专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]芯片表面密集金线检测方法-CN202211174916.X在审
  • 周倩婷;王峥 - 景焱(江苏)智能装备有限公司
  • 2022-09-26 - 2022-12-16 - G06T7/00
  • 本发明涉及芯片检测及图像处理技术领域,公开了一种芯片表面密集金线检测方法,包括如下步骤:1、读入芯片表面密集金线的采集图像、检测区域和金线数量;2、将所述检测区域内的金线分成若干段,将每段金线拟合成直线段;3、在每条直线段区域等间隔选取径向若干截面,利用高斯曲线拟合得到每个截面的中心点位置;4、如果截面的中心点数量与金线数量相等,则将截面的中心点分配至对应直线段的点序列中,如果不相等,则将中心点作为备用点;5、将同一条直线段上所有点序列进行直线拟合;6、在检测区域的其他分段区域重复第3步至第5步;7、将拟合后的所有直线段连接成完整金线。本发明检测性能优越、鲁棒性强、兼容性好。
  • 芯片表面密集检测方法

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