专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种隔离通信电路-CN202222624923.7有效
  • 陈功超;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-09-30 - 2023-07-21 - H03K19/0175
  • 本实用新型公开了一种隔离通信电路,包括:输入端、隔离模块、整形滤波模块及主控器,输入端IN1接收外部信号传输至隔离模块,隔离模块包括光耦U1、三极管T1、电阻R1、电阻R2、电阻R3,三极管T1的基极通过电阻R1与输入端IN1连接,三极管T1的发射极与信号地GND2连接,三极管T1的集电极与光耦U1的阴极输入端连接,光耦U1的阳极输入端通过电阻R2与电源VDD连接,光耦U1的发射极端与信号地GND1连接,光耦U1的集电极端通过电阻R3与电源VCC连接,光耦U1的集电极端将输出的信号传输至整形滤波模块,整形滤波模块对信号进行整形滤波后输送至主控器。本实用新型具有在两端电源不相关时,保证两边不共地的情况下完成信号传输的优点。
  • 一种隔离通信电路
  • [实用新型]一种集成电路输出管脚接触检测架构-CN202222915645.0有效
  • 张国良;陈功超 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-10-31 - 2023-05-09 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种集成电路输出管脚接触检测架构,包括供电电源U1,连接有一等效开关Kin;集成电路,包括输入管脚IN、等效电阻IC和输出管脚OUT,输入管脚IN连接等效开关Kin,等效电阻IC两端分别连接输入管脚IN和输出管脚OUT,输出管脚OUT配置有第一触点电阻TS和第二触点电阻TF;第一并联节点,分别连接第一触点电阻TS、一第一开关K1B的第一公共端K3和一第二开关K1A的第二常闭端K9,第一开关K1B的第一常开端K4接地,第一开关K1B的第一常闭端K2断路,第二开关K1A的第二公共端K8连接一电压检测装置US;第二并联节点,分别连接第二触点电阻TF、第二开关K1A的第二常开端K7和电流产生装置IS。本实用新型提升了集成电路输出管脚OUT的电压测量精度。
  • 一种集成电路输出管脚接触检测架构
  • [实用新型]一种继电器自检架构-CN202222917074.4有效
  • 陈功超;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-10-31 - 2023-05-09 - G01R31/327
  • 本实用新型公开了一种继电器自检架构,包括:供电电源,输出端连接一并联节点;第一并联回路,包括:继电器电感,一端连接并联节点,另一端连接一第一电阻;继电器控制位,一端连接第一电阻,另一端连接继电器控制端,继电器控制位的闭合电流为20mA;第二并联回路,包括:继电器触点开关,一端连接并联节点,另一端连接一第二电阻;发光二极管,正极连接第二电阻,负极接地。本实用新型提升了输出至继电器控制位的驱动电流的检测范围。
  • 一种继电器自检架构
  • [实用新型]一种PCIE转SPI接口通讯隔离架构-CN202222930684.8有效
  • 武庆华;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-11-01 - 2023-05-09 - G06F13/40
  • 本实用新型公开了一种PCIE转SPI接口通讯隔离架构,包括PCIE转并口通讯卡,插接在上位机的PCIE插槽中,PCIE转并口通讯卡用于将上位机发送的PCIE信号转换为并口信号;信号转换模块,连接PCIE转并口通讯卡,信号转换模块的输出端配置有若干互相隔离的SPI主机接口,信号转换模块用于将并口信号转换为若干SPI信号;若干信号隔离模块,信号隔离模块的输入端配置有四个隔离输入管脚,信号隔离模块的输出端配置有四个隔离输出管脚,四个隔离输入管脚连接一个SPI主机接口;若干从机板卡,信号隔离模块与从机板卡的数量一致,各从机板卡的输入端配置有SPI从机接口,各隔离输出管脚连接SPI从机接口。本实用新型减轻通讯负载的同时不占用硬件资源。
  • 一种pciespi接口通讯隔离架构
  • [实用新型]一种带自我保护的供电电路-CN202222626868.5有效
  • 陈功超;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-09-30 - 2023-05-09 - H02M3/157
