专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种温度开关的动态特性测试方法-CN201710944577.1在审
  • 翁润滢;孙斌;赵玉晓 - 中国计量大学
  • 2017-10-12 - 2018-03-06 - G01K15/00
  • 本发明涉及一种温度开关的动态特性测试方法。由于温度开关只有通断信号,没有实质上的温度信号,常规方法只能检测出它的动作温度,而难以测出它的实际动态特性。而本发明提出一种通过多次检测开关不同动态温度下的动作温度来计算出温度开关的动态特性的方法,即输入多个不同升温斜率下的动作温度,使用相关的集成算法,计算出该温度开关的时间常数。本发明可以一次性检测多个不同类型温度开关的动态特性,减小了人工成本,且测试结果准确,可以广泛地应用于各类温度开关的动态特性测试中。
  • 一种温度开关动态特性测试方法
  • [发明专利]一种基于FPGA的温度传感器动态测试方法-CN201710918000.3在审
  • 翁润滢;孙斌;赵玉晓 - 中国计量大学
  • 2017-09-30 - 2018-03-02 - G01K15/00
  • 本发明涉及一种基于FPGA的温度传感器动态测试方法。本发明利用FPGA控制器同时采集不同的温度传感器信号,实现不同种类的温度传感器动态特性的同步测试。使用FPGA控制器根据模块的采集通道,可以一次采集多种不同类型的温度传感器,并且可以根据不同温度传感器的特性设置不同采样时间,实现多个不同类型传感器动态特性的同步测试。计算机通过接口与FPGA控制器进行通信,使用相应识别算法自动分析传感器的动态特性。由于本发明利用控制器的FPGA的编译方法,提高了数据的实时性和精确性(μs级),并且利用了FPGA的并行运行的优点,多路信号可以同步采集。与传统的传感器动态测试方法相比,其大大提高了工作效率,获取数据期间产生的误差也得到了极大的改善。
  • 一种基于fpga温度传感器动态测试方法

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