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[发明专利]晶圆检测设备、检测方法、系统及可读存储介质-CN202211582980.1在审
发明人：别晓辉;王明望;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开的一种晶圆检测设备、检测方法、系统及可读存储介质，其中检测设备包括：物料载台，用于承载吸附待测晶圆；光机检测装置，位于所述物料载台的上方，用于采集待测晶圆的晶圆图像，包括相机，光源，激光器，筒镜以及物镜；主机，与所述光机检测装置通信连接，用于处理所述光机检测装置采集到的晶圆图像；运动轴，与物料载台固定连接，用于带动物料载台运动；承载平台，所述运动轴与所述承载平台滑动连接，用于限定所述运动轴在承载平台上进行运动。本发明利用晶圆检测设备实时聚焦解决了运动到不同位置成像模糊的问题，改善了采集图像质量，检测准确性得以提升；收集不良训练AI模型利用机器作业代替人工作业，解决了人工对缺陷复判和分类问题。
检测设备方法系统可读存储介质

[发明专利]一种晶圆晶粒排列检测方法及系统-CN202211671570.4有效
发明人：别晓辉;陶思展;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请目的在于提供一种晶圆晶粒排列检测方法及系统，所述方法包括以下步骤：按照预设轨迹扫描整张晶圆料片，得到一系列局部小料图像；通过拼接算法将所有小料图像拼接成一张完整的大图；基于八邻域的连通图算法，将大图中同一个连通域内的晶粒进行排序；根据小料图像的像素坐标和Label坐标，利用计算机视觉算法和图形学算法检测晶粒边缘，根据晶粒边缘，通过膨胀操作和腐蚀操作得到缺陷区域，根据缺陷区域内晶粒排列情况确定晶粒排列不齐类型。本申请使用图像处理中的膨胀和腐蚀操作，膨胀与腐蚀属于形态学范畴，膨胀用于处理缺陷问题，腐蚀用于处理毛刺问题。膨胀操作会填补缺陷，腐蚀操作会腐蚀掉毛刺。本发明可以提高晶圆晶粒排列检测的检出率。
一种晶粒排列检测方法系统

[发明专利]一种半导体视觉检测快速部署和运维的方法、系统及存储介质-CN202210168459.7有效
发明人：别晓辉;梁千柱;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2022-02-24 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06F8/60 文献下载
摘要：本申请提供了一种半导体视觉检测快速部署和运维方法、系统和存储介质。本申请采用低代码的思想，通过配置的方式快速的实现机器视觉算法的调试可视化和逻辑流程，并以解决方案包的形式进行快速的部署；通过将半导体封装和晶圆检测领域中大量人为操作的功能场景集成在一套软件平台中，对机台的配置参数，训练数据，训练模型进行暂存和版本的管理，通过可视化图表实时监测模型训练的过程，使得模型数据准确快速，解决了需求复杂多变引发的开发响应速度慢，现场生产过程中维护成本高，调试迭代的复杂度高等问题。
一种半导体视觉检测快速部署方法系统存储介质

[发明专利]一种农产品品质分类方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202110310015.8有效
发明人：别晓辉;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-03-24 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G06V10/764 文献下载
摘要：本申请涉及一种农产品品质分类方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取农产品的表面图像数据；将所述农产品的表面图像数据输入预设品质分类模型，获得所述农产品的分类向量；其中，所述预设品质分类模型包括软化后的softmax函数，所述分类向量的维度与样本的类别数目相同；获取每个类别的所述样本的品质分数；将所有所述分类向量中每个元素与对应类别的所述样本的品质分数相乘后再相加，获得所述农产品的品质打分分数。采用本方法能够提高农产品分类准确度。
一种农产品品质分类方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种适用于LED芯片的外观缺陷检测方法、系统及存储介质-CN202210294871.3在审
发明人：别晓辉;童欣;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2022-03-24 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例提出了一种适用于LED芯片的外观缺陷检测方法、系统及存储介质，该方法包括获取包含潜在外观缺陷的结构化图像，并基于特征识别方式，从结构化图像中定位到LED芯片在图像中所处的坐标位置；根据坐标位置，从结构化图像中分割得到目标检测图像；从目标检测图像中确定存在外观缺陷的前景区域；在前景区域涵盖的图像范围内，确定外观缺陷所属的几何特征，并根据几何特征确定缺陷类别，几何特征包括区域面积、圆满度、紧密度、空洞数、空洞面积、圆度、凸度、矩形度、以及长宽比中心距偏差中的至少一种。该方法的实施能够提高LED芯片的外观缺陷检测效率。
一种适用于 led 芯片外观缺陷检测方法系统存储介质

