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- [实用新型]一种芯片放置结构-CN202222090067.1有效
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王文兵
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深圳市容微精密电子有限公司
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2022-08-09
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2023-01-06
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H01L21/673
- 本实用新型提供一种芯片放置结构，所述放置结构包括安装座和支撑座，本实用新型通过将所述支撑座采用磁吸的方式与所述安装座可拆卸的连接，并将所述安装座固设在所述加工设备上，避免了换线时需要频繁的拆卸支撑座和固定座带来的较大的工作量，以及采用磁吸的连接方式可提高支撑座与固定座的拆接效率，另外，通过在支撑座上设置多个放置位能够进一步降低更换数量，提升更换效率，并能够保证多个放置位之间的间距始终一致，不会由于一个支撑座只有一个放置位导致相邻支撑座之间的间距存在误差，导致芯片批量转移时不能精准的放置在所述放置结构上。
- 一种芯片放置结构
- [发明专利]一种精密五金产品强度检测机-CN202110225287.8有效
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王文兵;刘才君;刘泽鑫
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深圳市容微精密电子有限公司
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2021-03-01
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2022-12-20
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G01N3/04
- 本发明公开了一种精密五金产品强度检测机，具体涉及五金强度检测领域，包括箱体，所述箱体的两侧内壁均固定连接有一号固定板，两个所述一号固定板之间滑动设置有支撑板，所述支撑板的顶部固定连接有矩形框板，所述矩形框板两侧内壁的顶部固定连接有两个前后分布的一号滑杆，两个所述一号滑杆的表面套接有两个左右分布的夹持板。本发明通过双轴电机的转动带动两侧的一号螺纹杆进行转动，两个一号螺纹杆的转动带动两个活动块相互靠近或相互远离，通过活动块顶部的斜面，活动块的移动相互远离带动两个滚轮向上移动，从而带动支撑板在一号固定板内向上移动，从而带动两个夹持板穿设通槽并从箱体内伸出，从而能够对两个夹持板进行收纳和使用。
- 一种精密五金产品强度检测
- [实用新型]一种多触点探针-CN202222090188.6有效
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王文兵
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深圳市容微精密电子有限公司
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2022-08-09
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2022-12-02
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G01R1/067
- 本实用新型提供一种多触点探针，包括第一接触端子、弹性部和第二接触端子，所述弹性部连接在所述第一接触端子和所述第二接触端子之间，本实用新型通过将至少三个所述触点间隔一定距离设于所述连接板上，并将所述连接板至少部分弯曲或弯折以使得三个所述触点位于同一平面且不在同一直线上，以使得三个所述触点形成一个三角形，并且，任意两所述触点之间的距离均小于所述焊垫的直径，从而使得所述探针在与所述芯片上的焊垫接触时，可以确保所述第一接触端子上的多个所述触点在与所述焊垫接触时，所述探针不会发生偏位，造成接触不良，影响测试效果及测试效率。
- 一种触点探针
- [实用新型]一种便于更换的吸嘴结构-CN202222090192.2有效
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王文兵
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深圳市容微精密电子有限公司
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2022-08-09
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2022-12-02
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B25J15/06
- 本实用新型提供一种便于更换的吸嘴结构，包括底座、转接座和吸嘴，转接座包括第一连接部、第二连接部和第三连接部，第二连接部连接在第一连接部和第三连接部之间，且第一连接部与第三连接部通过第二连接部错位连通，本实用新型通过将吸嘴与转接座可拆卸连接，以便于换线时根据芯片的规格更换合适的吸嘴，通过将转接座与底座磁吸连接，以使得转接座与底座之间可以快速的进行分离以便于换线时根据芯片的规格更换不同间距的吸嘴，以使得相邻吸嘴之间的间距得以快速调节，从而便于机械手通过多个吸嘴从对应的Tray盘中同时抓取多个芯片进行转移，以提升吸嘴的更换效率，并降低作业员的劳动强度，以提升芯片的测试效率，和降低生产成本。
- 一种便于更换结构
- [发明专利]一种弹性探针卡制备方法、弹性探针卡-CN202210684321.2在审
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刘才君;刘旭
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深圳市容微精密电子有限公司
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2022-06-16
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2022-09-20
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G01R3/00
- 本发明提供一种弹性探针卡制备方法和一种弹性探针卡，本发明通过第一刻蚀图案对基板进行刻蚀以得到基部和连接在基部上的探针构成的探针卡，其中，探针的弹性部由多个相间设置的反向凸起首尾连接形成，使得探针具有较好的弹性形变效果，并通过第二刻蚀图案对金属层进行刻蚀得到表面金属化的探针，使得探针之间实现电气隔离，并增加了探针的强度，使得探针在弹性形变时更稳定，本发明通过仅仅采用两次掩膜即可制得间距较小的弹性探针卡，使得制造成本更低，制造工艺更简单，并可以对探针进行针对性的拆卸更换，大大提升了探针的使用寿命和灵活性，并更有利于进行批量制造和成本管控。
- 一种弹性探针制备方法
- [发明专利]一种探针卡制备方法-CN202210684307.2在审
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王文兵;王少刚
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深圳市容微精密电子有限公司
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2022-06-16
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2022-09-16
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G01R3/00
