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[发明专利]电场传感器-CN202080010077.0在审
发明人： 松本宪典;品川满;胜山纯 -专利权人：横河电机株式会社;学校法人法政大学
申请日： 2020-01-21 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：电场传感器具有：光源；电光晶体，其被入射基于由光源射出的光的规定的偏振状态的光，接收由目标对象物发出的电场；第1分离部，其将从电光晶体射出的光分离为P波和S波；第1波长板，其在第1分离部的前段使光的相位变化；第1受光部，其接收P波的光，将接收到的光变换为第1电信号；第2受光部，其接收S波的光，将接收到的光变换为第2电信号；差动放大部，其生成由第1受光部变换后的第1电信号、与由第2受光部变换后的第2电信号的差动信号；以及控制部，其以使得从光源射出光且对电光晶体施加有电场的状态下的差动放大部的直流分量的输出值处于规定值的范围的方式，对光源的波长进行调整。
电场传感器

[发明专利]发光特性测定装置以及方法-CN201310024897.7无效
发明人：伊藤昭成;柳泽幸树;松本宪典;佐藤哲也;石川真治;内田练 -专利权人：横河电机株式会社;夏普株式会社
申请日： 2013-01-23 - 公布日： 2013-08-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种测定发光元件的发光特性的发光特性测定装置，其具有：光学积分器，其具有能够对从排列的多个发光元件输出的光进行受光的入射口，从所述入射口对从所述多个发光元件输出的所述光进行受光，将受光的所述光均一化；受光装置，其对由所述光学积分器均一化后的所述光进行受光；以及控制处理装置，其使所述多个发光元件择一地依次发光，并且与所述发光元件相对于所述光学积分器的所述入射口的位置相对应，对从所述受光装置依次获得的受光结果进行校正。
发光特性测定装置以及方法