[发明专利]一种工业缺陷检测方法及系统-CN202210274411.4在审
发明人：别晓辉;李智勇;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2022-03-21 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开的一种工业缺陷检测方法及系统，所述系统包括：接收模块、检测模块、分选模块、性能分析模块、后处理模块、可视化模块；所述方法包括：初始化系统：分别初始化检测模型和分选模型；输入图片，并对图片进行校验，剔除坏的图片，获得待检测图像；根据输入待检测图像的数量，实时统计当前系统性能和当前进程的系统资源占用情况，调整检测模块的线程数；采用形状匹配的定位方式对待检测图像缺陷区域进行定位；然后再利用传统的边缘检测、动态阈值以及结合深度学习的分类模型等对图片进行分选，分选出缺陷类型；将分选后的结果进行统计分析，再将最后的结果进行可视化。本发明可以提高工业缺陷检测的检出率。
一种工业缺陷检测方法系统

[发明专利]一种网络模型训练的控制方法、系统-CN202110682636.9有效
发明人：别晓辉;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-06-21 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G06F9/54 文献下载
摘要：本申请涉及一种网络模型训练的控制方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：客户端获取训练请求，并发送至云服务中间端；其中，所述训练请求包括网络模型类型、训练数据和训练任务标识；所述云服务中间端接收所述训练请求，解析得到所述训练数据，并将其保存至数据库，并根据所述网络模型和训练任务标识，将所述训练请求转换成第一消息体发送至计算服务端；所述计算服务端根据所述第一消息体，从所述数据库下载训练数据对网络模型进行训练。采用本方法能够实现网络模型的自动下发和训练。
一种网络模型训练控制方法系统

[发明专利]目标标注方法及装置-CN202110439421.4有效
发明人：别晓辉;胡海峰;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-04-23 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明提供了一种目标标注方法及装置，涉及计算机技术领域。包括获取待标注图像；以及基于预先确定的第一标注规则，对多个待标注目标中的第一目标进行标注；并且当多个待标注目标中除第一目标以外，还包括第二目标时，生成针对第二目标的待标注提示信息，针对第二目标的待标注提示信息用于指示对第二目标采用第二标注规则进行标注。以此可以极大程度地提高标注效率，节省人力资源。
目标标注方法装置

[发明专利]检测产品缺陷的方法和装置-CN201910141300.4有效
发明人：别晓辉;别伟成;张哲;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2019-02-26 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测产品缺陷的方法和装置。其中，该方法包括：获取待检测产品的产品图像，其中，待检测产品包括多个子产品；对产品图像进行分割处理，得到多个子图像，其中，每个子图像包含至多一个子产品；根据预设模型对多个子图像进行处理，确定每个子产品对应的缺陷等级，其中，预设模型为使用多组数据通过神经网络训练出的，多组数据中的每组数据至少包括图像以及图像对应的缺陷等级。本发明解决了现有技术对包含多个子产品的产品进行检测时，检测效率低、准确率低的技术问题。
检测产品缺陷方法装置

