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[发明专利]数据监控装置及系统-CN202210399286.X在审
发明人：虞磊颋;金炯德;郭立新;余智松 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2022-04-15 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：一种数据监控装置及系统，其中，数据监控系统包括：工作站计算机；以及数据监控装置，包括：信号转换模块，通过一通用接口总线(GPIB)接口连接多个GPIB分析设备，并用以将多个GPIB分析设备接收的多个分析数据从GPIB信号转换为通用输入输出(GPIO)信号；存储装置，用以存储一监控程序，监控程序用以实时监控多个转换为GPIO信号的分析数据；处理器，连接信号转换模块以及存储装置，用以执行监控程序；以及局域网络通信模块，连接处理器以及工作站计算机，用以通过一有线网络连接接口，存储多个转换为GPIO信号的分析数据至工作站计算机。
数据监控装置系统

[发明专利]云端仪器预约系统及方法-CN202110974624.3在审
发明人：褚方民;刘磊 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2021-08-24 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G06Q10/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种云端仪器预约方法，适用于云端仪器预约系统包括具有多个远程仪器的远程仪器群组、仪器预约系统及防御服务器,其中仪器预约系统用以提供预约信息及仪器信息，预约信息包括多个可预约时段及多个已预约时段，且每一个已预约时段指定多个远程仪器的其中一个。云端仪器预约方法包括：防御服务器根据配对信息及预约信息，在多个已预约时段中任一已预约时段开始时，建立防御服务器与任一已预约时段指定的远程仪器之间的安全连接，并建立指定的远程仪器与任一已预约时段指定的用户工作站之间的专用连接，且在任一已预约时段结束时，终止安全连接及专用连接。
云端仪器预约系统方法

[发明专利]自动化测试系统及方法-CN202110571411.6在审
发明人：褚方民;李志顺;周永明 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：一种自动化测试方法适用于自动化测试系统。自动化测试系统包括云端主机、测试主机及待测装置。云端主机存储多个测试IP，其中每一个测试IP包括默认量测条件。测试主机包括GUI测试软件，而GUI测试软件包括测试流程编辑器。自动化测试方法包括：GUI测试软件判断测试IP是否被拖放至测试流程编辑器的编辑画面中。若是，测试流程编辑器根据测试IP产生测试程序。
自动化测试系统方法

[发明专利]自动测试设备系统及其自动测试设备方法-CN202110573057.0在审
发明人：王祎;王家敏;方延奋;郭峻 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：一种自动测试设备方法，适用于一自动测试设备系统。所述自动测试设备方法包括：经过一先进先出存储器接收一待测装置的寄存器数值、经过所述先进先出存储器接收一自动测试设备的输入数值、以及经过所述先进先出存储器接收所述自动测试设备的选择信号以写入所述寄存器数值或是所述输入数值至所述待测装置以进行测试。借此，使自动测试设备与待测装置仅通信一次，使读取‑修改‑写入的测试程序执行效率更为提高，进而减少了测试时间。
自动测试设备系统及其方法

[发明专利]循环迭代校准方法及使用其的测试设备-CN202110379301.X在审
发明人：徐韡;王贺春 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：一种循环迭代校准方法及使用其的测试设备。循环迭代校准方法包括：内循环步骤及外循环步骤。内循环步骤包括：根据目标功率以及输出功率，通过第一梯度算法调整对第一已知良好单元的输入功率，接着通过第二梯度算法调整输入功率，第一梯度算法的步长大于第二梯度算法的步长；以及对于通过第二梯度算法调整的输入功率取第一平均值。外循环步骤包括：以第二已知良好单元进行内循环步骤，以得到第二已知良好单元的第二平均值；以及将第一平均值及第二平均值取平均得到最终平均值，并根据最终平均值校准测试设备。其功效包括可减少测试次数，提升了校准的效率，并可减少多个已知良好单元之间的工作性能差异或单个已知良好单元的随机误差而产生的误差。
循环校准方法使用测试设备

