测试环境。采用本申请的方法,可以实现测试用例和测试环境之间的实时匹配、快速匹配和释放,继而节省测试环境搭建或人工查找设备的时间,在降低人力成本的同时,可以提高测试效率和设备的利用率。
  • 测试环境匹配方法装置计算设备存储介质
  • [发明专利]故障注入测试方法和系统-CN202211049234.6在审
  • 闵鹏;谷飞扬;石俊 - 超聚变数字技术有限公司
  • 2022-08-30 - 2023-01-17 - G01R31/28
  • 本申请关于一种故障注入测试方法和系统,涉及电路测试技术领域,在本申请中,该方法应用于待测电路,待测电路包括多个候选元组,每个候选元组包括信号的标识以及信号的发送器件和接收器件,该方法包括:根据所述多个候选元组与多个测试用例元素的预设对应关系,生成与所述待测电路的待测元组对应的目标测试用例;待测元组为多个候选元组中的一个。根据目标测试用例对待测电路进行故障注入测试。本申请提供的方法通过候选元组和多个测试用例元素之间的预设对应关系,能够实现待测电路的测试用例的自动生成和自动测试,解决故障注入测试的测试周期长,测试效率低的技术问题。
  • 故障注入测试方法系统

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