专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]固定支架-CN201910844238.5在审
  • 吕祥云;曹祥錞 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2019-09-06 - 2021-03-09 - G06F1/18
  • 本发明公开一种固定支架,其包含底板、两侧板、复数个凸包以及至少两承托结构。侧板分别连接底板的相对两边缘,并沿一个方向垂直底板延伸。凸包设置于底板上,并朝侧板延伸的方向凸出。承托结构位于侧板之间,且分别设置于侧板。当固定支架容置储存卡时,凸包配置以承托储存卡,当固定支架容置硬盘时,承托结构配置以承托硬盘。
  • 固定支架
  • [发明专利]拆装装置-CN201610916640.6有效
  • 曹祥錞;彭盈超;简弘杰 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2016-10-20 - 2017-12-22 - B25B27/00
  • 本发明提供了一种拆装装置,用于从一壳体内拆换一内部电子插件,包括一承载座、一固定件、一致压环型件以及一拉勾杆件,所述承载座以可滑动方式设置于所述壳体内,所述固定件设置于所述承载座上,所述致压环型件位于所述固定件内,所述致压环型件具有一突出部,所述突出部以可切换方式止抵所述固定件的一内壁或容置于所述固定件的一避让部内,以改变所述致压环型件相对于所述内壁的一间距,所述拉勾杆件以可活动方式插入所述致压环型件内,所述拉勾杆件用以牵引所述致压环型件产生同步旋转,所述致压环型件通过所述突出部与所述内壁的作动施压所述拉勾杆件使其弹性变形,以使所述拉勾杆件带动所述内部电子插件与所述壳体分离。
  • 拆装装置
  • [发明专利]固定装置-CN201510851607.5在审
  • 时明鸿;曹祥錞 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2015-11-27 - 2017-06-09 - G01M7/00
  • 一种固定装置,可承受外部对象接近时产生的冲击力而不致损毁。固定装置包含有一止挡组件以及一拘束组件。该止挡组件包含一本体、一锁孔结构、一限位结构以及一止挡面结构。该本体具有相对一第一侧面与一第二侧面。该锁孔结构形成于该本体内。该限位结构设置在该第一侧面且插入一基座的一缝隙内,使该本体定位于该基座上。该止挡面结构形成于该第二侧面,用来承受该外部对象的冲击力。该拘束组件以可拆卸方式活动穿设该锁孔结构且锁附于该基座。
  • 固定装置
  • [发明专利]轨道机构-CN201510866025.4在审
  • 曹祥錞;时明鸿 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2015-11-30 - 2016-02-03 - F16C29/02
  • 本发明公开了一种轨道机构。其包含有一内轨道件、一第一释放件以及一第二释放件,该内轨道件具有一限位槽,该第一释放件活动设置在该内轨道件上,该第二释放件可旋转地设置在该第一释放件上,该第二释放件具有一限位部,该限位部随着该第二释放件相对该第一释放件的旋转而移出或移入该限位槽,以限制或允许该第一释放件相对该内轨道件的运动。
  • 轨道机构
  • [发明专利]辅助干涉检查的方法-CN201410709450.8在审
  • 倪崇胜;魏智斌;杨俊英;曹祥錞 - 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
  • 2014-11-28 - 2015-03-25 - G06F17/50
  • 本发明揭露两种辅助干涉检查的方法。第一种方法为取得记录有多个群组的组件设计,选择多个群组其中之一,以及进行被选择的群组与未被选择的多个群组其中之一间的干涉检查。第二种方法为取得记录有多个群组的组件设计,选择多个群组至少其中之二,以及重复进行被选择的多个群组其中之一与被选择的多个群组其中之另一间的干涉检查,直至所有被选择的多个群组彼此之间进行完干涉检查为止。在上述第一种以及第二种方法中,当干涉检查发现干涉点出现时,干涉点会被选择性地标示。
  • 辅助干涉检查方法
  • [发明专利]空间结构的干涉检查方法-CN201210182973.2无效
  • 倪崇胜;杨俊英;魏智斌;曹祥錞 - 英业达股份有限公司
  • 2012-06-05 - 2013-12-18 - G06F17/50
  • 本发明提供一种空间结构的干涉检查方法,该方法包括以下步骤。取得电路基板,其中电路基板已设定有第一限制高度,且电路基板中部分的多个坐标区域已分别设定多个第二限制高度,其中第二限制高度小于等于第一限制高度。依据坐标区域的第二限制高度以及第一限制高度以建立电路基板的限高区结构(Keep-out area)。依据限高区结构比对一基板置入空间中各个坐标所对应的高度,模拟并判断电路基板在置于所述基板置入空间时是否造成冲突。借此,使用者可快速检查电路基板与基板置入空间之间是否产生干涉、是否造成空间冲突。
  • 空间结构干涉检查方法

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