[发明专利]产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质-CN202011007511.8在审
发明人：徐琨 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2020-09-23 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： G06F17/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质，该检测方法包括获取多个历史批次产品的历史测试数据；对历史测试数据进行筛选以获取中间测试数据；根据预设测试参数对中间测试数据进行分组以获取第一分组；根据第一分组的中间测试数据获取第一分组的分布类型；在分布类型为预设分布类型时将分布类型对应的第一分组作为目标分组；根据目标分组对应的中间测试数据获取目标测试限值。本发明基于历史测试数据确定初始测试限值，实现在新批次产品检测之前收紧关键限值，以保证对新批次产品的测试数据的检测准确性；能够自适应地对测试限值的动态调整，实时有效地检测出存在异常数据的芯片测试数据，提高了芯片的测试质量。
产品测试数据检测方法系统电子设备存储介质

[实用新型]探测装置-CN202120222840.8有效
发明人：张仁瑜;温鵬翔;林婉婷;林畇钰 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本创作提供了一种探测装置，其包括探针卡、与探针卡互相接合的探针器，及支持器。探针卡包括基板、凸出单元及多个探针。基板具有第一表面及第二表面，该第二表面相对于该第一表面。凸出单元设置于该基板的该第一表面上。该多个探针，其设置于该基板的该第二表面，并从该基板的该第二表面凸出。探针器包括板体、杆件及容纳单元。板体包括通孔，而杆件是横跨该通孔。容纳单元设置于该杆件，且配置为可容纳该凸出单元，以使该探针卡及该探针器互相接合。支持器设置于该探针卡的该第二表面及该探针器之间，其包括传感器。
探测装置

[发明专利]用于光声资料处理的方法、装置及光声图像化装置-CN201910485760.9在审
发明人：朱君懿 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2019-06-05 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于光声资料处理的方法、装置及光声图像化装置。其中方法包括：获取光声图像化装置针对生物组织检测的若干原始光声信号数据，所述原始光声信号数据与所述生物组织中的检测点一一对应；筛选部分或全部的所述原始光声信号数据作为图像显示数据；获取所述图像显示数据对应的检测点在所述生物组织中的位置坐标；根据所述位置坐标构建生物组织结构；计算所述图像显示数据对应的检测点的颜色值；生成并显示所述生物组织结构的显示图像，所述显示图像在所述图像显示数据对应的检测点按照对应的颜色值着色。本发明有利于直观观察生物组织结构的形态以及数据信息的变化趋势、相对关系等，增加了光声信号的处理过程，丰富了成像显示功能。
用于资料处理方法装置图像化装

[实用新型]探测装置-CN201920707162.7有效
发明人：温鹏翔;张仁瑜;林婉婷 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2019-05-16 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种探测装置，其包括探针卡及探针器。该探针卡包括基板、凸出单元、传感器及复数个探针；该基板具有第一表面以及第二表面，该第二表面相对于该第一表面；该凸出单元设置于该基板，并从该基板的该第一表面凸出；该传感器设置于该凸出单元；及该复数个探针设置于该基板的该第二表面。该探针器包括板体及杆件；该板体包括通孔，该杆件横跨该通孔，并包含容纳单元，其中该容纳单元配置为可容纳该凸起单元，以使该探针卡及该探针器互相接合。
探测装置

[发明专利]电缆总成、连接器和半导体测试器-CN201210246638.4有效
发明人：铃木照仁;崎山伸 -专利权人：日本莫仕股份有限公司;爱德万测试股份有限公司
申请日： 2012-07-16 - 公布日： 2013-01-30 - 主分类号： H01R13/652 文献下载
摘要：本发明公开了一种电缆总成、连接器和半导体测试器。本发明的目的是提供一种可改进端子密度并且防止信号传输性能劣化的连接器。在本发明的电缆总成中，当辅助接地导体（4）被设置成面向支撑式绝缘构件（58）的下表面时，处于弹性变形状态的弹性变形件（45）与从支撑式绝缘构件（58）的下表面突出的接地端子（54）的稍端形成接触。
电缆总成连接器半导体测试

