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[实用新型]正面上下料的集成IC测试装置-CN202321016697.2有效
发明人： 沈巧琳;丁向东 -专利权人：深圳市创芯在线检测服务有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座，测试座的正面设有测试区，测试区内设有若干探针，测试座内设有与若干探针电性连接的测试电路板。测试座的正面设有与测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在保持架内，且保持架可将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。本实用新型的有益效果在于：该测试装置通过设置保持架，将待测集成IC放置在保持架内，并通过保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。
正面上下集成 ic 测试装置

[实用新型]一种集成电路测试底座-CN202320445008.3有效
发明人：徐春雷;杨海楠;沈巧琳 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2023-02-28 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试底座，包括：一侧边相互铰接的测试底座和压板，测试底座开设有测试槽，压板可将测试槽盖合。测试槽内设有弹性测试探针，测试底座内设有与弹性测试探针电性连接的测试电路板。压板朝向测试槽的一侧设有可活动的压盖，压板上设有驱动压盖朝测试槽内移动的驱动件，且压盖朝向测试槽的表面设有绝缘橡胶层。本实用新型有益效果：结构简单实用，制造成本和后期维护成本都比较低。另外，通过驱动件调整压盖的高度，还可以适用对不同厚度的集成电路在测试时压紧，适用范围更广。
一种集成电路测试底座

[实用新型]多工位的通用型集成电路模块测试载板-CN202120156703.9有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多工位的通用型集成电路模块测试载板，包括：底板，底板的顶部设有方形测试部，方形测试部的四周均设有限位接线板。方形测试部的内部朝向每一限位接线板均设有若干接线插头，限位接线板上设有与若干接线插头一一对应的通孔。方形测试部顶部设有与若干接线插头一一对应的旋钮，旋钮可驱动接线插头滑出通孔，并与限位接线板电性连接。底板的底部设有三脚插头，四个限位接线板均与三脚插头电性连接。本实用新型的有益效果：通过在底板上设置方形测试部，可实现四工位同时测试，测试效率高。而且，可通过旋钮驱动不同位置的接线插头滑出限位接线板进行测试，通用性强，操作简单。
多工位通用型集成电路模块测试

[实用新型]用于集成电路模块测试的通用型双层测试载板-CN202120160710.6有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于集成电路模块测试的通用型双层测试载板，包括：自上而下依次连接的上载板、长方体形测试部及下载板。长方体形测试部的顶端的四周和底端的四周均设有限位接线板，长方体形测试部的内部朝向每一限位接线板均设有若干接线插头。每一限位接线板上均设有与其对应的若干接线插头一一对应的通孔，长方体形测试部上设有与每一接线插头一一对应的驱动机构，驱动机构可驱动与其对应的接线插头滑出通孔，并且，接线插头与其对应的限位接线板电性连接，每一限位接线板均与外部电源连接。本实用新型的有益效果：该通用型测试载板采用双层结构设计，且上载板和下载板上均可同时进行多工位测试，大大提高了测试效率。
用于集成电路模块测试通用型双层

[实用新型]稳定可靠的压紧式集成电路IC测试装置-CN202120170974.X有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2021-01-21 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种稳定可靠的压紧式集成电路IC测试装置，其底座的容置槽内设有两相对滑动的限位块，限位块上设有若干测试脚垫，待测集成电路IC的各引脚分别对应放置在测试脚垫上，测试脚垫与底座内的测试电路电性连接。底座上设有与容置槽连通的通孔，通孔内插接有调整块。两限位块相对的侧壁上均设有限位槽，调整块的另一端分别朝向两限位槽设有限位凸起，限位凸起插入限位槽内。其底座上的压紧机构将待测集成电路IC的各引脚分别压紧在各自对应的脚垫上。本实用新型的有益效果：可实现调整与封装在待测集成电路IC两边的各引脚一一对应的测试脚垫的位置，从而可适用不同宽度的待测集成电路IC的测试，非常实用，且使用灵活。
稳定可靠压紧集成电路 ic 测试装置

