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[发明专利]测量误差的补偿方法以及为此目的的电子装置-CN200480022954.7有效
发明人： 汉斯·约兰·埃瓦尔德·马丁 -专利权人：森谢尔公司
申请日： 2004-08-10 - 公布日： 2006-09-20 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于相对于传感器(1)的测量处理，对测量值进行温度依赖误差补偿的方法和电子装置(6)，所述补偿涉及“漂移”误差源。电子电路(6)适合确定一或多气体和/或气体混合物的存在和/或计算这种气体或气体混合物的浓度。在选取的测量周期(T1)期间出现和确定的最高测量值(Mmax)或最低测量值(Mmin)将存储在存储器(69′)内。特别提议，将在选取的时间周期(T1)期间出现和估算的最低模拟值或最高数字化测量值存储在所述存储器(69′)内；在选取的测量周期或时间周期(T1)末端出现和估算的测量值(Mmax；Mmin)将与存储的模拟值或通过A/D转换器与数字化的控制值(65′)比较；以及估算测量的最低或最高值和所述存储的控制值之间的偏差用作为在随后的测量周期(T2)中出现的测量值的有关的和/或相应的补偿(K1)的基础。
测量误差补偿方法以及为此目的电子装置

[发明专利]处理薄膜衬底的方法-CN200480011643.0有效
发明人： 汉斯·约兰·埃瓦尔德·马丁;克拉斯·安德斯·约尔特;米卡埃尔·彼得·埃里克·林德贝里 -专利权人：森谢尔公司
申请日： 2004-04-21 - 公布日： 2006-05-31 - 主分类号： H05K3/18 文献下载
摘要：本发明包括处理过的薄膜衬底(10)及其方法，以便生产弹性印制电路卡，其具有多个通过或穿过薄膜衬底并且沿着背对的表面电连接的微通孔，从而形成电路。第一数量的真正纳米路径填充有具有良好电特性的第一材料(M1)，用于形成第一数量的在此命名的第一通孔(V10、V30、V50)，而第二数量的真正纳米路径填充有具有良好电特性的第二材料(M2)，用于形成第二数量的在此命名的第二通孔(V20、V40、V60)。选择所述第一和第二通孔(V10－V60)的第一材料(M1)和第二材料(M2)具有相互不同的热电特性。分布和/或调整表面施加到薄膜衬底和涂敷在薄膜衬底(10)的两侧(10a、10b)上的材料以便允许分配了第一材料(M1)的第一通孔与分配了第二材料(M2)的第二通孔电互连，并且使包含在串联连接中的第一通孔(V10)和包含在串联连接中的最后一个通孔(V60)串联配位以便形成热电偶(100)或其他电路装置。
处理薄膜衬底方法

[发明专利]气体分析设备-CN03817591.6有效
发明人： 汉斯·约兰·埃瓦尔德·马丁 -专利权人：森谢尔公司
申请日： 2003-07-21 - 公布日： 2005-09-21 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：本发明涉及气体分析设备(1)，包括：容纳气体试样(″G″)的腔室(20)，光发射装置(3)，用于接收通过腔室反射的光的装置(4)，用于计算的电子电路(5)，电子电路可调整以通过光谱分析来分析和确定腔室(20)中以试样(″G″)存在的选择气体或混合气体的存在。所述腔室提供一或多个用于气体进出所述腔室的孔。所述腔室设置为稍微有点弯曲的形状，具有在所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)间延伸的至少一个凹曲的光反射表面(30b)。所述孔(30)定位于在所述光发射装置(3)和所述光接收装置(4)间的有限连续区域上，并且所述孔(30)设置有大小和长度范围，为腔室(20)中的试样(″G″)与另一种气体试样提供快速被动交换。
气体分析设备