[发明专利]连接器及包括该连接器的性能板、母板、半导体测试装置-CN201210260465.1有效
发明人：我田浩隆;崎山伸;滨博之;铃木照仁;矢岛裕之;水村晶范 -专利权人：日本莫仕股份有限公司;爱德万测试股份有限公司
申请日： 2012-07-25 - 公布日： 2013-01-30 - 主分类号： H01R13/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种连接器及包括该连接器的性能板、母板、半导体测试装置。在连接器（1）中，第一半圆筒部分（6）以挠性变形状态装配于绝缘构件（5），使得其圆周方向的两个端部之间的间隙被加宽。第二半圆筒部分（7）以挠性变形状态装配于处在第一半圆筒部分（6）中的绝缘构件（5），使得其圆周方向的两个端部之间的间隙被加宽。在外壳（2）的插入孔（21）的内侧上提供斜坡，所述斜坡在总成（3）向前插入时导引第一半圆筒部分（6），使得第一半圆筒部分（6）的圆周方向的中心部分与第二半圆筒部分（7）的圆周方向的中心部分之间的间隙缩窄。根据本发明，可以抑制阻抗的变化，并且可以改善信号传输性质。
连接器包括性能母板半导体测试装置

[发明专利]连接器-CN00816162.3无效
发明人：城山晃一;市桥寿広;并木克彦;伊东良真;坂田宏;武正英一郎 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司;大可电子安普股份有限公司
申请日： 2000-05-24 - 公布日： 2003-02-26 - 主分类号： H01R13/514 文献下载
摘要：本发明的模块型连接器是指有一个刚性支撑片的可连接的连接器，该刚性支撑片沿连接方向延伸，这种可连接的连接器是为了使一插入式连接器与一内孔连接器易于正确装配。在该模块型连接器中，在相应的端子的拔出方向上移动的接头的接触部分几乎是均匀分布的，所述的接触部分与上述相应的端子相接触。而且，该插入式连接器接受在该方向上的不同腔室的预先负载，这样，一些正对的弹性接触部分通过铆接在一腔室内的每个接头的第一端部与腔室之间而被加宽，该插入式连接器有至少一个突出部分，该突出部分从那些接头的接触面向突出部分的接触面突出而且位于接头之间。
连接器

[发明专利]图象探测方法和长度测量装置-CN01801671.5无效
发明人：小木曾祥明;松本纯 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司
申请日： 2001-06-08 - 公布日： 2002-12-04 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种用于从物体图象中探测目标图象的方法,其中物体图象具有沿着预定方向延伸的带状图形,该目标图象含有带状图形的至少一部分,该方法包括把物体的图象的至少一部分作为图象数据存储起来;基于第一模板从存储图象数据中探测第一局部图象,第一模板包含沿着预定方向延伸的第一带状模板图形,第一局部图象为含有基本上与第一带状模板图形相同图形的第一局部区域的图象;及基于目标图象,在从局部区域沿着预定方向延伸的区域,探测第二局部图象作为目标图象,第二局部图象为第二局部区域的图象,其中该第二局部图象含有基本上与目标图象内包含的图形相同的图形。
图象探测方法长度测量装置

[发明专利]探测卡及其制造方法-CN01801284.1无效
发明人：下河边明;秦诚一;和田晃一;蛸岛武尚;前田秦宏 -专利权人： 爱德万测试股份有限公司;下河边明;秦诚一
申请日： 2001-05-17 - 公布日： 2002-11-20 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本探测卡(100)具备接触子(92)、基板(94)、信号传送路径(96)、接地导体部(98)及穴部(102);信号传送路径(96)形成于基板(94)上,基板(94)由电介体材料或半导体材料形成,接触子(92)在基板(94)的一面,由金属玻璃材料形成于信号传送路径(96)的顶端,由利用金属玻璃材料的微细加工技术,可以极其细微的形成接触子(92),接触子(92)形成于穴部(102)上方,并离开基板(94)一段间隔,接触子(92)在基板(94)表面的垂直方向上具有弹性,试验时可以弹性的接触被测试电路中所形成的接续接头;本发明的探测卡(100),因具有由金属玻璃材料制成的接触子(92),以致可在窄间距(pitch),具有多数焊垫(pad)的集成电路中传送高频率信号。
探测及其制造方法

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