  • 本实用新型公开了一种带自我保护的供电电路,包括:滤波电路和转换电路,外部电源通过滤波电路与转换电路连接,转换电路包括主控芯片U1、电容C3、电容C4、电容C5、电阻R2、电阻R3、电阻R4、二极管D1和输出电路,主控芯片U1的VIN脚与滤波电路连接用于接收经过滤波电路过滤的外部电源,主控芯片的SS脚通过电容C4与信号地连接,主控芯片的PH脚与二极管D1的负极连接,二极管D1的正极与信号地连接,输出电路并联在二极管D1两端,主控芯片的COMP脚通过电容C5和电阻R4后与信号地连接,主控芯片的VSENE脚通过电阻R3与信号地连接,主控芯片的BOST脚通过电容C3与PH脚连接。
  • 一种自我保护供电电路
  • [实用新型]一种多路欠压报警电路-CN202222312884.7有效
  • 陈功超;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-08-30 - 2023-04-18 - H02M3/156
  • 本实用新型公开了一种多路欠压报警电路,包括若干电源监控电路,电源监控电路包括:第一光耦合器;第二电阻,一端连接第一初级端1脚,另一端连接一电源输出端口PW1;发光二极管,阳极连接第一初级端2脚,阴极连接稳压二极管的阴极,稳压二极管阳极接地;保护二极管,保护二极管的阴极连接有扩展节点A,各电源监控电路通过扩展节点A互相连接;第一电阻,一端连接并联节点,另一端连接一稳压供电电源PC;电平拉低电路提供低电平节点;逻辑控制电路,配置有第一接收端、第二接收端和控制输出端,第一接收端连接各扩展节点,第二接收端连接低电平节点;控制输出端连接报警控制电路。本实用新型使得各电源监控电路易于扩展。
  • 一种多路欠压报警电路
  • [实用新型]一种磁感应芯片测试架构-CN202222625659.9有效
  • 肖运畅;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-09-30 - 2023-03-24 - B07C5/344
  • 本实用新型公开了一种磁感应芯片测试架构,包括控制板,连接有磁感应芯片,磁感应芯片配置有供电管脚、第一输出管脚和第二输出管脚;测试板,设有磁场冲击测试电路、金手指接触测试电路、快速上电电路和小电压差分放大电路;磁场冲击测试电路输入端连接第一输出管脚和第二输出管脚,通过各第一通讯节点和第二通讯节点与控制板连接;小电压差分放大电路的输入端连接供电管脚,通过第三通讯节点与控制板连接;金手指接触测试电路的输入端连接第一输出管脚、第二输出管脚和供电管脚,通过第四通讯节点、第五通讯节点和第六通讯节点连接控制板;快速上电电路的输入端连接一第一供电电源,输出端连接供电管脚。本实用新型提高了测试板的测试集成度。
  • 一种感应芯片测试架构
  • [实用新型]一种芯片管脚的开短路测试装置-CN202222312751.X有效
  • 张昌征;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-08-30 - 2023-02-17 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种芯片管脚的开短路测试装置,包括个人计算机,用于生成测试指令;第一通讯模块,输入端连接个人计算机,输出端连接控制模块;数模转换模块,输入端连接控制模块,输出端连接电压调制模块;电源管理模块,输入端连接电压调制模块,输出端连接若干通道选择模块,各通道选择模块输出端均配置有若干测试通道,各测试通道均连接测试芯片的测试管脚;模数转换模块,输入端连接各测试通道,输出端连接控制模块;第二通讯模块,输入端连接第一通讯模块,输出端连接机械夹取设备;控制模块的输出端连接个人计算机。本实用新型有效提升芯片管脚的开短路测试效率。
  • 一种芯片管脚短路测试装置
  • [发明专利]一种基于PMU电路的参数测量系统及方法-CN202211059633.0在审
  • 武庆华;张国良 - 杭州晶测电子技术有限公司
  • 2022-08-31 - 2022-12-09 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种基于PMU电路的参数测量系统及方法,包括采样单元控制模数转换模块采样得到若干电压采样值;比较单元将各电压采样值与初始阈值进行比较得到高电平采样值和低采样电平值;处理单元将第一初始比例、第二初始比例和初始采样周期输入存储分值计算公式中,得到数据存储分值,根据数据存储分值生成比例调整指令;存储单元根据比例调整指令调整得到第一优化比例和第二优化比例;周期优化单元根据比例调整指令调整得到优化采样周期;图像生成单元根据各高电平采样值、各低电平采样值、第一优化比例、第二优化比例和优化采样周期生成电压参数波形图。本发明节约硬件成本完成参数测量。
  • 一种基于pmu电路参数测量系统方法

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