[实用新型]集成电路测试稳定接电的脚垫-CN202121290196.4有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试稳定接电的脚垫，包括：与外部的测试电路板电性连接的导电座，导电座设有用于与集成电路的引脚抵压接触的抵压槽，抵压槽的两侧壁上设有用于抵压集成电路的引脚的两侧壁的弹性辅助抵压部，弹性辅助抵压部与导电座之间电性连接。本实用新型的有益效果：该结构采用下沉式抵压结构，并通过设置弹性辅助抵压部对集成电路的引脚的两侧进行抵压接触，实现了对集成电路的引脚的半包围式抵压接触，大大提高了该脚垫与集成电路的引脚之间接电的稳定性。
集成电路测试稳定脚垫

[实用新型]集成电路批量测试底座-CN202121290954.2有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2021-06-09 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路批量测试底座，包括：长条形底座和活动连接在长条形底座上的长条形翻盖。长条形底座的外壁上沿其长度方向嵌入有若干测试块，测试块上设有若干测试脚垫。长条形底座上设有与若干测试脚垫电性连接的测试电路板，测试电路板与外部的测试主机连接。长条形翻盖的第一长边铰接在长条形底座上，长条形翻盖的第二长边可卡接在长条形底座上。长条形翻盖上设有与若干测试块一一对应的容置通孔，容置通孔的内壁设有与若干测试脚垫一一对应的台阶槽。本实用新型的有益效果：可一次性固定多个集成电路，实现批量测试，大大提高了生产效率。整体结构简单，制作成本低，且固定集成电路时更方便，进一步提高了生产效率。
集成电路批量测试底座

[实用新型]转盘式集成电路封装件的测试装置-CN202121279113.1有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2021-06-08 - 公布日： 2021-11-23 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种转盘式集成电路封装件的测试装置，包括：底座，底座上转动设有转盘，转盘上设有用于承载集成电路封装件的四个容置槽，且四个容置槽处在与转盘同轴的同一圆周轨迹上。底座上设有分别与四个容置槽对应的垂直上料筒、上电测试机构、不良品下料机构及良品下料机构。本实用新型的有益效果在于：通过采用转盘式结构，大大缩减了整个装置占用的场地空间资源，而且，整个装置无需人工逐一上下料，自动化程度大大提高。
转盘集成电路封装测试装置

[实用新型]高效率的集成电路测试装置-CN201922324811.8有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2019-12-19 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高效率的集成电路测试装置，包括：底座，底座的顶部设有测试槽，待测集成IC放置在测试槽内，且测试槽的槽底设有与待测集成IC的管脚一一对应的接触脚垫。底座上设有两支撑板，两支撑板对称设置在测试槽的两侧，两支撑板的顶部设有固定板，固定板上设有气缸。气缸设置在待测集成IC的正上方，其底部设有压紧部，压紧部将待测集成IC的管脚压紧在各自对应的接触脚垫上。本实用新型的有益效果：待测集成IC的管脚通过与测试槽内的接触脚垫连接，实现与底座内的测试板耦接，并通过压紧部将管脚与接触脚垫压紧在一起，使得测试时，待测集成IC与测试板的耦接方便且稳定，散热效果好，测试效率高。
高效率集成电路测试装置

[实用新型]通用型的集成电路测试载板-CN201922305959.7有效
发明人： 沈巧琳;徐春雷;丁向东 -专利权人：深圳市英赛尔电子有限公司
申请日： 2019-12-19 - 公布日： 2020-09-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种通用型的集成电路测试载板，包括：底板，底板上设有测试部和限位接线板。测试部内并排设有若干滑动的接线插头，测试部上设有与每一接线插头对应的驱动部，每一驱动部驱动与其对应的接线插头与限位接线板及待测集成电路板上的接线插孔插接。限位接线板与底板插接，底板与外部的测试装置插接。本实用新型的有益效果在于：结构简单实用，能适用多种布局方式的集成电路的测试，通用性强。
通用型集成电路测试

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