专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果105个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种2D和3D集成的半导体显微视觉检测系统及方法-CN202310764897.4在审
  • 王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-09-29 - G01N21/01
  • 本发明涉及晶元表面缺陷检测技术领域,涉及一种2D和3D集成的半导体显微视觉检测系统及方法。该系统包括在空间上分布的左光学图像采集单元、中光学图像采集单元和右光学图像采集单元,左光学图像采集单元、中光学图像采集单元和右光学图像采集单元的中轴线位于同一竖直面上,左光学图像采集单元、中光学图像采集单元和右光学图像采集单元的下部区域形成图像采集区域;左光学图像采集单元用于采集图像采集区域左侧的图像信息,中光学图像采集单元用于采集图像采集区域中部的图像信息,右光学图像采集单元用于采集图像采集区域右侧的图像信息。该方法基于该系统实现。本发明能够实现原始图像数据的精确采集,故而有利于后续缺陷检测精度的提升。
  • 一种集成半导体显微视觉检测系统方法
  • [发明专利]一种单流道式芯片编带外观检测方法-CN202310280166.2在审
  • 王孟哲;熊柏泰;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-09-22 - B65B15/04
  • 本发明涉及芯片编带检测技术领域,具体地说,涉及一种单流道式芯片编带外观检测方法。本发明提供了一种单流道式芯片编带检测方法,其基于一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备实现。具体说明地,芯片编带作为IC芯片包装的一种常用方式,由于在包装过程中可能会导致或者是编带本身就存在着异物,崩边,划痕等问题,此外,在包装过程中还可能会导致或者是芯片本身就存在着芯片字符漏印、芯片处存在异物崩边和划痕等问题。编带以及芯片的这些问题通过单面检测是无法完整地进行覆盖,故而,本实施例中的检测方法能够通过单一输送流道依次完成正反两面的检测以对于芯片以及编带中可能出现的问题实现较全面的覆盖。
  • 一种单流道式芯片外观检测方法
  • [发明专利]一种用于芯片编带外观缺陷检测的多站式视检系统-CN202310280283.9在审
  • 王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-09-19 - G01N21/95
  • 本发明涉及芯片编带外观检测技术领域,具体地说,涉及一种用于芯片编带外观缺陷检测的多站式视检系统。其布置于芯片编带外观缺陷检测设备的检测区域处并用于对经过芯片编带外观缺陷检测设备处检测区域处的芯片编带进行外观缺陷检测;多站式视检系统包括系统主体,系统主体通过视检安装板以安装固定;多站式视检系统包括沿流道运送方向相邻竖直布置于视检安装板处的用于检测异物和崩边的第一检测组件、用于对芯片字符进行检测的第二检测组件和用于对崩边划痕进行检测的第三检测组件。这样布置使得该多站式视检系统整体结构更为紧凑,所占位置空间更小,从而能够较佳地减小该视检系统对于设备主体中的其他器件的使用以及布置过程产生影响。
  • 一种用于芯片外观缺陷检测多站式视检系统
  • [实用新型]一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其下料装置-CN202321153103.2有效
  • 王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-05-15 - 2023-09-15 - B07C5/00
  • 本发明涉及电镀芯片外观检测技术领域,具体地说,涉及一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其下料装置。下料装置包括下料装置主体,下料装置主体处沿水平横向依次形成有下料分选机构和收料机构;分选机构处形成有沿水平横向的用于运送电镀芯片条的下料轨道,下料轨道沿水平纵向上的一侧设置有不良品收集部;下料装置主体还包括分选两轴模组,分选两轴模组用于将下料轨道处的不良品拾取至不良品收集部;下料装置主体还包括下料推料机构;下料推料机构用于将下料轨道处的电镀芯片条推入收料机构处。在下料过程中,下料轨道能够接收前一工位处已经打标完成的电镀芯片条,到达下料轨道处的电镀芯片条能够通过前述打标标识被分选。
  • 一种新型电镀芯片外观缺陷检测设备及其装置
  • [实用新型]一种手机中框CG面定位工装-CN202320715790.6有效
  • 王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-04-04 - 2023-09-08 - B25B11/00
  • 本发明涉及手机中框定位工装技术领域,具体地说,涉及一种手机中框CG面定位工装。其包括用于布置气路的CG面定位底板,CG面定位底板的上端面处贴合布置有CG面吸头布置板,CG面吸头布置板的上端面处形成有CG面吸附位置,CG面吸头布置板处布置有多个与气路相连接的CG面吸嘴,多个CG面吸嘴共同配合对CG面吸附位置处的手机中框进行吸附。本发明通过多个CG面吸嘴共同配合以对手机中框进行吸附定位,CG面吸嘴能够较方便地通过气路进行控制,从而便于使用人员通过CG面定位工装以实现吸附和松开,也即吸料和放料。
  • 一种手机cg定位工装
  • [实用新型]一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备-CN202320565757.X有效
  • 王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-09-05 - G01N21/88
  • 本发明涉及芯片编带检测技术领域,具体地说,涉及一种单流道的芯片编带外观缺陷检测设备。其包括设备主体,设备主体的两侧设有用于收卷芯片编带的料盘;两侧的料盘之间形成有用于输送芯片编带的输送流道;设备主体处还设有用于对芯片编带进行检测的多站式视检系统;多站式视检系统处形成有检测区域;输送流道经过所述检测区域。从而能够使得待检测的芯片编带在运送过程中只需要在这一检测区域处停留即可完成所有检测,从而使得动力的控制操作更为简单,全程只需在该检测区域的位置处中断一次动力即可,这样也能较佳地加快真个检测过程的进行,从而较佳地提高检测效率。
  • 一种单流道芯片外观缺陷检测设备
  • [实用新型]一种手机中框产品BG面定位夹具-CN202320715795.9有效
  • 王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全 - 宁波九纵智能科技有限公司
  • 2023-04-04 - 2023-08-15 - B25B11/00
  • 本发明涉及手机中框夹具技术领域,具体地说,涉及一种手机中框产品BG面定位夹具;其包括夹具主体,夹具主体包括布置于其底部且水平布置的BG面放置底板,BG面放置底板的上侧处形成有用于放置检测对象的BG面放置位,BG面放置位处设有用于对BG面放置位处检测对象进行定位的BG面吸附组件和BG面内限位组件。由于手机中框的BG面为凹陷结构,以及手机中框的BG面由水平布置的底壁和竖直形成的侧壁共同组成,单纯通过底壁或者侧壁的固定难以将手机中框整体进行稳定定位。本实施例中的BG面吸附组件能够与手机中框BG面的底壁形成吸附配合以定位,此外,BG面内限位组件能够与手机中框BG面的侧壁相配合以形成内限位。
  • 一种手机产品bg定位夹具

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top