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[发明专利]一种低本底多普勒展宽深度分布测量系统及测量方法-CN201710025864.2有效
发明人：姚春龙;吴奕初;石见见;朱喆劼;杨薇;王佳恒;徐雪慧 -专利权人：武汉大学
申请日： 2017-01-13 - 公布日： 2019-09-10 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：本发明涉及核技术应用领域，具体涉及一种低本底多普勒展宽深度分布测量系统，包括放置在水平电动平台上的参考样品、放射源和待测样品；碘化钠探测器、第一放大器、第一单道分析器，高纯锗探测器、第二放大器、第二单道分析器、前置放大器、第三放大器、模数转换器、多道分析器、计算机；还包括符合器和W‑Cu准直器。该测量系统实现了对待测样品的多普勒展宽深度分布测量的自动控制，并且在此基础上增加了符合系统，将测得的多普勒展宽谱的峰顶与本底的计数比提高一个数量级，有效降低了本底。
一种本底多普勒展宽深度分布测量系统测量方法

[发明专利]一种新型多功能正电子束测量系统-CN201810009150.7有效
发明人：石见见;吴奕初;姚春龙;朱喆劼;徐雪慧;赵文增;郭雪莲 -专利权人：武汉大学
申请日： 2018-01-04 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明涉及正电子束测量技术领域，具体涉及一种新型多功能正电子束测量系统，包括多功能测量靶室，磁场聚焦系统，正电子湮没寿命测量系统，多普勒展宽测量系统，符合多普勒展宽测量系统。该测量系统能够实现正电子湮没寿命，多普勒展宽和符合多普勒展宽多参数测量，降低背散射正电子效应，减小正电子束斑直径，提高仪器测量效率。
多普勒测量系统电子束测量正电子湮没寿命正电子多参数测量多功能测量电子束斑聚焦系统仪器测量背散射靶室减小磁场

[发明专利]多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统-CN201710035856.6有效
发明人：石见见;吴奕初;姚春龙;刘向兵;朱喆劼;杨薇;王佳恒;徐雪慧 -专利权人：武汉大学
申请日： 2017-01-17 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种多维度正电子湮没寿命谱和多普勒展宽谱测量系统，多维度正电子湮没寿命谱测量系统和多普勒展宽谱测量系统中均包括反符合系统和三维移动系统。所述的反符合系统包括依次相连的正电子探测器、第一前置放大器、第一谱放大器、第一单道分析器、符合器；正电子探测器由闪烁片和光电倍增管通过硅油耦合组成，放射源为同位素放射源，其直接滴于闪烁片上。所述的三维移动系统用来装载样品并使样品在三维方向移动。本发明采用反符合系统实现非样品中湮没信息的排除，可提高探测的可靠性和探测精度；采用三维移动平台调整样品与正电子探测器间的距离和方位，可实现单块不规则样品多维度缺陷的精确无损检测。
多维正电子湮没寿命多普勒展宽测量系统

[发明专利]一种新型数字化β+‑γ符合正电子湮没寿命谱系统-CN201710956406.0在审
发明人：石见见;吴奕初;姚春龙;朱喆劼;徐雪慧 -专利权人：武汉大学
申请日： 2017-10-16 - 公布日： 2018-03-16 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明涉及核电子学与核探测器技术，具体涉及一种新型数字化β+‑γ符合正电子湮没寿命谱系统，包括样品，放射源、雪崩二极管、真空腔室、三维移动装置、第一同轴电磁透镜、第二同轴电磁透镜、第一BaF2闪烁体探测器、第二BaF2闪烁体探测器、第一高压电源、第二高压电源、第三高压电源、前置放大器、第一恒比定时甄别器、第二恒比定时甄别器、第三恒比定时甄别器、符合器和数字示波器。该系统将放射源与样品分离，采用雪崩二极管取代塑料闪烁体作为起始信号产生装置，具备更高的时间分辨率，系统结构简单，测量方便，能实现高温、高应力和样品自身结构改变(拉伸、扭曲等)下的实时原位(in‑situ)测量。
一种新型数字化符合正电子湮没寿命谱系