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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光学分析装置-CN202010235581.2在审
发明人：斧田拓也;横山一成;世古朋子 -专利权人：株式会社堀场先进技术
申请日： 2020-03-30 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本发明提供光学分析装置，通过在试样测量和参考测量中使光路长度维持相同，提高测量精度，分析流过具有透光性的配管(H)的试样的光学分析装置(100)具备：具有光源(21)和聚光透镜(22)的光源单元(2)；检测光源单元(2)的光的光检测单元(3)；以及将光源单元(2)和光检测单元(3)支撑成可移动的支撑机构(4)，支撑机构(4)使光源单元(2)和光检测单元(3)在试样测量位置(S)和参考测量位置(R)之间移动。
光学分析装置

[发明专利]气体浓度测量装置-CN201710428284.8在审
发明人：有本公彦;横山一成;世古朋子;土坂祐太郎;北木大介;古川泰生 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2018-01-09 - 主分类号： G01N21/359 文献下载
摘要：本发明提供一种气体浓度测量装置，能够在光纤中不容易产生温度变化，尽管结构简单却不浪费多余的能量，并且不容易因周围环境的空气进入测量光的光路而对测量精度产生影响，所述气体浓度测量装置包括第一密封件(5)，在所述气体池(1)的所述射入面(14)和第一端面(25)之间设置成包围射出口(24)的周围，所述第一端面(25)形成在所述光射出单元(2)的所述射出口(24)的周围；以及第二密封件(6)，在所述气体池(1)的所述射出面(15)和第二端面(35)之间设置成包围射入口(34)的周围，所述第二端面(35)形成在所述受光单元(3)的所述射入口(34)的周围。
气体浓度测量装置

[发明专利]光学分析装置-CN201110432455.7有效
发明人： 横山一成;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2011-12-21 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明提供一种光学分析装置，通过降低腐蚀性气体对焦点位置修正用的基准修正构件的影响，在降低光学分析装置的测量误差的同时，解决伴随更换基准修正构件所产生的各种问题。本发明的光学分析装置包括基准修正构件(6)，该基准修正构件(6)能在位于聚光光学系统(3)和检测光学系统(4)之间的光路(L)上的基准位置(R)、以及从该基准位置(R)退避开的退避位置(S)之间移动，使在基准位置(R)上通过的光的焦点位置与通过位于测量位置(P)上的测量单元(5)的光的焦点位置基本相同，基准修正构件(6)的在基准位置(R)上与光路(L)相交的外表面部分(6A)，由对腐蚀性气体具有耐腐蚀性的材料构成。
光学分析装置

[发明专利]光学测量用池-CN201110148022.9无效
发明人： 横山一成;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2011-06-01 - 公布日： 2012-02-15 - 主分类号： G01N21/05 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测量用池，在降低制造成本的同时，可以改变池长度，并且可以将垫片可靠地定位在希望的位置。流动池具有夹持流道的一对光学窗，流动池包括：池主体，设置有容纳凹部以及与容纳凹部连通的液体导入部和液体导出部；一对透光部件，容纳在容纳凹部中，形成一对光学窗；垫片，确定一对透光部件彼此的相对面之间的距离；以及按压机构，将透光部件和垫片朝向容纳凹部的底面按压，并形成流道，在一对透光部件彼此的相对面的至少一方上，设置有形状与垫片对应的定位凹部，垫片嵌入定位凹部而被大体定位。
光学测量

[发明专利]样品分析装置-CN201080006474.7无效
发明人： 横山一成 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2010-01-07 - 公布日： 2012-01-04 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明提供一种可以得到高精度的测定结果的样品分析装置，该样品分析装置包括：样品池部(2)，构成多个池空间(S1)、(S2)；光源部(31)、(32)，向各池空间(S1)、(S2)照射相互不同波长范围的光；多个准直镜(61)、(62)，与各池空间(S1)、(S2)的每一个对应设置，使透射过池空间(S1)、(S2)的透射光成为平行光；衍射光栅(7)，对通过准直镜(61)、(62)成为了平行光的反射光进行分光；聚光镜(9)，对通过衍射光栅(7)分光后的光进行聚光；以及光检测器(10)，对通过聚光镜(9)聚集后的光进行检测。
样品分析装置

[其他]用于测量发光持续时间的装置-CN85105686无效
发明人：田中优;原清明;横山一成 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 1985-07-26 - 公布日： 1987-07-08 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：用于测量发光持续时间的装置，其中两台时间——幅度变换器(TAC)，同时由一个起始脉冲触发，并分别采用来自样品的激发光和样品发出的荧光产生的光电脉冲作为终止脉冲。每台TAC发出的电压与从触发到接收终止脉冲的时间成比例，并根据两台TAC的输出电压同时测量激发光波形和瞬时发光波形。在至少一台TAC的输出端加上一可变偏压，并在一台双迹同步显示器上，同时显示激发光和瞬时发光波形。
用于测量发光持续时间装置

[其他]用于测量发光持续时间的装置-CN101985000005686在审
发明人：田中优;原清明;横山一成 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 1985-07-26 - 公布日： 1987-07-08 - 主分类号：文献下载
摘要：用于测量发光持续时间的装置，其中两台时间－－幅度变换器（ＴＡＣ），同时由一个起始脉冲触发，并分别采用来自样品的激发光和样品发出的荧光产生的光电脉冲作为终止脉冲。每台ＴＡＣ发出的电压与从触发到接收终止脉冲的时间成比例，并根据两台ＴＡＣ的输出电压同时测量激发光波形和瞬时发光波形。在至少一台ＴＡＣ的输出端加上一可变偏压，并在一台双迹同步显示器上，同时显示激发光和瞬时发光波形。
用于测量发光持续时间装置

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