专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]激光雷达-CN202180012167.8在审
  • 加纳康行;福田辽;荒井昭浩 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2021-01-28 - 2022-09-16 - G01S7/481
  • 激光雷达(1)具备:投射部,将从光源射出的激光向与旋转轴(R10)呈锐角的方向投射;受光部,使物体对所述激光的反射光聚光于光检测器;旋转部,使投射部以及受光部相对于旋转轴(R10)旋转而形成圆锥面状的物体探测面(S1)~(S6);以及控制器,探测物体对三维状的监视区域(RM)的侵入。物体探测面(S1)~(S6)被设定为朝向监视区域(RM)而扩展,控制器将与监视区域(RM)对应的探测范围(RD1)~(RD6)设定于物体探测面(S1)~(S6),通过基于激光的发光以及反射光的受光而检测出的物体探测面(S1)~(S6)上的物体的位置包含于探测范围(RD1)~(RD6),来探测物体侵入到监视区域(RM)。
  • 激光雷达
  • [发明专利]测距系统及测距方法-CN201980038467.6在审
  • 田中泰资;荒井昭浩;藤田健二 - 松下知识产权经营株式会社
  • 2019-06-07 - 2021-01-22 - B25J19/06
  • 测距系统(100)包括:第1距离传感器(102);第2距离传感器(103),与第1距离传感器(102)相比,检测范围较小且分辨率较高;以及图像处理装置(110);图像处理装置(110)具备:机械检测部(112),基于由第1距离传感器(102)得到的第1传感器结果(131),检测可动式机械(101)的位置;传感器控制部(113),控制第2距离传感器(103)的检测位置,以对检测到的可动式机械(101)的位置进行检测;以及安全检测部(115),基于由第2距离传感器(103)得到的第2传感器结果(133),控制可动式机械(101)。
  • 测距系统方法
  • [发明专利]光盘装置-CN200680030228.9有效
  • 荒井昭浩;山元猛晴 - 松下电器产业株式会社
  • 2006-09-13 - 2008-08-13 - G11B7/085
  • 提供一种能够稳定地将焦点移动到可进行焦点控制的范围的光盘装置。具备:分光元件,其将来自光源的光分为主光束和副光束;合光元件,其合光主光束和副光束;受光部,其具有多个受光元件,各个受光元件分别接收主光束和副光束的反射光,各个受光元件具有多个受光区域,各个受光区域输出与接收的光量对应的信号;运算部,其根据主光束的反射光,生成表示主光束的焦点和记录层之间的位置关系的第一聚焦信号,根据主光束和副光束的反射光生成第二聚焦信号。该光盘装置,执行第一控制以使焦点移动到记录层,根据第一聚焦信号之间的比较结果将第一控制切换到第二控制,根据第二聚焦信号执行使焦点跟踪记录层的第二控制。
  • 光盘装置
  • [发明专利]光学头-CN200680030363.3有效
  • 永田贵之;安西穰儿;爱甲秀树;森荣信;佐野晃正;金马庆明;荒井昭浩 - 松下电器产业株式会社
  • 2006-10-13 - 2008-08-13 - G11B7/09
  • 光学头具有:第1光学系统,其将来自光源的光,聚光到第1记录层及第2记录层中的某一个上;第2光学系统,其在光被聚光到第1记录层上时,接受并透过由第1记录层反射的反射光及由第2记录层反射的迷惑光;受光元件,其具有多个受光区域,各受光区域输出与通过第2光学系统射入的光的光量对应的信号;以及运算部,其差动运算多个受光区域中的第1受光区域输出的第1信号组之和及第2受光区域输出的第2信号组之和,生成聚焦误差信号。射入第2光学系统的反射光及迷惑光互相干涉,第1受光区域组及第2受光区域组配置成均等地包含了因干涉产生的光量的变动的影响。可减少来自非再现层的反射光引起的干涉的影响,获得良好的伺服信号及再现信号。
  • 光学
  • [发明专利]光学头和光盘装置-CN200680030341.7无效
  • 山崎文朝;荒井昭浩;爱甲秀树 - 松下电器产业株式会社
  • 2006-10-10 - 2008-08-13 - G11B7/09
  • 本发明提供一种可以降低倾斜检测的误差,进行高精度的倾斜检测的光学头,其具有:物镜,其将来自光源的光束聚集到光盘上;受光部,其将由光盘反射的光束用受光面的多个区域分割后受光,输出来自各区域的受光信号;和,倾斜检测部,其根据各受光信号检测出物镜和光盘的相对倾斜。倾斜检测部,根据来自多个区域中,对应光盘半径方向的、关于与光轴相交的假设的基准线对称配置的第1多个区域的受光信号,生成第1推挽信号PP1,根据来自关于基准线对称地配置的、与第1多个区域不同的第2多个区域的受光信号,生成第2推挽信号PP2,并且,根据物镜在光盘半径方向上的位置改变系数k,根据TLT=PP1-k×PP2,生成倾斜检测信号TLT。
  • 光学光盘装置
  • [发明专利]光学头和光盘装置-CN200710148734.4有效
  • 荒井昭浩;金马庆明 - 松下电器产业株式会社
  • 2007-09-06 - 2008-03-12 - G11B7/135
  • 本发明提供一种光学头以及光盘装置,所述光学头具有,对于槽间距不同的光盘,即使在2个副光点的光量不平衡时,也可以提高基于DPP方式生成的TE信号的质量的衍射元件。在3光束方式的光学头中,衍射元件(12),在光盘的直径方向上,被分割为第1区域(31)、第2区域(32)和第3区域(33),第2区域(32)进一步被分割为第4区域(321)和第5区域(322)。第1区域(31)的周期结构,相对于第4区域(321)的周期结构相差1/4周期,第3区域(33)的周期结构,相对于第1区域(31)的周期结构相差1/2周期,第5区域(322)的周期结构,相对于第3区域(33)的周期结构相差1/4周期,且相对于第4区域(321)的周期结构相差1/2周期。
  • 光学光盘装置
  • [发明专利]光信息装置-CN200710088435.6有效
  • 门胁慎一;佐野晃正;荒井昭浩;安田胜彦;龟井智忠;山本博昭;山崎文朝 - 松下电器产业株式会社
  • 2003-08-25 - 2007-09-05 - G11B7/135
  • 本发明涉及一种光拾取头装置、光信息装置及信息再现方法。在使用制作作为光存储媒体轨道的沟时有误差、且TE信号振幅变动的光存储媒体的情况下,降低TE信号振幅的变动。使用跟踪误差信号生成部件,其生成跟踪误差信号,该跟踪误差信号为对将光束照射到期望的轨道上进行控制的信号;所述光检测部件具有多个感光部,所述多个光束照射与轨道垂直方向的不同位置,所述跟踪误差信号生成部件对从所述感光部输出的信号进行差动运算,生成推挽信号,并操作从所述多个光束得到的信号。
  • 信息装置

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