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- [发明专利]投影型影像显示装置-CN201080068749.X有效
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平田浩二;松泽俊彦;佐藤正
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日立民用电子株式会社
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2010-09-30
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2013-04-24
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G03B21/10
- 本发明提供一种投影型影像显示装置,即使显示画面大型化,搬送、运输也容易,能够减少搬送所需的能量及排出碳量,对地球环境也有利。投影型影像显示装置将从影像投影单元投影的影像光向透射型屏幕的背面进行放大投影,该影像投影单元将由影像显示面显示的影像作为影像光进行投影,影像投影单元构成倾斜投影光学系统,并且,透射型屏幕(1)和平面反射镜(29)互相平行且各自独立地垂直地固定配置于包括侧板(17)的壳体部(C)上,而且,在透射型屏幕的背面侧,以覆盖平面反射镜的背面的方式可装卸地安装有能够折弯的后罩(30、31)。
- 投影影像显示装置
- [发明专利]信息再现装置和信息再现方法-CN201210254040.X无效
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石原一;中村悠介;永井裕
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日立民用电子株式会社
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2012-07-20
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2013-04-10
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G11B20/10
- 本发明提供一种信息再现装置和信息再现方法。包括:时钟生成单元,生成与输入数据同步的信道时钟;模拟/数字转换单元,对输入数据按N分频时钟进行模拟/数字转换;和进行维特比解码的维特比解码单元,其包括:分支度量运算单元,根据来自模拟/数字转换单元的输出与基准值的差来计算分支度量;ACS运算单元,对于基于N分频时钟的一个时刻份的数据的输入,按照状态以N比特单位进行转移的状态转移,将N分频时钟一个时刻份的分支度量与旧路径度量相加,比较相加结果的大小,选择小的结果,输出新路径度量和路径选择信号;最大似然路径判定单元,基于路径选择信号确定最大似然路径;和解码单元,根据最大似然路径进行解码并输出解码结果。
- 信息再现装置方法
- [发明专利]投影型显示装置-CN201210377776.6有效
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木村展之;平田浩二;池田英博
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日立民用电子株式会社
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2010-10-27
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2013-04-03
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G03B21/20
- 本发明提供一种投影型显示装置,适合采用固体光源来取代现有技术的灯作为其光源。该投影型显示装置,具有:射出白光的光源单元;将来自该光源单元的白光分离为红色R、绿色G、蓝色B三原色光的光分离光学系统;R、G、B的光调制单元,其对分离后的R、G、B的各偏振光分别根据影像信号进行光调制,形成R、G、B的各光学像;对由该R、G、B的光调制单元所形成的各光学像进行光合成的光合成单元;和将该合成后的光学像放大投影的投影单元,其中,上述光源单元,向上述R、G、B的光调制单元射出包含来自固体发光元件的激发光的从大致点光源射出的白光。
- 投影显示装置
- [发明专利]放射线检测器卡片-CN201180036162.5有效
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川内秀贵;须永义则;高桥勲
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日立民用电子株式会社
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2011-07-28
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2013-04-03
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G01T1/24
- 本发明的放射线检测器卡片在基板上具备多个半导体元件,其中,所述半导体元件各自具有在一个主表面设置的多个第1电极和在另一个主表面设置的第2电极,所述基板具有与所述多个第1电极的各个电连接的第1电极用布线、和将来自所述多个半导体元件的信号传递到外部的电路的卡片边缘部,所述第2电极与对所述多个半导体元件的各个进行识别的第2电极用标识符相对应,所述多个第1电极与对该多个第1电极的各个进行识别的第1电极用标识符相对应,所述第1电极用布线将在所述多个半导体元件中的一个半导体元件中与一个所述第1电极用标识符相对应的所述第1电极、和在另一个半导体元件中与一个相同的所述第1电极用标识符相对应的所述第1电极进行电连接。
- 放射线检测器卡片
- [发明专利]光盘装置-CN201210225736.X有效
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今川制时
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日立民用电子株式会社
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2012-06-29
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2013-03-27
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G11B7/09
- 本发明提供一种光盘装置,在短时间内稳定地减少经过缺陷后的控制误差,实现可靠性高的致动器控制。该光盘装置包括:具有第一数字滤波器的聚焦控制单元;具有第二数字滤波器的跟踪控制单元;聚焦致动器驱动单元;跟踪致动器驱动单元;检测光盘上的缺陷的缺陷检测单元;和对上述聚焦控制单元、上述跟踪控制单元和上述缺陷检测单元进行控制的系统控制器,上述系统控制器基于上述缺陷检测单元的输出,保持上述聚焦控制单元和上述跟踪控制单元的至少一方的输入和输出,在解除该保持时对进行了保持的控制单元所具有的上述数字滤波器的延迟存储器设定初始值。
- 光盘装置
- [发明专利]放射线检测装置-CN201180034124.6有效
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柳主鉉;山田直之;井上慎一;蛭田昭浩;大久保千寻
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日立民用电子株式会社
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2011-07-15
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2013-03-20
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G01T1/24
- 本发明提供一种在稠密地配置放射线检测器的情况下也能够减小不灵敏区域的放射线检测装置。放射线检测装置将夹着基板(20)的半导体元件(10)之间的距离设为XG1、将从一个放射线检测器(1)的半导体元件(10)到与该半导体元件(10)相对置且与一个放射线检测器(1)相邻接的其它的放射线检测器(1)的半导体元件(10)为止的距离设为XG2,将排列在Y方向的半导体元件(10)之间的距离设为YG1,将半导体元件间距(110)的横间距设为a、纵间距设为b、半导体元件(10)的放射线入射的面的宽度设为c、长度设为d、位于半导体元件(10)的两端部的元件内像素区域(10a)的长度设为e、被位于多个半导体元件(10)的两端部的元件内像素区域(10a)夹住的多个元件内像素区域(10a)的长度设为f的情况下,满足如下关系:c=a-(XG1+XG2)/2、d=b-YG1=2e+(n-2)f、e=b/n-YG1/2、f=b/n。
- 放射线检测装置
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