- 本发明提供一种探针卡制备方法，本发明通过在所述基板上采用刻蚀工艺形成结构基本一致的所述刻蚀孔，为后续制成规格基本一致的所述探针做好充分的准备，通过在所述基板表面形成包括基层以及位于所述刻蚀孔处的探针部分的所述第一导电层，并对所述基层进行刻蚀得到连接所述探针部分的基部，再对所述基层刻蚀掉的部分填充所述第一绝缘层，并在所述第一绝缘层表面形成所述第二导电层，再对所述第二导电层进行刻蚀以得到连接所述基部的电路，再在所述电路的表面以及所述第二导电层刻蚀掉的部分形成第二绝缘层，最后将所述基板进行分离以制得所述探针卡，从而更好的控制了制造成本。
- 一种探针制备方法
- [发明专利]一种晶圆检测的夹具机构-CN202110225887.4有效
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晋美玉
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深圳市容微精密电子有限公司
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2021-03-01
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2022-09-13
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H01L21/687
- 本发明提供了一种晶圆检测的夹具机构，其结构包括卡固块、夹持机构、端板、连接板、卡固块后端焊接固定于固定座前端，本发明在进行使用时，通过将需要进行检测的晶圆对齐于夹持机构，并推动晶圆，使得晶圆可推动夹持器进行旋转并移动至夹持器的下端，令夹持器对晶圆的表面进行夹持固定，但在对晶圆进行夹持时，不同厚度的晶圆会推动夹持器的外圈进行移动，使得，夹持器的外圈与内圈的圆心位置得到改变，但在改变后通过过定机构与连合机构的作用使得，夹持器的外圈紧贴至晶圆的表面，适应晶圆的厚度而对晶圆进行固定，令晶圆完全无法进行移动，避免为了防止晶圆的结构破损，无法进行完全紧定而出现检测时晶圆的位置移动导致数据偏差的情况出现。
- 一种检测夹具机构
- [发明专利]一种用于大电流测试的探针测试设备-CN202110224614.8在审
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王文兵;刘才君;刘泽鑫
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深圳市容微精密电子有限公司
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2021-03-01
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2022-09-02
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G01R31/28
- 本发明公开了一种大电流测试的探针测试设备，具体涉及芯片测试设备技术领域，包括测试仪，所述测试仪的表面通过导线电性连接有测试探针套筒，所述测试探针套筒的侧面固定连接有对称分布的第一升降杆和第二升降杆，所述第一升降杆和第二升降杆远离测试探针套筒的一端分别固定有第一升降空心螺纹滑块和第二升降空心螺纹滑块，所述第一升降空心螺纹滑块的表面通过导轨滑动连接有第一升降控制箱。本发明自动控制测试探针套筒上下移动，延长探针使用寿命，避免硅片等待检测物沾染汗渍和杂质提高检测精度，固定硅片等待检测物，避免其在检测台上收到触碰滑动，保证检测过程中硅片等待检测物保持与探针的相对静止，从而保证检测结果准确性。
- 一种用于电流测试探针设备
- [发明专利]一种新型探针内部连接结构-CN202011079276.5在审
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刘泽鑫
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深圳市容微精密电子有限公司
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2020-10-10
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2022-04-12
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G01R1/067
- 本发明提供一种新型探针内部连接结构，涉及探针技术领域，该一种新型探针内部连接结构，包括导筒和电路板，电路板位于导筒的正下方，导筒的内壁设置有连接装置，连接装置包括连接座，连接座插入导筒中并与其内壁螺纹连接，连接座的下端固定连接有导杆，导筒的内壁滑动连接有滑块，滑块的上端固定连接有顶杆，导筒的上端开设有滑孔。在使用时，被检测芯片的金属触点与顶杆相抵，顶杆受芯片压力被挤压进导筒中，顶杆带动滑块和定位块位移，滑块和定位块随之对稳定弹簧进行挤压，稳定弹簧受力变形产生弹力，稳定弹簧在变形过程中通过定位杆推动滑块，使滑块产生偏移，顶杆与导筒的内壁相抵，使得导筒通过顶杆与芯片相连通。
- 一种新型探针内部连接结构
- [实用新型]一种防结霜的芯片放置工装-CN202122421386.1有效
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刘泽鑫
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深圳市容微精密电子有限公司
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2021-10-08
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2022-03-04
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G01R31/28
- 本实用新型提供了一种防结霜的芯片放置工装，包括底座，芯片放置位和定位组件，定位组件与底座配合后将芯片定位，底座上放置有探针，芯片放置位的底部具有容纳探针的通孔，使探针的位置与芯片触点的位置能够一一对应；所述通孔的上端边缘形成有下沉槽，下沉槽能够将芯片触点容纳其中，并形成封闭环境；本实用新型的芯片放置位中设置有容纳探针的通孔，并且在通孔的上端边缘处形成有下沉槽，使芯片放置在芯片放置位时，下沉槽将芯片触点包围并形成封闭空间，将芯片触点与外界空气隔离，使芯片放置工装即使在低温转到高温的过程中，因为隔绝外界空气，也不会出现结霜的现象。
- 一种结霜芯片放置工装
- [实用新型]一种芯片测试用的定位工装-CN202122423745.7有效
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刘泽鑫
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深圳市容微精密电子有限公司
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2021-10-08
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2022-03-04
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G01R31/28
- 本实用新型提供了一种芯片测试用的定位工装，包括芯片放置座和定位夹具，定位夹具与芯片放置座配合后将芯片定位，芯片放置座包括探针底座，探针底座上设置有多个与芯片触点对位的探针，还设置有限位板，限位板具有对芯片限位的限位框，探针位于限位框内，限位框的尺寸不小于芯片的尺寸，限位框对芯片限位后，每个探针与每个芯片触点实现一一对应；定位夹具包括压块和下压驱动部，压块作用于芯片表面，下压驱动部驱使压块下压至芯片与探针接通；本实用新型的芯片放置座上设置有限位板，使芯片触点在与探针接触前先摆正位置，芯片触点与探针接触的过程中，在限位框的纤维下，芯片位置不偏离，芯片触点能够与探针一一对应，提高了测试的精准度。
- 一种芯片测试定位工装
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