[发明专利]激光打标方法及装置-CN202110495700.2有效
发明人：别晓辉;魏鹏;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-05-07 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种激光打标方法及装置，涉及计算机技术领域。包括基于预先确定的相机标定方法对相机的参数进行标定；基于预先确定的训练数据，在X轴和Y轴进行像素距离的线性回归矫正，确定梯形化矫正参数，其中，所述X轴和所述Y轴属于激光坐标系，所述像素距离为像素在图像坐标系中代表激光坐标系的实际物理距离；基于所述相机的标定参数以及所述梯形化矫正参数，确定相机坐标系和激光坐标系的转换矩阵；基于所述转换矩阵进行打标。克服了现有技术中矫正方式精度低，人员工作量较大的缺点。
激光方法装置

[发明专利]一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置-CN202110431688.9有效
发明人：别晓辉;徐盼盼;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置。所述方法包括：获取多张工业颗粒连片制品分割图像；根据所述工业颗粒连片制品分割图像，计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息；对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接，获得工业颗粒连片制品全局图像；所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息；根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息，以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息，计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。采用本方法能够提高颗粒在全局图像的定位效率和准确率。
一种面向工业颗粒连片制品全局定位方法装置

[发明专利]基于多通道特征的工业颗粒连片制品图像切割方法、装置-CN202110462737.5在审
发明人：别晓辉;张哲;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-04-28 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于多通道特征的工业颗粒连片制品图像切割方法、装置。所述方法包括：获取待分割工业颗粒连片制品图像；根据所述待分割工业颗粒连片制品图像，提取多个通道的特征图；判断是否存在前景像素占比大于阈值的所述通道的特征图；如果存在前景像素占比大于阈值的所述通道的特征图，则将所述通道的特征图进行轮廓检测，获得颗粒切割图像。采用本方法能够对多种型号的颗粒自适应的进行切割，提高了切割的准确性。
基于通道特征工业颗粒连片制品图像切割方法装置

[发明专利]一种晶圆缺陷的多晶不良检测方法、装置-CN202110427427.X在审
发明人：别晓辉;王开开;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种晶圆缺陷的多晶不良检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：加载晶圆待检测图像；将所述晶圆待检测图像通过图像阈值分割方法，获得晶圆颗粒图像；对所述晶圆待检测图像进行阈值分割，获得多晶区域的位置；根据晶圆颗粒图像的目标框边界距离，判断所述晶圆颗粒图像是否为多晶不良颗粒；如果所述晶圆颗粒图像不为多晶不良颗粒，再次判断所述晶圆颗粒图像是否位于所述多晶区域的位置；如果所述晶圆颗粒图像位于所述多晶区域的位置，则所述晶圆颗粒图像为多晶不良颗粒。采用本方法能够提高多晶不良缺陷检测的准确率。
一种缺陷多晶不良检测方法装置

[发明专利]基于模板匹配的工业颗粒连片制品图像切割方法、装置-CN202110331219.X在审
发明人：别晓辉;储翌尧;别伟成;单书畅 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于模板匹配的工业颗粒连片制品图像切割方法、装置。所述方法包括：获取待分割工业颗粒连片制品图像；通过颗粒模板小图对所述待分割工业颗粒连片制品图像进行匹配，获得每个颗粒图像的中心位置；对具有多个中心位置的所述颗粒图像进行中心位置合并，获得所述颗粒图像的修正中心位置；根据每个所述颗粒图像的中心位置或修正中心位置，计算预设矩形包围区域，获得所述颗粒图像的颗粒切割图像；其中，所述颗粒图像的中心位置或修正中心位置为所述预设矩形包围区域的中心位置。采用本方法能够对复杂工业颗粒连片制品图像的颗粒图像进行准确切割。
基于模板匹配工业颗粒连片制品图像切割方法装置

[发明专利]LED芯片支架故障自动检测方法和装置-CN201811100640.4有效
发明人：单书畅;别晓辉;别伟成 -专利权人： 视睿（杭州）信息科技有限公司
申请日： 2018-09-20 - 公布日： 2020-10-16 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置。其中，该方法包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的分值用于表征待检测LED芯片支架的故障级别。本申请解决了现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的技术问题。
led 芯片支架故障自动检测方法装置

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