专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种高效探测的硅光电倍增管制备方法-CN202310362257.0有效
  • 李鹏;胡海帆 - 苏州法夏科技有限公司
  • 2023-04-07 - 2023-06-16 - H01L31/107
  • 本发明涉一种高效探测的硅光电倍增管制备方法,包括完成对硅光电倍增管中单个元胞的制备后使用中控处理器根据探测时长调节制备下一元胞过程中的各所述沟槽的尺寸调节至对应值,之后,中控处理器根据元胞的探测效率调节制备下一元胞过程中的光吸收层的厚度至对应值,最终,将预设数量的探测效率符合预设标准的元胞倒置封装集成在读出电子学集成芯片上。本发通过使用自学习的方式,根据各元胞的实际性能对针对下一元胞制备过程中的对应参数进行针对性调整,能够在有效保证后续制得的元胞的探测时长的同时,有效保证了各元胞的探测效率,从而有效提高了使用本发明所述方法制得的元胞的良品率。
  • 一种高效探测光电倍增管制备方法
  • [发明专利]应用于辐射及弱光探测的硅光电倍增管结构及制备方法-CN202210555781.5在审
  • 李鹏 - 苏州法夏科技有限公司
  • 2022-05-19 - 2022-09-20 - H01L31/0352
  • 应用于辐射及弱光探测的硅光电倍增管结构,其硅光电倍增管单个元胞的结构,包括晶圆衬底结构P型低掺杂区、N型掺杂区、N型重掺杂阴极区、光线入射端P型重掺杂区、入射光抗反射层、P型重掺杂沟槽阳极结构、氧化物沟槽隔离结构、淬灭电阻、P型重掺杂沟槽结构金属引出端、读出电子学晶体管硅衬底、读出电路晶体管部分、淬灭电阻金属电极、P型重掺杂沟槽阳极结构;一种应用于辐射及弱光探测的硅光电倍增管的制备方法包括三个步骤。本发明提高了光电倍增管探测器的探测效率,内部电子载流子和空穴载流子的激发了雪崩倍增效应概率,以有效避免像素间电荷串扰。为应用硅光电倍增管的设备稳定、可靠工作起到了有利技术支持。
  • 应用于辐射弱光探测光电倍增管结构制备方法
  • [发明专利]一种光电及射线辐射线阵硅微条探测器制备工艺-CN202210557525.X在审
  • 李鹏 - 苏州法夏科技有限公司
  • 2022-05-19 - 2022-07-29 - H01L27/146
  • 一种光电及射线辐射线阵硅微条探测器制备工艺,探测器的单像素结构制备流程如下,步骤一:在高阻N型低掺杂半导体衬底上,通过离子注入形成一个N型重掺杂区域,经沟槽刻蚀、外延生长、离子注入形式形成三维P型重掺杂及其同掺杂类型的展臂结构;步骤二:在重掺杂区域的像素边缘通过沟槽刻蚀、外延生长、离子注入形式形成三维N型重掺杂,像素N型重掺杂区域通过金属电极引出,加载高电位,其中,半导体衬底的底部为N型重掺杂区域;步骤三:对像素中部的三维P型重掺杂及其同掺杂类型的展臂结构通过金属电极引出,加载低电位。本发明可以降低光生载流子的漂移行程,能提高整体探测效率,避免像素间电荷串扰,能加速子载流子收集。
  • 一种光电射线辐射线阵硅微条探测器制备工艺
  • [外观设计]显示屏幕面板的X射线图像处理图形用户界面(FXImage软件)-CN202230079354.5有效
  • 李鹏 - 苏州法夏科技有限公司
  • 2022-02-18 - 2022-05-10 - 14-04
  • 1.本外观设计产品的名称:显示屏幕面板的X射线图像处理图形用户界面(FXImage软件)。2.本外观设计产品的用途:用于人机交互及图形用户界面的显示。3.本外观设计产品的设计要点:在于图形用户界面的内容、布局。4.最能表明设计要点的图片或照片:界面变化状态图8。5.无设计要点,省略后视图;无设计要点,省略左视图;无设计要点,省略右视图;无设计要点,省略俯视图;无设计要点,省略仰视图。6.图形用户界面的用途:用于X射线探测器的控制与图像接收和处理显示。7.开启软件进入“主视图”;点击“主视图”中的“本地IP地址”下拉列表进入“界面变化状态图1”;点击“界面变化状态图1”中的“连接”进入“界面变化状态图2”;点击“界面变化状态图2”中的“设置”页签,进入“界面变化状态图3”;点击“界面变化状态图3”中的“校正”页签,进入“界面变化状态图4”;点击“界面变化状态图4”中的“高级”页签,进入“界面变化状态图5”;点击“界面变化状态图5”中工具栏的第三个按钮“采集图像数据”进入“界面变化状态图6”;点击“界面变化状态图6”中工具栏的第六个按钮“伪彩色”进入“界面变化状态图7”;点击“界面变化状态图7”中的“数据分析”页签,进入“界面变化状态图8”;点击“主视图”中工具栏的第一个按钮“打开图像”选择主机内的一副静态图进入“界面变化状态图9”。8.该显示屏幕面板用于电脑。
  • 显示屏幕面板射线图像处理图形用户界面fximage软件
  • [外观设计]用于电脑的X射线图像处理图形用户界面(XImaging软件)-CN202130720177.X有效
  • 李鹏 - 苏州法夏科技有限公司
  • 2021-11-02 - 2022-04-08 - 14-02
  • 1.本外观设计产品的名称:用于电脑的X射线图像处理图形用户界面(XImaging软件)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于人机交互及图形用户界面的显示。3.本外观设计产品的设计要点:在于图形用户界面的内容、布局。4.最能表明设计要点的图片或照片:界面变化状态图4。5.无设计要点,省略后视图、左视图、右视图、俯视图和仰视图。6.图形用户界面的用途:用于X射线探测器的控制与图像接收和处理显示。7.图形用户界面的变化状态说明:打开软件进入“主视图”;点击“主视图”中的“连接探测器”进入“界面变化状态图1”;点击“界面变化状态图1”中的“下一步”进入“界面变化状态图2”;点击“界面变化状态图2”中的“下一步”,进入“界面变化状态图3”;点击“界面变化状态图3”中的“完成”,进入“界面变化状态图4”光标放置于“界面变化状态图4”中的“分析”,弹出“界面变化状态图5”;点击“界面变化状态图5”中下拉框的“数据分析”菜单弹出“界面变化状态图6”即数据分析的对话框;光标放置于“界面变化状态图4”中的“校正”弹出“界面变化状态图7”点击“界面变化状态图7”中下拉框的“校正”进入“界面变化状态图8”即探测器校正控制的对话框;点击“界面变化状态图8”中的“下一步”进入“界面变化状态图9”;点击“界面变化状态图9”中的“下一步”进入“界面变化状态图10”;光标放置于“界面变化状态图4”中的“诊断”弹出“界面变化状态图11”点击“界面变化状态图11”中下拉框的“设备状态”菜单进入“界面变化状态图12”即探测器状态对话框;点击“界面变化状态图4”中的“模块设置”页签进入“界面变化状态图13”;点击“界面变化状态图4”中的“校正”页签进入“界面变化状态图14”;点击“界面变化状态图4”中的“滤波”页签进入“界面变化状态图15”;点击“界面变化状态图4”中的“探测器配置”页签进入“界面变化状态图16”;点击“界面变化状态图4”中的“固件升级”页签进入“界面变化状态图17”。
  • 用于电脑射线图像处理图形用户界面ximaging软件

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