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[发明专利]浸透探伤试验用速干式显影剂以及使用该显影剂的浸透探伤试验方法-CN201810385397.9有效
发明人：佐伯理惠;増田隆秀 -专利权人： 码科泰克株式会社
申请日： 2018-04-26 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G03G9/00 文献下载
摘要：本发明的课题是提供一种如下所述的速干式显影剂：由于在涂布后显影剂层立即变白而存在隐蔽性，因此，在使用染色浸透液的浸透探伤试验中，在不等待显影剂干燥的情况下出现清晰的缺陷指示图案从而能够检测开口缺陷部且能够通过目视辨别已涂布的部位，因而作业效率优异，而且，在干燥后能够检测微细的开口缺陷部，并且干燥时间短。本发明的解决手段是提供一种浸透探伤试验用速干式显影剂，其中，其是将氧化钛6～20重量％以及碳酸钙和/或碳酸镁6～20重量％分散在挥发性有机溶剂中而成。
浸透探伤试验用速干式显影剂以及使用方法

[发明专利]探伤装置以及利用探伤装置的伤部检测方法-CN201610202357.7有效
发明人：松本谦二 -专利权人： 码科泰克株式会社
申请日： 2016-04-01 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01N27/84 文献下载
摘要：本发明提供一种防止伤部的检测遗漏以及过检测而提高了伤部的检测率的探伤装置以及利用探伤装置的伤部检测方法。一种磁粉探伤装置(1)，具备：摄像装置(16)，对被检查物(10)的表面进行摄像；以及检测装置(30)，对由摄像装置(16)摄像的原图像进行处理，检测表面处的伤部，其中，检测装置(30)具备：第1抽取部(31)，利用第1阈值对原图像进行二值化处理，抽取第1伤候补部(40)；检查区域生成部(32)，以包括第1伤候补部(40)的方式生成检查区域(42)；第2抽取部(33)，利用第2阈值对检查区域(41)进行二值化处理，抽取第2伤候补部(42)；以及伤判定部(34)，对第2伤候补部(42)进行膨胀处理，检测伤部。
探伤装置以及利用检测方法

[发明专利]磁粉探伤检查用试验体及其制造方法-CN202010577423.5在审
发明人：一本哲男;伊东俊 -专利权人： 码科泰克株式会社
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： G01N27/84 文献下载
摘要：本发明提供一种磁粉探伤检查用试验体及其制造方法，其课题为，作为磁粉探伤检查用试验体，制作带有自然或人工形成的损伤且清洗作业容易，并能够避免磁粉进入损伤的内部以进行再现性高的损伤检测性能评价的磁粉探伤检查用试验体。本发明的磁粉探伤检查用试验体为对磁粉探伤检查系统的损伤检测性能进行评价的试验体，其特征在于，使用负70kPa以下真空度的真空将作为树脂的非磁性物质含浸直到自然或人工形成的损伤的大致底部，并将试验体的表面的未含浸在损伤的内部的非磁性物质去除。
探伤检查试验及其制造方法

[发明专利]探伤装置以及利用探伤装置的缺陷检测方法-CN201780019559.0在审
发明人：西泽慎一;松本谦二;一本哲男 -专利权人： 码科泰克株式会社
申请日： 2017-03-23 - 公布日： 2018-11-23 - 主分类号： G01N27/84 文献下载
摘要：在具备拍摄被检查物的相机、和从由相机取得的原图像检测被检查物的缺陷的检测装置的磁粉探伤装置中，检测装置具有缺陷判定部，该缺陷判定部，在从原图像提取出的缺陷候选部(43)的在长轴方向上具有预先确定的长度的宽度算出区域(Lc)中、缺陷候选部(43)收敛于与缺陷候选部(43)的长轴方向平行的2条直线(s1、s2)之间、且2条直线(s1、s2)之间的距离(宽度w)在预先确定的范围内的情况下，将缺陷候选部(43)判定为缺陷。
被检查物检测装置缺陷判定探伤装置预先确定原图像长轴相机磁粉探伤装置方向平行缺陷检测收敛判定拍摄检测

