专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用来自动产生光掩模定单的基于规则的系统和方法-CN200580026720.4无效
  • 查尔斯·E.·克罗克;爱德华·J.·苏蒂勒;丹尼尔·J.·查哈雷恩;尼克·莱德格维 - 美商福昌公司
  • 2005-05-16 - 2007-08-22 - G06F17/50
  • 一种用来以规定格式产生光掩模定单的系统,包括用于光掩模定单数据的输入和存储的至少一个模板或定单,其中所述至少一个模板或定单基于规定光掩模定单格式的要求而创建。所述系统包括与至少一个模板或定单相对应的至少一组规则,其中规则组包括指令,该指令保证用户按照规定定单格式所要求的把完整信息输入到至少一个模板或定单中。模板或定单还可以包括可分离存储的部分和/或子部分。在定单、模板、部分、子部分、等等中的数据字段可以参考技术要求等级,该技术要求等级又容易被修改以同时更新一个或多个定单、模板、部分、子部分、等等。图形用户界面可以与至少一个模板或定单相关联,其中用户可访问至少一个模板或定单,以输入光掩模定单数据并以规定格式创建定单。在至少一个实施例中,至少一个模板或定单通过参考技术要求等级而更新。可选择地,命令行发生器可以用来允许用户输入命令,以产生和/或修改模板和定单。在一个实施例中,预存在数据或信息可以以电子信息的形式输入,并且转换成在定单、模板、部分、子部分、等等中的数字字段。数据处理装置也可以用来把电子信息从外部介质输入到至少一个模板或定单中。
  • 用来动产生光定单基于规则系统方法
  • [发明专利]有可调透光率的嵌入式衰减相移掩模-CN200580013045.1无效
  • 肖广明 - 美商福昌公司
  • 2005-03-17 - 2007-07-25 - G01F9/00
  • 可以独立地选取嵌入式衰减相移掩模(EAPSM)的衰减和相移性质。在挖去嵌入式相移层的区域时或之后,基片的曝光区被蚀刻到预定的深度。然后,嵌入式相移层的附加区域被曝光并修整到预定的厚度,用于提供所需的衰减量,其中基片的最终蚀刻深度可以补偿修整相移层造成的相对相移变化。于是,在单个EAPSM坯体上可以制作有多个单元的矩阵测试装置,该多个单元有不同的衰减度和/或相移量。
  • 可调透光率嵌入式衰减相移
  • [发明专利]二进制半色调光掩模和微型三维装置及其制作方法-CN200480001226.8无效
  • 克里斯托弗·J.·普洛格勒;彼德·莱因斯 - 美商福昌公司
  • 2004-01-22 - 2005-12-07 - G03F9/00
  • 本发明一般涉及改进的二进制半色调(“BHT”)光掩模,和由该种BHT光掩模制作的微型三维结构(如MEM、微光学、光子学、微结构、和其他三维微型装置)。更具体说,本发明提供一种方法,用于设计BHT光掩模布局、把该布局转印到BHT光掩模上、和用本发明方法设计的BHT光掩模制作三维微型结构。就此而言,设计BHT光掩模布局的方法,包括的步骤有:产生至少两个像素;把每一像素分为沿第一轴有可变长度而沿第二轴有固定长度的子像素;和排列这些像素,使通过这些像素的透射光形成图形,以便形成连续色调的、空间的像。这些子像素的面积,应小于计划与所述二进制半色调光掩模一起使用的曝光设备光学系统的最小分辨率。通过使用本方法,能够设计有连续灰度级的BHT光掩模,使在各灰度级之间的光强的变化,既是限定的也是线性的。结果是,当用该种BHT光掩模来制造三维微型结构时,能够在被制作的物体上产生更平滑又更线性的轮廓。
  • 二进制色调光掩模微型三维装置及其制作方法
  • [发明专利]有中间检查薄膜层的改进的光学掩模-CN03820165.8无效
  • 马修·拉斯特;迈克尔·坎格米 - 美商福昌公司
  • 2003-07-08 - 2005-10-05 - G03F9/00
  • 本发明一般涉及改进的光刻中使用的光学掩模,用于制作集成电路及其他半导体装置,更准确地说,是涉及检测这种光学掩模中在处理后的缺陷。具体说,本发明针对一种在其内淀积一层或多层中间层的空白光学掩模,中间层的材料,由在检查设备波长上比在曝光设备波长上有更高消光系数的材料构成。中间层材料要能吸收足够量的光,以满足检查设备的光学要求,同时透过足够量的光,以满足曝光设备的光学要求。结果是,该光学掩模改进了光学掩模的检查结果,又不牺牲半导体写入过程中的透射性质。
  • 中间检查薄膜改进光学

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