[发明专利]磁粉探伤装置及磁粉探伤方法-CN201710814628.9在审
发明人：松本谦二;一本哲男 -专利权人： 码科泰克株式会社
申请日： 2017-09-12 - 公布日： 2018-03-20 - 主分类号： G01N27/84 文献下载
摘要：本发明提供一种瑕疵部的检测准确度高、圆周方向的检测能力固定不变的磁粉探伤装置及磁粉探伤方法。磁粉探伤装置(1)具备以水平方向为轴可旋转地支承被检查物(10)的支承部(11)、将被检查物(10)磁化的磁化部(12)、将磁粉液涂覆于被检查物(10)的涂覆部(13)和对被检查物(10)进行摄像的摄像部(15)，构成为，在下方侧将磁粉液涂覆于以固定速度旋转的旋转状态的被检查物(10)的表面，在上方侧进行摄像。
探伤装置方法

[发明专利]涡流探伤方法和涡流探伤装置-CN201310156099.X有效
发明人：松崎秀树;鱼地真道;佐佐武彦;斋藤直树 -专利权人： 码科泰克株式会社
申请日： 2013-04-28 - 公布日： 2017-06-23 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：提供涡流探伤方法和涡流探伤装置。在对像钢轨的轨头发裂那样的以在涡流探伤探头的分辨率以下的很短的间隔密集的缺陷进行探伤的涡流探伤方法中，针对每个缺陷评价缺陷的深度。像图2C那样在位置n以规定的间隔排列图2A的基准信号，对各基准信号的振幅进行调整，以使得调整了各基准信号的振幅之后所合成的基准信号的合成信号与实际缺陷的合成涡流探伤信号一致，求出在基准信号的合成信号与实际缺陷的合成涡流探伤信号最为一致时的基准信号的振幅调整值，利用振幅调整值评价实际缺陷。
涡流探伤方法装置

[发明专利]旋转涡电流探伤探头-CN201010192557.1有效
发明人：日比野俊;藤本贵司;行方重树;小松庆亮;中尾喜之;高田真;阪本诚 -专利权人： 码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社
申请日： 2010-05-24 - 公布日： 2010-11-24 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：一种在旋转圆盘上安装多个Θ型涡电流探伤探头的旋转涡电流探伤探头，可以与瑕疵的方向无关地检测全部方向的瑕疵。4个Θ型涡电流探伤探头(P11～P22)被配置在旋转圆盘(111)的旋转中心(Ds1)的周围，并被埋入旋转圆盘(111)内。这些涡电流探伤探头(P11～P22)的检测线圈(Dc11～Dc22)的线圈面互相平行配置，而且与旋转圆盘(111)的旋转面垂直。这些检测线圈的线圈面相对于通过涡电流探伤探头(P11、P12)的中心(Ps11、Ps12)的直线(Y1)倾斜θ。检测线圈(Dc11、Dc12)被和动连接，检测线圈(Dc21、Dc22)被差动连接。
旋转电流探伤探头

[发明专利]涡流探伤方法和涡流探伤装置-CN200910261679.9无效
发明人：日比野俊;藤本贵司;小松庆亮;中尾喜之;高田真;阪本诚 -专利权人： 码科泰克株式会社;住友金属工业株式会社
申请日： 2009-12-24 - 公布日： 2010-08-04 - 主分类号： G01N27/90 文献下载
摘要：本发明提供涡流探伤方法和涡流探伤装置。该涡流探伤方法具有将检测线圈配置在励磁线圈内的能旋转的涡流探伤探头，用于缩小由检测线圈的旋转位置的变化所引起的检测灵敏度的变化(检测灵敏度偏差)。其中，涡流探伤探头包括安装在圆盘(DS)上的励磁线圈(EC1)、检测线圈(DC1)以及励磁线圈(EC2)、检测线圈(DC2)。当在圆筒状的被检查体(T)的周面上设置涡流探伤探头、并使圆盘(DS)旋转时，由于检测线圈(DC1、DC2)与检查面之间的距离(离开量)发生变化，因此伤痕信号的检查灵敏度也发生变化。为了缩小检测灵敏度的变化，对检测线圈(DC1、DC2)的旋转位置(旋转角度)进行检测而调整检测灵敏度。
涡流探伤方法装置

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